本实用新型专利技术公开了一种电子元件外观检测装置，其包含基座、输送机构、供料机构、传感器、多个取像模块及控制器。输送机构包含旋转盘、马达以及角度编码器，旋转盘呈水平配置，马达设置于基座且连接旋转盘而能够驱动旋转盘水平自转，角度编码器电性连接马达。供料机构包含震动盘以及储料桶，震动盘设置于基座，储料桶具有朝向震动盘内配置的供料道，震动盘延伸出下料轨道且下料轨道的末端延伸至旋转盘的上方。传感器对应旋转盘配置且与下料轨道的末端相邻。取像模块设置于基座上，各取像模块分别邻近环绕旋转盘配置。控制器电性连接编码器、传感器以及各取像模块。藉由角度编码器而能够对旋转盘的旋转方向上精确定位，确保检测的准确率。
【技术实现步骤摘要】
本技术是有关于电子元件外观检测装置，尤其是一种用于检测微尺寸电子元件的电子元件外观检测装置。
技术介绍
现有的电子元件外观检测装置一般是藉由震动盘将电子元件整列后，排列至一旋转盘上，旋转盘将电子元件输送至镜头前取像以供检测外观，再藉由一分料机构依据检测结果分类收集。现有技术存在下述的缺点需要改善。当旋转盘移动时，重量太轻的电子元件无法固定在旋转盘上电子元件，其随着旋转盘移动而产生徧移，因此使得镜头取像的准确率低落，因此现有的震动盘并不适用微尺寸料件。现有的震动盘内多设有绕行多层的下料轨道，藉此延长料件输送的距离，故能够容纳较多的料件以利于控制出料速度。但是微尺寸料件输送过长的距离会容易磨损，因此现有的震动盘并不适用微尺寸料件。再者，现有的电子元件外观检测装置是藉由对应各镜头设置传感器来感测电子元件的位置以进行取像，分料机构同样设有传感器以作为驱动时间的判定，但是各传感器皆会造成误差，多个传感器进行多次定位更会造成误差加成。有鉴于此，本创作人遂针对上述现有技术，特潜心研究并配合学理的运用，尽力解决上述的问题点，即成为本创作人改良的目标。
技术实现思路
本技术提供一种用于检测微尺寸电子元件的电子元件外观检测装置。本技术提供一种电子元件外观检测装置，其包含一基座、一输送机构、一供料机构、一传感器、多个取像模块及一控制器。输送机构包含一旋转盘、一马达以及一角度编码器，旋转盘呈水平配置，马达设置于基座且连接旋转盘而能够驱动旋转盘水平自转，角度编码器电性连接马达。供料机构包含一震动盘以及一储料桶，震动盘设置于基座，储料桶具有朝向震动盘内配置的一供料道，震动盘延伸出一下料轨道且下料轨道的末端延伸至旋转盘的上方。传感器对应旋转盘配置且与下料轨道的末端相邻。多个取像模块设置于基座上，各取像模块分别邻近环绕旋转盘配置。控制器电性连接编码器、传感器以及各取像模块。较佳地，供料机构包含一去静电风扇且去静电风扇的出风方向朝向震动盘配置；输送机构包含一静电刷，静电刷设置在基座且接触旋转盘；震动盘内形成有一整列轨道，整列轨道延伸呈单圈环形且整列轨道连接下料轨道；震动盘与基座之间设置有一缓冲器；传感器为遮断式光学传感器。较佳地，取像模块可以包含一摄影镜头且摄影镜头朝向旋转盘配置，取像模块包含一直立滑轨，直立滑轨的纵向平行于旋转盘的正向配置，且直立滑轨上可滑动地设置一个摄影镜头。较佳地，取像模块也可以包含一摄影镜头以及一反射镜，摄影镜头朝向反射镜配置，且反射镜对应旋转盘配置。较佳地，电子元件外观检测装置更包含一分料机构，分料机构包含设置在基座上的多个集料盒以及对应各集料盒的多个吹嘴，各吹嘴分别朝向相对应的集料盒配置且旋转盘介于各吹嘴与相对应的集料盒之间，各吹嘴上分别设置有一电磁阀且各电磁阀分别电性连接控制器；各集料盒内分别设有一活动缓冲挡板，且各吹嘴分别朝向相对应的集料盒内的活动缓冲挡板配置；活动缓冲挡板可以枢设在集料盒内；各吹嘴分别藉由一枢转轴可枢转地连接基座，而且各枢转轴与旋转盘相互平行配置。本技术的电子元件外观检测装置藉由角度编码器而能够对旋转盘的旋转方向上精确定位，因此只需要藉由一个传感器定位电子元件行经路径的原点之后即能够精确推断电子元件到达各取像模块以及分料机构的时间。【附图说明】图1为本技术较佳实施例的电子元件外观检测装置的立体示意图(一)。图2为本技术较佳实施例的电子元件外观检测装置的立体示意图(二)。图3为本技术较佳实施例的电子元件外观检测装置的立体示意图(三)。图4为本技术较佳实施例的电子元件外观检测装置的立体示意图(四)。图5为本技术较佳实施例的电子元件外观检测装置的俯视图。图6为本技术较佳实施例的电子元件外观检测装置之中的输送机构及供料机构的示意图。图7为本技术较佳实施例的电子元件外观检测装置之中的分料机构的一立体示意图。图8为本技术较佳实施例的电子元件外观检测装置之中的分料机构的另一立体示意图。其中，附图标记100 基座200 输送机构210传感器220旋转盘230 马达231驱动轴240 静电刷300 供料机构310震动盘311 整列轨道320储料桶321供料道330下料轨道400 取像模块410 摄影镜头420反射镜430直立滑轨500分料机构510集料盒511活动缓冲挡板520吹嘴521电磁阀522枢转轴【具体实施方式】参阅图1至图5，本技术的较佳实施例提供一种电子元件外观检测装置，其包含有一基座100、一输送机构200、一供料机构300、一传感器210、多个取像模块400、一控制器(图中未示)以及一分料机构500。本实施例中不限定基座100的形式。参阅图6，输送机构200设置在基座100上，于本实施例中，输送机构200包含有一旋转盘220、一马达230、一角度编码器(图中未不)以及一静电刷240。于本实施例中，马达230较佳地是直驱式马达(Direct Drive Motor, DD motor)，马达230设置于基座100上且其驱动轴231为直立配置。于本实施例中，旋转盘220为玻璃制的圆环状透明盘，旋转盘220呈水平配置而且动力连接马达230，旋转盘220的圆心配置马达230的驱动轴231延伸在线，旋转盘220藉此能够被马达230驱动而水平自转。角度编码器内建有圆形角度坐标，角度编码器电性连接马达230而能够取得旋转盘220 (或马达230)的角度位置。静电刷240设置在基座100且静电刷240接触旋转盘220，当旋转盘220旋转时能够与静电刷240相互摩擦而使旋转盘220上产生正电荷。供料机构300设置在基座100上，其包含有一震动盘310、一储料桶320以及一去静电风扇(图中未示)。于本实施例中，震动盘310及储料桶320较佳地皆设置于基座100，而且震动盘310与基座100之间设置有一缓冲器(图中未示)。储料桶320用以容纳待检测的电子元件(图中未示)，储料桶320具有一供料道321藉以送出储料桶320内的电子元件，供料道321朝向震动盘310内配置而能够将电子元件投入震动盘310内。但本技术不限定储料桶320设置于基座100，例如储料桶320可以附设在震动盘310的上方且储料桶320的供料道321朝向震动盘310内配置。震动盘310内形成有一整列轨道311，整列轨道311延伸呈单圈环形，投入震动盘310内的电子元件落入整列轨道311之中并且被震动盘310震动而一列排列于整列轨道311之中。本技术藉由控制供料道321的出料速度来控制电子元件的下料速度，电子元件在震动盘310内的整列轨道311经过单圈路径，因此能够缩短电子元件被震动的时间，藉此避免震动损坏。缓冲器能够减少震动盘310震动时造成基座100摇晃，因此能够避免旋转盘220上的电子元件抖动影响取像精确度。去静电风扇的出风方向朝向震动盘310配置，电子元件多为环氧树脂(Eploxy)封装，因此容易带有负电荷，去静电风扇能够去除震动盘310内电子元件所带的负电荷。整列轨道311延伸出与其相连接的一下料轨道330，完成整列的电子元件被送入下料轨道330，不带电荷的电子元件通过下料轨道330时与下料轨道330摩擦，因此当电子元件被输送到达下料轨道330的末本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电子元件外观检测装置，其特征在于，包含：一基座，一输送机构，包含一旋转盘、一马达以及一角度编码器，该旋转盘呈水平配置，该马达设置于该基座且连接该旋转盘而能够驱动该旋转盘水平自转，该角度编码器电性连接该马达；一供料机构，包含一震动盘以及一储料桶，该震动盘设置于该基座，该储料桶具有朝向该震动盘内配置的一供料道，该震动盘延伸出一下料轨道且该下料轨道的末端延伸至该旋转盘的上方；一传感器，对应该旋转盘配置且与该下料轨道的末端相邻；多个取像模块，设置于该基座上，各取像模块分别邻近环绕该旋转盘配置；及一控制器，电性连接该编码器、该传感器以及各该取像模块。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张仁明，陈正锴，刘子诚，林轩民，杨景钦，
申请(专利权)人：台达电子工业股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71
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