驱动受测电子元件的测试脉冲的产生方法与系统技术方案

一种驱动受测电子元件的测试脉冲的产生方法与系统，在决定频率远小于传输时脉的测试时脉以及与测试时脉相应的预期连续脉冲后，依据相应于测试时脉的预期连续脉冲与传输时脉来产生复数个连续数据位元，并在将这些连续数据位元转换成一序列数据串流之后，再将此序列数据串流依传输时脉输出，以形成相应于测试时脉的连续测试脉冲。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关于一种测试脉冲的产生方法与系统，特别是有关于一种可程序化的测试脉冲的产生方法与系统。
技术介绍
在集成电路的测试上主要分为下列三种直流电参数测试(directcurrent parametric test)、动态功能测试(dynamic functional test)与交流电参数测试(alternating current test)，其中动态功能测试较为复杂，也较为重要。为了测试某一装置的动态功能，需要提供一驱动器(driver)，以便用来产生驱动该测试装置的脉冲(pulses)；一比较器(comparator)，以便用来检查该装置的输出(output)；与一电源供应器(power supply)，以便用来供应测试装置稳定的电流。当驱动器产生的测试脉冲送达被测试装置后，此测试脉冲将会驱动测试装置，并且由测试装置产生相应的输出脉冲，此输出脉冲则会经由比较器来检查是否与所预期的相同，以判断装置是否正常。因此，当测试脉冲需要随着被测试装置的不同而改变时，这意味着驱动器需要适应被测试装置来改变，然而用来测试一个被测试装置的测试脉冲往往多而复杂，并且不同被测试装置所需要的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种驱动受测电子元件的测试脉冲的产生方法，其特征在于，包含：决定一传输时脉、一预期连续脉冲以及与该预期连续脉冲相应的一测试时脉，该测试时脉用以提供给一受测电子元件，其中该传输时脉的频率大于该测试时脉的频率；产生复数个连续数据 位元，该复数个数据位元依据该预期连续脉冲与该传输时脉所产生；转换该复数个连续数据位元成为一序列数据串流；以及输出该序列数据串流至该受测电子元件，该序列数据串流依据该传输时脉以固定频率输出固定位数来形成该预期连续脉冲。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张世宝，林殿方，
申请(专利权)人：京元电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]