一种元件错件检测方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种元件错件检测方法，包括：输入待检测元件图像，其中，所述待检测元件图像包括所述待检测元件的印刷文字；获取所述待检测元件图像上每一像素点对应的笔画宽度值；根据所述每一像素点对应的笔画宽度值，获取所述待检测元件图像上的印刷文字图像；将所述印刷文字图像与预设的文字模板图像进行对比，并计算所述印刷文字图像与所述文字模板图像的相似度；当所述相似度小于预设阈值时，判断所述待检测元件为错件。相应地，本发明专利技术还提供一种元件错件检测装置。本发明专利技术所提供的元件错件检测方法和装置，能有效避免光照对检测元件文字时的干扰，提高元件错件检测结果的准确率。

Component error detecting method and device

The invention discloses a detection method, a fault element includes: input the detected image element, among them, the image detection device comprises the detecting element of the printed word; acquiring the corresponding point detection for stroke width of each pixel value of the image element; stroke width corresponding to each pixel. According to the value, obtaining the detected print image element on the image; the printed text images were compared with the preset text template image, and calculate the printed text image and the similarity of text template image; when the similarity is less than a preset threshold value, judging the detected components for the wrong parts. Accordingly, the present invention also provides an element error detecting device. The element error detecting method and device provided by the invention can effectively avoid the interference of light on the text of the detecting element, and improve the accuracy rate of the component error detection result.

【技术实现步骤摘要】
一种元件错件检测方法和装置
本专利技术涉及检测领域，尤其涉及一种元件错件检测方法和装置。
技术介绍
通常情况下，为了满足生产的需要，同种元件会有多种不同的型号，如电容等。为了方便区分不同型号的元件，需要在元件表面印刷相关的参数信息。为了保障电路板的质量，对元件上印刷文字进行检测，是自动光学检测(AOI)中一种常见的元件错件检测。对元件上的印刷文字进行错件检测的系统主要包括两个部分：文字定位和文字对比。其中，文字定位起到了至关重要的作用。目前，文字定位算法主要采用了模板匹配的方法，即利用文字模板图在待检测图像中寻找与之最相近的位置。但是模板匹配算法容易受光照的影响，当光照发生较大的变化时，利用模板匹配算法得到的文字区域会发生较大的偏移，不利于后续文字对比或识别算法。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的是提供一种元件错件检测方法和装置，能有效避免光照对检测元件文字时的干扰，提高元件错件检测结果的准确率。为实现上述目的，本专利技术实施例提供了一种元件错件检测方法，包括：输入待检测元件图像，其中，所述待检测元件图像包括所述待检测元件的印刷文字；获取所述待检测元件图像上每一像素点对应的笔画宽度值；根据所述每一像素点对应的笔画宽度值，获取所述待检测元件图像上的印刷文字图像；将所述印刷文字图像与预设的文字模板图像进行对比，并计算所述印刷文字图像与所述文字模板图像的相似度；当所述相似度小于预设阈值时，判断所述待检测元件为错件。与现有技术相比，本专利技术提供的一种元件错件检测方法，基于文字笔画宽度的特性，实现对待检测元件上印刷文字图像的提取，从而获取印刷文字图像；并将印刷文字图像与预设的文字模板图像进行对比，判定与模板图像相比相似度较低的待检测元件为错件。本专利技术基于文字笔画宽度的特性实现对元件文字信息的定位准确度高，不易受到光照干扰，解决了现有技术中光照对检测元件的干扰问题，获得了大大提高元件错件检测的准确度的有益效果。进一步地，所述获取所述待检测元件的图像上每一像素点对应的笔画宽度值包括：对所述输入待检测元件图像进行边缘的检测，从而获取若干边缘像素点；基于所述若干边缘像素点确定所述边缘图像上的若干笔画点对；其中，所述笔画点对包括两边缘像素点，以所述每一笔画点对为端点的线段确定每一笔画；计算每一所述笔画点对的距离值；将每一所述笔画点对的距离值标注为对应所述笔画所经过的像素点的笔画宽度值。作为本专利技术的进一步方案，通过获取所述待检测元件图像的边缘像素点，由确定为同一笔画点对的每两边缘像素点的距离对来计算笔画宽度值，对所述待检测元件图像的上同一笔画上的像素点标注对应的笔画宽度值；本技术方案只需要提取像素组的特征，不受限于水平方向的文字图像，计算简单，能够保证较高的精确度。进一步地，所述基于所述若干边缘像素点确定所述边缘图像上的若干笔画点对包括：计算每一所述边缘像素点的梯度方向，沿着每一所述边缘像素点的梯度方向寻找另一所述边缘像素点；判断所述边缘像素点的梯度方向与所述寻找到的另一所述边缘像素点的梯度方向的和是否小于预设角度阈值，若是，则确定所述边缘像素点与另一所述边缘像素点为所述笔画点对。进一步地，所述获取所述待检测元件的图像上每一像素点对应的笔画宽度值还包括：获取每一所述笔画上的像素点的笔画宽度值集合，计算所述笔画宽度值集合中的中值，将所述中值标注为对应的所述笔画所经过的所有所述像素点的笔画宽度值。进一步地，所述根据所述每一像素点对应的笔画宽度值，获取所述待检测元件图像上的印刷文字图像；包括：检测相邻的所述像素点之间的所述笔画宽度值的差值是否在预设阈值范围内，若是，则将所述相邻的像素点聚为同一连通区域，从而获取若干所述连通区域；对若干获取的所述连通区域进行滤波处理；根据若干滤波处理的所述连通区域，获取所述待检测元件图像上的所述印刷文字图像。进一步地，所述对若干所述连通区域进行滤波处理包括：计算每一所述连通区域的笔画宽度值的方差，若所述连通区域的笔画宽度的方差大于预设方差判断阈值的，则抛弃所述连通区域。作为本专利技术的进一步方案，由于文字的笔画宽度特征较为稳定、而噪声的波动较大，排除笔画宽度值的方差较大的连通区域可以排除噪声的干扰。进一步地，所述对若干获取的所述连通区域进行滤波处理包括：计算每一所述连通区域的宽度和高度，若所述连通区域的宽度超出连通区域的预设宽度范围，和/或所述连通区域的高度超出连通区域的预设高度范围，则抛弃所述连通区域。作为本专利技术的进一步方案，在待检测元件上的印刷文字具有一定的宽高比例，可以定义用于获取印刷文字图像的连通区域的宽和高，排除过小和过大的连通区域。进一步地，所述将所述印刷文字图像与预设的文字模板图像进行对比包括：将所述印刷文字图像与所述文字模板图像进行图像亮度的对比、图像对比度的对比和图像结构的对比，并分别获取所述印刷文字图像与所述文字模板图像的亮度对比值、对比度对比值和结构对比值。进一步地，所述印刷文字图像与所述文字模板图像的相似度为所述印刷文字图像与所述文字模板图像的结构相似性，所述结构相似性通过下述公式计算：SSIM(X,Y)＝[l(X,Y)]α·[c(X,Y)]β·[s(X,Y)]γ其中，SSIM(X,Y)表示所述结构相似性；l(X,Y)表示所述亮度对比值，c(X,Y)表示所述对比度对比值；s(X,Y)表示所述结构对比值；α、β和γ分别为调整所述亮度对比值、所述对比度对比值和所述结构对比值的相对重要性的参数，且，α＞0，β＞0，γ＞0。进一步地，所述获取所述印刷文字图像与所述文字模板图像的亮度对比值包括：通过计算下述公式获取所述印刷文字图像与所述文字模板图像的亮度对比值l(X,Y)：其中，μX表示所述印刷文字图像的均值；μY表示所述文字模板图像的均值；C1为常数，C1≠0；所述获取所述印刷文字图像与所述文字模板图像的对比度对比值包括：通过计算下述公式获取所述印刷文字图像与所述文字模板图像的对比度对比值c(X,Y)：其中，σX表示所述印刷文字图像的标准差；σY表示所述文字模板图像的标准差；C2为常数，C2≠0；所述获取所述印刷文字图像与所述文字模板图像的结构对比值包括：通过计算下述公式获取所述印刷文字图像与所述文字模板图像的结构对比值s(X,Y)：其中，σXY表示所述印刷文字图像的标准差与所述文字模板图像的协方差；C3为常数，C3≠0。为实现本专利技术的目的，相应地，本专利技术还提供了一种元件错件检测装置，包括：输入待检测元件图像单元，用于输入待检测元件图像，其中，所述待检测元件图像包括所述待检测元件的印刷文字；笔画宽度值获取单元，用于获取所述待检测元件图像上每一像素点对应的笔画宽度值；印刷文字图像获取单元，用于根据所述每一像素点对应的笔画宽度值，获取所述待检测元件图像上的印刷文字图像；相似度获取单元，用于将所述印刷文字图像与预设的文字模板图像进行对比，并计算所述印刷文字图像与所述文字模板图像的相似度；错件判断单元，用于当所述相似度小于预设阈值时，判断所述待检测元件为错件。与现有技术相比，本专利技术提供的一种元件错件检测装置，输入待检测元件图像，基于文字笔画宽度的特性，实现对待检测元件上印刷文字图像的提取，从而获取印刷文字图像；并将印刷文字图像与预设的文字模板图像进行对比，判定与模板图像相比相似度较低的待检测元本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种元件错件检测方法，其特征在于，包括：输入待检测元件图像，其中，所述待检测元件图像包括所述待检测元件的印刷文字；获取所述待检测元件图像上每一像素点对应的笔画宽度值；根据所述每一像素点对应的笔画宽度值，获取所述待检测元件图像上的印刷文字图像；将所述印刷文字图像与预设的文字模板图像进行对比，并计算所述印刷文字图像与所述文字模板图像的相似度；当所述相似度小于预设阈值时，判断所述待检测元件为错件。

【技术特征摘要】
1.一种元件错件检测方法，其特征在于，包括：输入待检测元件图像，其中，所述待检测元件图像包括所述待检测元件的印刷文字；获取所述待检测元件图像上每一像素点对应的笔画宽度值；根据所述每一像素点对应的笔画宽度值，获取所述待检测元件图像上的印刷文字图像；将所述印刷文字图像与预设的文字模板图像进行对比，并计算所述印刷文字图像与所述文字模板图像的相似度；当所述相似度小于预设阈值时，判断所述待检测元件为错件。2.如权利要求1所述的一种元件错件检测方法，其特征在于，所述获取所述待检测元件的图像上每一像素点对应的笔画宽度值包括：对所述输入待检测元件图像进行边缘的检测，从而获取若干边缘像素点；基于所述若干边缘像素点确定所述边缘图像上的若干笔画点对；其中，所述笔画点对包括两边缘像素点，以所述每一笔画点对为端点的线段确定每一笔画；计算每一所述笔画点对的距离值；将每一所述笔画点对的距离值标注为对应所述笔画所经过的像素点的笔画宽度值。3.如权利要求2所述的一种元件错件检测方法，其特征在于，所述基于所述若干边缘像素点确定所述边缘图像上的若干笔画点对包括：计算每一所述边缘像素点的梯度方向，沿着每一所述边缘像素点的梯度方向寻找另一所述边缘像素点；判断所述边缘像素点的梯度方向与所述寻找到的另一所述边缘像素点的梯度方向的和是否小于预设角度阈值，若是，则确定所述边缘像素点与另一所述边缘像素点为所述笔画点对。4.如权利要求2所述的一种元件错件检测方法，其特征在于，所述获取所述待检测元件的图像上每一像素点对应的笔画宽度值还包括：获取每一所述笔画上的像素点的笔画宽度值集合，计算所述笔画宽度值集合中的中值，将所述中值标注为对应的所述笔画所经过的所有所述像素点的笔画宽度值。5.如权利要求1所述的一种元件错件检测方法，其特征在于，所述根据所述每一像素点对应的笔画宽度值，获取所述待检测元件图像上的印刷文字图像；包括：检测相邻的所述像素点之间的所述笔画宽度值的差值是否在预设阈值范围内，若是，则将所述相邻的像素点聚为同一连通区域，从而获取若干所述连通区域；对若干获取的所述连通区域进行滤波处理；根据若干滤波处理的所述连通区域，获取所述待检测元件图像上的所述印刷文字图像。6.如权利要求5所述的一种元件错件检测方法，其特征在于，所述对若干所述连通区域进行滤波处理包括：计算每一所述连通区域的笔画宽度值的方差，若所述连通区域的笔画宽度的方差大于预设方差判断阈值的，则抛弃所述连通区域。7.如权利要求5所述的一种元件错件检测方法，其特征在于，所述对若干获取的所述连通区域进行滤波处理包括：计算每一所述连通区域的宽度和高度，若所述连通区域的宽度超出连通区域的预设宽度范围，和/或所述连通区域的高度超出连通区域的预设高度范围，则抛弃所述连通区域。8.如权利要求1所述的一种元件错件检测方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李红匣，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44