电路板测试治具及电路板测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种电路板测试治具及电路板测试系统。电路板测试治具包括治具底箱、升降组件、产品载板、探针组件及主控模块。升降组件用于向下按压产品载板。产品载板位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接，且产品载板用于放置待测电路板并设有与待测电路板中测试点对应的若干第一探针孔。探针组件包括探针。探针的第一端与主控模块电连接，探针的第二端用于在产品载板被压下后穿过第一探针孔以接触测试点。主控模块用于通过探针接收并处理待测电路板的测试数据。该电路板测试治具及电路板测试系统能够实现机械化检测电路板的质量，克服了传统检测方法利用人眼来检测螺母线圈电路板质量的问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路板测试
，特别是涉及一种电路板测试治具及电路板测试系统。
技术介绍
电路板，是电子产品的重要部件之一，其具有可靠性高、一致性好、机械强度高、重量轻、体积小、易于标准化等优点，已经广泛应用于电子手表、计算器、计算机、通信设备、电子雷达系统等电子产品。因此在电子产品的研制过程中，影响电子产品质量的最基本因素之一是电路板的设计和制造。在传统的螺母线圈电路板检测方法中，通常都是通过放大镜目检螺母线圈电路板上的螺母线圈之间是否有短路、开路现象，然后判断螺母线圈电路板的质量优劣。例如若进行螺母线圈的通断检查和Q值的大小判断时，可先利用万用表电阻档测量螺母线圈电路板的直流电阻，再与原设定阻值或标称阻值相比较。若所测阻值比原设定阻值或标称阻值增大许多，甚至指针不动(阻值趋向无穷大X)即可判断螺母线圈电路板断线；若所测阻值极小，则判定是严重短路，从而判定此螺母线圈电路板质量差无法使用；若所测阻值与原设定阻值或标称阻值相差不大，则可判定此螺母线圈电路板质量为优。然而上述传统的检测方法虽可施行，但是该方法由于是利用人的肉眼来检验螺母线圈电路板中元器件电路的开路、短路等情况，因此检测效率低，劳动强度大，误检率也高，不利于工厂大批量生产及品质检测。
技术实现思路
基于此，有必要针对如何克服传统检测方法利用人眼来检测螺母线圈电路板质量的问题，提供一种电路板测试治具及电路板测试系统。一种电路板测试治具，包括治具底箱、升降组件、产品载板、探针组件及主控模块；其中，所述升降组件安装于治具底箱上方并与治具底箱连接，所述产品载板、探针组件及主控模块安装于治具底箱；所述升降组件用于向下按压产品载板；所述产品载板位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接，且所述产品载板用于放置待测电路板并设有与待测电路板中测试点对应的若干第一探针孔；所述探针组件包括探针；所述探针的第一端与主控模块电连接，所述探针的第二端用于在所述产品载板被压下后穿过第一探针孔以接触所述测试点；所述主控模块用于通过探针接收并处理待测电路板的测试数据。在其中一个实施例中，所述升降组件包括升降机构、压板及安装于所述治具底箱上的固定板；所述升降机构安装于固定板上，并用于带动所述压板上下移动；所述压板安装于升降机构中能够移动的结构底部，且所述压板位于产品载板的上方。在其中一个实施例中，所述升降组件在所述压板的两端分别设有滑动固定柱及滑动棒；所述滑动固定柱用于将滑动棒固定于所述固定板上；所述两个滑动棒分别穿过压板的两端，且所述压板在升降机构的带动下沿滑棒上下移动。在其中一个实施例中，所述升降机构为大夹手升降机构。在其中一个实施例中，所述产品载板设有用于对待测电路板进行定位的凹槽。在其中一个实施例中，所述探针组件还包括探针载板，且所述探针载板设有用于放置探针的若干第二探针孔。在其中一个实施例中，所述产品载板与探针组件通过设有弹簧的定位柱连接。在其中一个实施例中，所述主控模块包括相互连接的信号转接板和主控板；所述信号转接板与所述探针的第一端连接，且所述信号转接板用于通过探针接收待测电路板的测试数据，并将所述测试数据发送至主控板；所述主控板，用于处理所述测试数据。在其中一个实施例中，所述电路板测试治具还包括相连接的交流输入模块和直流电源模块；所述直流电源模块，用于将交流输入模块输出的交流电转换为直流电并向所述主控模块供电。一种电路板测试系统，包括PC端和上述电路板测试治具，且所述电路板测试治具设有接口并通过所述接口与PC端通信。上述电路板测试治具及电路板测试系统具有的有益效果为：在该电路板测试治具及电路板测试系统中，升降组件用于向下按压产品载板。产品载板位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接，且产品载板用于放置待测电路板并设有与待测电路板测试点对应的若干第一探针孔。因此当升降组件向下按压产品载板后，产品载板向探针组件移动，直至探针的第二端穿过第一探针孔并接触到待测电路板的测试点。由于探针的第一端与主控模块电连接，故探针即可将待测电路板的测试数据发送至主控模块，进而由主控模块进行处理，从而能够检测待测电路板的质量优劣。因此，该电路板测试治具及电路板测试系统能够实现机械化检测电路板的质量，克服了传统检测方法利用人眼来检测螺母线圈电路板质量的问题，从而简化了人工操作，提高了检测精度和效率，更利于工厂大批量生产及品质检测。附图说明图1为一实施例提供的电路板测试治具的正视示意图；图2为图1所示实施例的电路板测试治具的左视示意图；图3为图1所示实施例的电路板测试治具的俯视示意图；图4为图1所示实施例的电路板测试治具的电路图。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本技术。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。如图1至图3所示，本实施例提供的电路板测试治具包括：治具底箱90、升降组件、产品载板20、探针组件及主控模块。其中，升降组件安装于治具底箱90上方并与治具底箱90连接。产品载板20、探针组件及主控模块安装于治具底箱90。升降组件能够上下移动，并用于向下按压产品载板20。产品载板20位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接。具体的，产品载板20与探针组件通过设有弹簧的定位柱连接，从而能够保证两者处于平衡状态。当然，产品载板20与探针组件也可采用其他方式连接，只要两者之间能够弹性连接并保持平衡即可。同时，产品载板20用于放置待测电路板22并设有与待测电路板22中的测试点对应的若干第一探针孔。待测电路板22则放置于这些第一探针孔的上方。探针组件安装于治具底箱90的表面。探针组件包括探针，且探针的排列方式根据被测电路板的gerber文件设置。探针的第一端与主控模块电连接，例如探针的第一端与主控模块通过线缆连接。探针的第二端用于在产品载板20被压下后穿过第一探针孔以接触测试点。因此，探针的第二端至少需露出探针组件的表面，以便在产品载板20被压下后穿过第一探针孔从而接触测试点。主控模块安装于治具底箱90的内部，且主控模块用于通过探针接收并处理待测电路板22的测试数据。因此对于上述电路板测试治具，当升降组件向下按压产品载板20后，产品载板20向探针组件移动，直至探针的第二端穿过第一探针孔并接触到待测电路板22的测试点。由于探针的第一端与主控模块电连接，故探针即可将待测电路板22的测试数据发送至主控模块，进而由主控模块进行处理，从而能够检测待测电路板22的质量优劣。因此，该电路板测试治具能够实现机械化检测电路板的质量，克服了传统检测方法利用人眼来检测螺母线圈电路板质量的问题，从而简化了人工操作并降低了对技术人员的技术和素质要求，提高了检测精度和效率，更利于工厂大批量生产及品质检测。具体的，如图2所示，上述升本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路板测试治具，其特征在于，包括治具底箱、升降组件、产品载板、探针组件及主控模块；其中，所述升降组件安装于治具底箱上方并与治具底箱连接，所述产品载板、探针组件及主控模块安装于治具底箱；所述升降组件用于向下按压产品载板；所述产品载板位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接，且所述产品载板用于放置待测电路板并设有与待测电路板中测试点对应的若干第一探针孔；所述探针组件包括探针；所述探针的第一端与主控模块电连接，所述探针的第二端用于在所述产品载板被压下后穿过第一探针孔以接触所述测试点；所述主控模块用于通过探针接收并处理待测电路板的测试数据。

【技术特征摘要】
1.一种电路板测试治具，其特征在于，包括治具底箱、升降组件、产品载板、探针组件及主控模块；其中，所述升降组件安装于治具底箱上方并与治具底箱连接，所述产品载板、探针组件及主控模块安装于治具底箱；所述升降组件用于向下按压产品载板；所述产品载板位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接，且所述产品载板用于放置待测电路板并设有与待测电路板中测试点对应的若干第一探针孔；所述探针组件包括探针；所述探针的第一端与主控模块电连接，所述探针的第二端用于在所述产品载板被压下后穿过第一探针孔以接触所述测试点；所述主控模块用于通过探针接收并处理待测电路板的测试数据。2.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，所述升降组件包括升降机构、压板及安装于所述治具底箱上的固定板；所述升降机构安装于固定板上，并用于带动所述压板上下移动；所述压板安装于升降机构中能够移动的结构底部，且所述压板位于产品载板的上方。3.根据权利要求2所述的电路板测试治具，其特征在于，所述升降组件在所述压板的两端分别设有滑动固定柱及滑动棒；所述滑动固定柱用于将滑动棒固定于所述固定板上；所述两个滑动棒分别穿过压板的两端，且所述压板在升降机构的带动下沿滑棒上下移动。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：张立国，
申请(专利权)人：深圳市科美集成电路有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44