一种开关机测试治具制造技术

技术编号:15746481 阅读:690 留言:0更新日期:2017-07-03 01:53
本发明专利技术提供一种开关机测试治具,用于对待测主板进行开关机测试,其包括嵌入式处理器、电连接于所述嵌入式处理器的IO扩展板以及通过所述IO扩展板与所述嵌入式处理器电连接的触摸显示屏、AC继电器、DC继电器、瞬断继电器和掉电检测模块。本发明专利技术能够实现主板开关机的自动化测试,并能够提高开关机测试的测试效率和测试精度。

Switch machine test jig

The present invention provides a test fixture switch, switch machine for testing the motherboard tested, including embedded processor, electrically connected to the embedded processor IO expansion board and expansion board and the embedded processor is electrically connected with the touch screen, AC relay, DC relay, transient fault relay and power failure detection module through the IO. The invention can realize the automatic test of the mainboard switch machine, and can improve the testing efficiency and the testing precision of the switch machine test.

【技术实现步骤摘要】
一种开关机测试治具
本专利技术涉及计算机
,尤其涉及一种开关机测试治具。
技术介绍
在计算机主板的设计制造过程中,计算机主板的可靠性测试是一项非常重要的测试内容,这其中就包括计算机的开关机测试,而目前的开关机测试需要测试人员通过手动进行测试,尽管这项测试并没有难度,但是这项测试往往需要进行较多次数(例如500次以上)的测试。在实现本专利技术的过程中,专利技术人发现现有技术中至少存在如下技术问题:一方面,人工进行开关机测试造成了人力浪费,并延长了不必要的测试时间;另一方面,由于电源的瞬断功能都是在毫秒级时间内完成的,导致在人工进行开关机测试的过程中,电源的瞬断功能无法实现精准测试。
技术实现思路
本专利技术提供的开关机测试治具,能够实现开关机的自动化测试,同时提高了开关机测试的测试精度。本专利技术提供一种开关机测试治具,用于对待测主板进行开关机测试,其包括嵌入式处理器、电连接于所述嵌入式处理器的IO扩展板以及通过所述IO扩展板与所述嵌入式处理器电连接的触摸显示屏、AC继电器、DC继电器、瞬断继电器和掉电检测模块;其中,所述IO扩展板的COM接口与所述待测主板的COM接口连接,用于实现所述嵌入式处理器与所述待测主板之间测试指令与数据的传送;所述IO扩展板的复位接口与所述待测主板的复位插针连接,用于执行对所述待测主板的复位功能测试;所述IO扩展板的电源按钮接口与所述待测主板的电源按钮插针连接,用于执行对所述主板的电源按钮功能测试;所述AC继电器的输入端与交流电源连接,其输出端与所述待测主板的交流电源输入端连接,用于控制所述待测主板的上下电,以执行对所述待测主板的AC电源的开关机测试;所述DC继电器的输入端与直流电源连接,其输出端与所述待测主板的直流电源输入端连接,用于控制所述待测主板的上下电,以执行对所述待测主板的DC电源的开关机测试;所述瞬断继电器的输入端与所述DC继电器的输入端连接,所述瞬断继电器的输出端与所述DC继电器的输出端连接,用于控制所述待测主板的直流电源的上下电,以执行所述待测主板的电源瞬断测试。所述掉电检测模块,通过所述待测主板的COM接口的TXD管脚的信号电平来确定所述待测主板的开关机状态;所述触摸显示屏,用于配置开关机测试的测试参数、显示开关机测试的测试情况和测试结果。可选地,所述开关机测试治具还包括与所述IO扩展板连接的语音报警器,用于对测试异常情况进行报警。可选地,所述开关机测试治具还包括与所述IO扩展板连接的实时时钟模块,用于为所述嵌入式处理器提供时钟更新。可选地,所述开关机测试治具还包括与所述嵌入式处理器连接的至少一个USB接口,用于连接其他外部设备。可选地,所述开关机测试治具还包括与所述嵌入式处理器连接的一个网络接口,其中,所述网络接口用于连接远端计算机,以实现通过所述远端计算机来远程配置开关机测试参数以及监控开关机测试情况和测试结果。可选地,所述嵌入式处理器为RaspberryPiB的ARM处理器。可选地,所述触摸显示屏为3.5英寸的TFT液晶显示屏。本专利技术实施例提供的开关机测试治具,与现有技术相比,一方面,其操作简单,能够实现主板开关机的自动化测试,并提高了主板开关机测试的测试精度,尤其是提高了主板电源瞬断功能测试的测试效率和测试精度;另一方面,其能够提高图形化的显示与配置,而且针对电源按钮功能测试支持手动测试和自动测试两种模式,使得开关机测试更加灵活。附图说明图1为本专利技术一实施例开关机测试治具的结构示意图;图2为本专利技术另一实施例开关机测试治具的结构示意图;图3-图10为本专利技术的开关机测试治具所完成功能的示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。本专利技术提供一种开关机测试治具,如图1所示,用于对待测主板21进行开关机测试,所述开关机测试治具包括嵌入式处理器10、电连接于所述嵌入式处理器10的IO扩展板11以及通过所述IO扩展板11与所述嵌入式处理器10电连接的触摸显示屏12、AC继电器13、DC继电器14、瞬断继电器15和掉电检测模块16。所述IO扩展板11的COM接口与所述待测主板21的COM接口连接,用于实现所述嵌入式处理器10与所述待测主板21之间测试指令与数据的传送;所述IO扩展板11的复位接口与所述待测主板21的复位插针连接,用于执行对所述待测主板21的复位功能测试;所述IO扩展板11的电源按钮接口与所述待测主板21的电源按钮插针连接,用于执行对所述待测主板21的电源按钮功能测试;所述AC继电器13的输入端与交流电源22连接,其输出端与所述待测主板21的交流电源输入端连接,用于控制所述待测主板21的上下电,以执行对所述待测主板21的AC电源的开关机测试;所述DC继电器14的输入端与直流电源23连接,其输出端与所述待测主板21的直流电源输入端连接,用于控制所述待测主板的上下电,以执行对所述待测主板21的DC电源的开关机测试;所述瞬断继电器15的输入端与所述DC继电器14的输入端连接,所述瞬断继电器15的输出端与所述DC继电器14的输出端连接,用于控制所述待测主板21的直流电源的上下电,以执行所述待测主板21的电源瞬断测试。所述掉电检测模块16,通过所述待测主板21的COM接口的TXD管脚的信号电平来确定所述待测主板21的开关机状态;所述触摸显示屏12,用于配置开关机测试的测试参数、显示开关机测试的测试情况和测试结果。本专利技术实施例提供的开关机测试治具,与现有技术相比,一方面,其操作简单,能够实现主板开关机的自动化测试,并提高了主板开关机测试的测试精度,尤其是提高了主板电源瞬断功能测试的测试效率和测试精度;另一方面,其能够提高图形化的显示与配置,而且针对电源按钮功能测试支持手动测试和自动测试两种模式,使得开关机测试更加灵活。本专利技术实施例提供的开关机测试治具适用于主板产品的研发测试阶段,其通过研发测试阶段通过对主板开关机及重启的自动化测试能够提前发现问题,从而使得在测试主板的开关机及重启测试上更加体现可靠测试,将主板产品可能出现的开关机问题暴露在测试阶段,可以使主板产品长期使用过程中开关机导致的故障率降到最低;此外,由于本专利技术实施例提供的开关机测试治具还具有统计主板开关机及重启测试所用时长图表统计,为主板开关机时长提供更加直观化分析。可选地,如图2所示,所述开关机测试治具还包括与所述IO扩展板11连接的语音报警器17和实时时钟模块18以及与所述嵌入式处理器10连接的至少一个USB接口19和一个网络接口22。其中,所述语音报警器17,用于对测试异常情况进行报警;所述实时时钟模块18,用于为所述嵌入式处理器10提供时钟更新;所述至少一个USB接口19,用于连接其他外部设备,例如键盘、U盘等;所述网络接口22用于连接远端计算机20,以实现通过所述远端计算机20来远程配置开关机测试参数以及监控开关机测试情况和测试结果。可见,开关机测试治具的测试数据可以通过所述网络接口22传送到远端本文档来自技高网...
一种开关机测试治具

【技术保护点】
一种开关机测试治具,用于对待测主板进行开关机测试,其特征在于,包括嵌入式处理器、电连接于所述嵌入式处理器的IO扩展板以及通过所述IO扩展板与所述嵌入式处理器电连接的触摸显示屏、AC继电器、DC继电器、瞬断继电器和掉电检测模块;其中,所述IO扩展板的COM接口与所述待测主板的COM接口连接,用于实现所述嵌入式处理器与所述待测主板之间测试指令与数据的传送;所述IO扩展板的复位接口与所述待测主板的复位插针连接,用于执行对所述待测主板的复位功能测试;所述IO扩展板的电源按钮接口与所述待测主板的电源按钮插针连接,用于执行对所述主板的电源按钮功能测试;所述AC继电器的输入端与交流电源连接,其输出端与所述待测主板的交流电源输入端连接,用于控制所述待测主板的上下电,以执行对所述待测主板的AC电源的开关机测试;所述DC继电器的输入端与直流电源连接,其输出端与所述待测主板的直流电源输入端连接,用于控制所述待测主板的上下电,以执行对所述待测主板的DC电源的开关机测试;所述瞬断继电器的输入端与所述DC继电器的输入端连接,所述瞬断继电器的输出端与所述DC继电器的输出端连接,用于控制所述待测主板的直流电源的上下电,以执行所述待测主板的电源瞬断测试。所述掉电检测模块,通过所述待测主板的COM接口的TXD管脚的信号电平来确定所述待测主板的开关机状态;所述触摸显示屏,用于配置开关机测试的测试参数、显示开关机测试的测试情况和测试结果。...

【技术特征摘要】
1.一种开关机测试治具,用于对待测主板进行开关机测试,其特征在于,包括嵌入式处理器、电连接于所述嵌入式处理器的IO扩展板以及通过所述IO扩展板与所述嵌入式处理器电连接的触摸显示屏、AC继电器、DC继电器、瞬断继电器和掉电检测模块;其中,所述IO扩展板的COM接口与所述待测主板的COM接口连接,用于实现所述嵌入式处理器与所述待测主板之间测试指令与数据的传送;所述IO扩展板的复位接口与所述待测主板的复位插针连接,用于执行对所述待测主板的复位功能测试;所述IO扩展板的电源按钮接口与所述待测主板的电源按钮插针连接,用于执行对所述主板的电源按钮功能测试;所述AC继电器的输入端与交流电源连接,其输出端与所述待测主板的交流电源输入端连接,用于控制所述待测主板的上下电,以执行对所述待测主板的AC电源的开关机测试;所述DC继电器的输入端与直流电源连接,其输出端与所述待测主板的直流电源输入端连接,用于控制所述待测主板的上下电,以执行对所述待测主板的DC电源的开关机测试;所述瞬断继电器的输入端与所述DC继电器的输入端连接,所述瞬断继电器的输出端与所述DC继电器的输出端连接,用于控制所述待测主板的直流电源的上下电,以执行所述待测主板的电源瞬断测试。所述掉电...

【专利技术属性】
技术研发人员:方小明黄叶胜方凯平薛春花陈耿生
申请(专利权)人:研祥智能科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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