一种电子元件检测装置及其治具，所述的电子元件检测装置，适用于一待测电子元件的电性测试，待测电子元件具有多个导电接触部，电子元件检测装置包含一测试电路板及一治具，测试电路板形成有多个焊接部，治具包括一绝缘本体、多根探针及一锁接组件，绝缘本体形成有一用以供待测电子元件容置的容置槽，及多个与容置槽相连通的贯孔，各探针可移离地穿设于对应的贯孔内，各探针底端焊接于对应的焊接部，各探针顶端抵接于对应的导电接触部，使各探针电连接于对应的焊接部与对应的导电接触部之间，锁接组件可拆卸地将绝缘本体锁固于测试电路板上。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种电子元件检测装置及其治具，所述的电子元件检测装置，适用于一待测电子元件的电性测试，待测电子元件具有多个导电接触部，电子元件检测装置包含一测试电路板及一治具，测试电路板形成有多个焊接部，治具包括一绝缘本体、多根探针及一锁接组件，绝缘本体形成有一用以供待测电子元件容置的容置槽，及多个与容置槽相连通的贯孔，各探针可移离地穿设于对应的贯孔内，各探针底端焊接于对应的焊接部，各探针顶端抵接于对应的导电接触部，使各探针电连接于对应的焊接部与对应的导电接触部之间，锁接组件可拆卸地将绝缘本体锁固于测试电路板上。【专利说明】电子元件检测装置及其治具
本技术涉及一种电子元件检测装置及其治具，特别是涉及一种用以对待测电子元件进行电性测试的电子元件检测装置及其治具。
技术介绍
目前例如为封装组件的一电子元件通常是通过一测试插座电连接于一测试电路板，以对电子元件进行电性测试。测试插座通常包含一绝缘本体，及多根弹性探针，绝缘本体形成有多个穿孔，各探针穿设并固定于对应的穿孔内，各探针底端插置于测试电路板的一对应的焊接孔内，且各探针底端焊接于对应的焊接孔。 当电子元件插置于测试插座的绝缘本体内时，电子元件的各导电接脚会接触于对应的探针顶端，此时，电子元件通过探针电连接于测试电路板上。电子元件可经由测试插座的探针电连接至测试电路板，以对电子元件进行电性测试。 由于各探针是穿设并固定于对应的穿孔内，因此，各探针无法单独拆离绝缘本体。当绝缘本体变形而导致电子元件无法插置，或者是探针损坏而无法电性导通时，就必需将整个测试插座拆离测试电路板以进行更换，易造成使用成本的增加。再者，要将各探针由测试电路板上解焊的作业也十分困难且不便，故现有测试插座仍有进一步改善的空间。
技术实现思路
本技术的主要目的，在于提供一种电子元件检测装置，治具的绝缘本体及探针皆能单独拆离测试电路板以进行更换的作业，借此，能有效地降低使用成本。 本技术的目的及解决
技术介绍
问题是采用以下技术方案来实现的，依据本技术提出的电子元件检测装置，适用于一待测电子元件的电性测试，该待测电子元件具有多个导电接触部。 该电子元件检测装置包含一测试电路板及一治具，该测试电路板形成有多个焊接部，该治具包括一绝缘本体、多根探针，及至少一锁接组件，该绝缘本体，设置于该测试电路板上，该绝缘本体形成有一用以供该待测电子元件容置的容置槽，及多个与该容置槽相连通的贯孔，各该探针可移离地穿设于对应的该贯孔内，各该探针底端焊接于对应的该焊接部，各该探针顶端抵接于对应的该导电接触部，使各该探针电连接于对应的该焊接部与对应的该导电接触部之间，该锁接组件可拆卸地将该绝缘本体锁固于该测试电路板上。 各该探针具有一外径，各该贯孔具有一大于该外径的孔径。 该测试电路板形成有两个穿孔，该绝缘本体形成有两个分别与两穿孔相连通的通孔，该治具包括两个锁接组件，各该锁接组件包含一螺栓及一螺帽，各该锁接组件的该螺栓穿设于对应的该通孔与对应的该穿孔，且该螺栓螺接在抵接于该测试电路板一侧的该螺帽。 本技术的目的及解决
技术介绍
问题是采用以下技术方案来实现的，依据本技术提出的电子元件检测装置，适用于多个待测电子元件的电性测试，各该待测电子元件具有多个导电接触部。 该电子元件检测装置包含一测试电路板及一治具，该测试电路板形成有多个焊接部，该治具包括一绝缘本体、多根探针，及至少一锁接组件，该绝缘本体设置于该测试电路板上，该绝缘本体形成有多个分别用以供所述待测电子元件容置的容置槽，及多个安装单元，各该安装单元包含多个与对应的该容置槽相连通的贯孔，各该探针可移离地穿设于对应的该贯孔内，各该探针底端焊接于对应的该焊接部，各该探针顶端抵接于对应的该导电接触部，使各该探针电连接于对应的该焊接部与对应的该导电接触部之间，该锁接组件可拆卸地将该绝缘本体锁固于该测试电路板上。 各该探针具有一外径，各该贯孔具有一大于该外径的孔径。 该测试电路板形成有两个穿孔，该绝缘本体形成有两个分别与两穿孔相连通的通孔，该治具包括两个锁接组件，各该锁接组件包含一螺栓及一螺帽，各该锁接组件的该螺栓穿设于对应的该通孔与对应的该穿孔，且该螺栓螺接在抵接于该测试电路板一侧的该螺帽。 本技术的另一目的，在于提供一种治具，其绝缘本体及探针皆能单独拆离测试电路板以进行更换的作业，借此，能有效地降低使用成本。 本技术的目的及解决
技术介绍
问题是采用以下技术方案来实现的，依据本技术提出的治具，适于设置在一测试电路板上并可供一待测电子元件放置，该测试电路板形成有多个焊接部，该待测电子元件形成有多个导电接处部。 该治具包括一绝缘本体、多根探针，及至少一锁接组件，该绝缘本体设置于该测试电路板上，该绝缘本体形成有一用以供该待测电子元件容置的容置槽，及多个与该容置槽相连通的贯孔，各该探针可移离地穿设于对应的该贯孔内，各该探针底端焊接于对应的该焊接部，各该探针顶端抵接于对应的该导电接触部，使各该探针电连接于对应的该焊接部与对应的该导电接触部之间，该锁接组件可拆卸地将该绝缘本体锁固于该测试电路板上。 各该探针具有一外径，各该贯孔具有一大于该外径的孔径。 该测试电路板形成有两个穿孔，该绝缘本体形成有两个分别与两穿孔相连通的通孔，该治具包括两个锁接组件，各该锁接组件包含一螺栓及一螺帽，各该锁接组件的该螺栓穿设于对应的该通孔与对应的该穿孔，且该螺栓螺接在抵接于该测试电路板一侧的该螺帽。 本技术的有益效果在于:治具的绝缘本体及探针皆能单独拆离测试电路板以进行更换的作业，因此，当绝缘本体及探针其中之一损坏时，可单独更换损坏的组件而不需更换整个治具，借此，能有效地降低使用成本。再者，能方便且迅速地进行探针与测试电路板之间的解焊作业，借此，可提升拆卸的便利性及缩短拆卸的工时。 【专利附图】【附图说明】 图1是本技术电子元件检测装置的一较佳实施例的立体图，说明治具锁固于测试电路板上，以及各待测电子元件容置于对应的容置槽内； 图2是本技术电子元件检测装置的一较佳实施例的立体分解图，说明待测电子元件、治具及测试电路板之间的组装关系； 图3是本技术电子元件检测装置的一较佳实施例的绝缘本体的局部俯视图，说明安装单元的贯孔与容置槽相连通； 图4是本技术电子元件检测装置的一较佳实施例的剖视示意图，说明各锁接组件将绝缘本体锁固于测试电路板上； 图5是本技术电子元件检测装置的一较佳实施例的剖视示意图，说明各探针穿设于对应的贯孔内，且各探针的套筒底端的凸部穿设于对应的焊接部内；及 图6是本技术电子元件检测装置的一较佳实施例的剖视示意图，说明各探针的上接触件抵接于待测电子元件的对应导电接触部。 【具体实施方式】 下面结合附图及实施例对本技术进行详细说明。 参阅图1及图2，是本技术电子元件检测装置的一较佳实施例，该电子元件检测装置200适用于多个待测电子元件I的电性测试，各待测电子元件I可为封装组件或其他类形的电子元件，各待测电子元件I具有一本体11，及多个导电接触部12，本体11具有一底面111，所述导电接触部12设置于底面111且彼此相间隔,本实施例本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电子元件检测装置，适用于一待测电子元件的电性测试，该待测电子元件具有多个导电接触部；其特征在于： 该电子元件检测装置包含一测试电路板及一治具，该测试电路板形成有多个焊接部，该治具包括一绝缘本体、多根探针，及至少一锁接组件，该绝缘本体，设置于该测试电路板上，该绝缘本体形成有一用以供该待测电子元件容置的容置槽，及多个与该容置槽相连通的贯孔，各该探针可移离地穿设于对应的该贯孔内，各该探针底端焊接于对应的该焊接部，各该探针顶端抵接于对应的该导电接触部，使各该探针电连接于对应的该焊接部与对应的该导电接触部之间，该锁接组件可拆卸地将该绝缘本体锁固于该测试电路板上。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：黄文荣，温汉威，林承贤，赖俊铭，杨建成，吴荣富，宋胜泰，
申请(专利权)人：泰艺电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71
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