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一种驱动受测电子元件的测试脉冲的产生方法与系统，在决定频率远小于传输时脉的测试时脉以及与测试时脉相应的预期连续脉冲后，依据相应于测试时脉的预期连续脉冲与传输时脉来产生复数个连续数据位元，并在将这些连续数据位元转换成一序列数据串流之后，再将此...
该专利属于京元电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京元电子股份有限公司授权不得商用。

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