测试工程加载结果的预测方法、装置、设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:46586048 阅读:1 留言:0更新日期:2025-10-10 21:22
本公开提供了一种测试工程加载结果的预测方法、装置、设备和存储介质,基于待加载的测试工程文件的配置参数生成用于表征各子文件在测试板卡内存芯片中的分布情况的文件索引信息,基于文件索引信息和内存芯片的内存模型,通过离线的方式模拟工程文件加载,得到文件加载预测信息和文件加载预测结果,若文件模拟加载成功则向测试板卡发送测试工程文件以进行文件加载,无需进行实际的文件加载即可提前判断是否能够加载成功,并且在文件模拟加载失败时进行配置参数调整,避免在实际加载后调整配置参数并进行文件二次加载,减少了测试板卡的硬件损耗,并且可以提高文件加载效率进而提高芯片测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及自动化测试技术,尤其是一种测试工程加载结果的预测方法、装置、设备和存储介质


技术介绍

1、在集成电路(integrated circuit,ic)测试的过程中,主要包括测试工程创建、测试工程文件调试、测试工程加载、测试工程文件动态修改调试几个阶段。其中,测试工程文件通常包括用于描述待测芯片输入值以及预期输出值的文件(例如pattern文件)、用于描述待测芯片电气配置参数的文件(例如level文件)、用于描述测试信号的时序配置参数的文件(例如timing文件)等,上述几种文件共同描述完整的测试环境及测试任务。

2、在芯片测试之前,测试系统需按照指定规则解析测试工程文件,将测试工程文件加载至测试板卡中对应的内存芯片上。在芯片测试过程中,由于需要适配一些特殊时序需求,通常需要根据芯片测试情况动态调整测试工程文件,并将修改后的测试工程文件重新加载至测试板卡的内存芯片中。

3、然而,一些测试工程所携带的工程数据较多,其测试工程文件具有文件数量多、单个文件占用内存大的特点,文件加载时间较长,并且可能存在由于分配的内存空间不足导致文件本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试工程加载结果的预测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述至少一个内存芯片的内存模型以及所述文件索引信息进行文件加载模拟,得到文件加载预测信息,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述至少一个内存芯片的内存模型以及所述文件索引信息进行文件加载模拟,得到文件加载预测信息和文件加载预测结果,包括:

4.根据权利要求1至3任一所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

5.根据权利要求1至3任一所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

6.根据权利要求5所述的方法...

【技术特征摘要】

1.一种测试工程加载结果的预测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述至少一个内存芯片的内存模型以及所述文件索引信息进行文件加载模拟,得到文件加载预测信息,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述至少一个内存芯片的内存模型以及所述文件索引信息进行文件加载模拟,得到文件加载预测信息和文件加载预测结果,包括:

4.根据权利要求1至3任一所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

5.根据权利要求1至3任一所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:杜锐
申请(专利权)人:杭州长川科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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