一种电子元件检测装置，包含一加热单元、一传输单元、一检测单元，以及一筛选单元。该加热单元用于对电子元件加热。该传输单元包括一个轨道，以及一个能沿一个运作方向往复移动，并用于输送电子元件到该轨道的传输机构。该筛选单元包括一个筛选座，可自动地将检测合格与不合格的电子元件带动到不同的位置，从而可自动进行合格品与不合格品的分类。本发明专利技术对加热后的电子元件进行检测，能真实反应电子元件使用时的状况与实际使用需求。而且本发明专利技术上述各单元形成连贯且自动化的加热、检测与筛选作业，使作业流程连贯、快速且方便。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检测装置，特别是涉及一种用于检测电子元件的结构、电性或其他特性的电子元件检测装置。
技术介绍
已知的一种电子元件，其结构包含一盒体、数个设置于该盒体内的线圈，以及数个结合于该盒体上并连接所述线圈的接脚，所述接脚还用于与一电路板连接。依据所述接脚与该电路板间的结合方式，该电子元件可区分为双列直插封装件(dualin-linepackage，简称DIP)与表面接着件(surface-mountdevices，简称SMD)两种形式。无论是哪一种形态的电子元件，于生产制造后都必须进行外观检察、电性特性等检测，而且检测后还必须针对良品与不良品进行筛选分类。一般的检测设备通常仅单纯作检测，而良品与不良品的分类，是由线上的作业人员依检测结果将不良品挑出，此种以人员进行筛选的方式较耗时且麻烦，而且其检测与筛选过程的作业不连贯，较不符合现代讲究自动化、快速且精准的生产检验流程。此外，为了使检测结果更贴近使用需求，需要模拟电子元件实际使用时的环境进行检测，如此一来，也需要在检测设备上进行改良。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种可自动进行检测与筛选，作业流程连贯、快速、方便的电子元件检测装置。本专利技术的电子元件检测装置，用于检测一个电子元件，并包含：一个加热单元、一个传输单元、一个检测单元，以及一个筛选单元。该加热单元包括一个用于对该电子元件加热的加热模组。该传输单元位于该加热单元一侧，并包括一个轨道，以及一个能沿一个运作方向往复移动，并用于将加热后的该电子元件输送到该轨道的传输机构。该检测单元位于该传输单元一侧并位于该加热单元的下游位置，该检测单元能检测自该轨道输送而来的该电子元件。该筛选单元位于该检测单元的下游位置，并包括一个能承接自该检测单元输送而来的该电子元件的筛选座，该筛选座能被驱动而自动地在一个保留位置与一个淘汰位置间往复移动，当该电子元件检测合格时，该筛选座带动该电子元件移动到该保留位置，当该电子元件检测不合格时，该筛选座带动该电子元件移动到该淘汰位置。本专利技术的电子元件检测装置，该轨道沿一个传输方向延伸，该传输机构包括一个位于该加热模组上方的输送座，该输送座包括数个彼此间隔且沿该传输方向延伸的栅板，任两个相邻的栅板间界定出一个能容纳该电子元件的导沟，当该电子元件位于所述导沟的其中一个最靠近该轨道的该导沟，且该输送座自一个初始位置沿该运作方向朝一个靠向该轨道的传输位置移动时，该输送座能将该电子元件推动进入该轨道，使该电子元件能经由该轨道传输到该检测单元。本专利技术的电子元件检测装置，该传输机构还包括一个连接该输送座并用于控制该输送座移动的第一动力模组，该输送座位于该传输位置时，能被该第一动力模组控制而往上抬升至一个第一位置，并沿该运作方向移动到该初始位置上方的一个第二位置，再由该第二位置下降回到该初始位置。本专利技术的电子元件检测装置，该传输方向垂直该运作方向。本专利技术的电子元件检测装置，该轨道自该加热单元的一侧延伸通过该检测单元与该筛选单元，该筛选座包括一个能连通该轨道以容纳该电子元件的容槽。本专利技术的电子元件检测装置，该筛选座能沿该运作方向往复移动于该保留位置与该淘汰位置间，当该筛选座位于该淘汰位置时，该容槽的位置对应于该轨道。本专利技术的电子元件检测装置，还包含一个载台，该载台包括间隔相对的一个上游侧与一个下游侧，以及一个朝上并自该上游侧往该下游侧逐渐向下倾斜的安装面，该安装面供该加热单元、该传输单元、该检测单元与该筛选单元安装。本专利技术的有益效果在于：通过该加热单元加热电子元件，模拟电子元件使用时较高温的状态，再利用该检测单元进行检测，此种检测方式能真实反应电子元件使用时的状况与实际使用需求。而且该加热单元、该检测单元与该筛选单元形成连贯且自动化的加热、检测与筛选作业，使作业流程连贯、快速且方便。附图说明本专利技术的其他的特征及功效，将于参照图式的实施方式中清楚地呈现，其中：图1是一未完整的俯视示意图，显示本专利技术电子元件检测装置的一实施例；图2是该实施例的一未完整的侧视示意图；图3是一立体分解图，主要显示该实施例的一输送座与一加热单元；图4是一流程示意图，显示该输送座自一初始位置移动到一传输位置，再移动回到该初始位置的过程，同时显示该输送座带动数个电子元件移动至一轨道；图5是一未完整的立体图，主要显示一个筛选单元；图6是一未完整的俯视示意图，主要显示该筛选单元的一个筛选座位于一淘汰位置与一保留位置时的状态。具体实施方式参阅图1～4，本专利技术电子元件检测装置的一实施例，用于检测至少一个电子元件1，本实施例是以检测与输送数个电子元件1为例，每一电子元件1包括一本体11，以及数个位于该本体11上的接脚12。且该检测装置上游处连接一个供该电子元件1传输而来的入料通道21。本实施例的检测装置包含一载台3，以及安装在该载台3上的一加热单元4、一传输单元5、一检测单元6与一筛选单元7。该载台3包括间隔相对的一个上游侧31与一个下游侧32，以及一个朝上并自该上游侧31往该下游侧32逐渐向下倾斜的安装面33。该加热单元4、该传输单元5、该检测单元6与该筛选单元7位于该安装面33上。该加热单元4连接该入料通道21，并包括一个用于对该电子元件1加热的加热模组41。该加热模组41中设有数个可通电而升温的加热管(图未示)。该加热模组41包括一个朝上并供该电子元件1摆放的加热面411。该传输单元5位于该加热单元4一侧，并包括一个沿一传输方向81长向延伸的轨道51，以及一个能沿一个运作方向82往复移动，并用于将加热后的该电子元件1输送到该轨道51的传输机构52。本实施例的该传输方向81是由前往后的方向，该运作方向82垂直该传输方向81，并且为左右方向。该轨道51顺着该载台3的该安装面33而自该上游侧31往该下游侧32逐渐往下斜伸，并自该加热单元4的旁边延伸通过该检测单元6与该筛选单元7，此种设计使该电子元件1可通过其自身重力而自动顺着该轨道51往下游移动。该传输机构52包括一个位于该加热模组41上方的输送座521，以及一个用于驱动该输送座521移动的第一动力模组522。该输送座521包括一个约呈四方框形的外框523，以及数个自该外框523朝下延伸并呈直立薄板片状的栅板524。所述栅板524彼此间隔且沿该传...
【技术保护点】
一种电子元件检测装置，用于检测一个电子元件，其特征在于：该电子元件检测装置包含：一个加热单元、一个传输单元、一个检测单元，以及一个筛选单元，该加热单元包括一个用于对该电子元件加热的加热模组；该传输单元位于该加热单元一侧，并包括一个轨道，以及一个能沿一个运作方向往复移动，并用于将加热后的该电子元件输送到该轨道的传输机构；该检测单元位于该传输单元一侧并位于该加热单元的下游位置，该检测单元能检测自该轨道输送而来的该电子元件；该筛选单元位于该检测单元的下游位置，并包括一个能承接自该检测单元输送而来的该电子元件的筛选座，该筛选座能被驱动而自动地在一个保留位置与一个淘汰位置间往复移动，当该电子元件检测合格时，该筛选座带动该电子元件移动到该保留位置，当该电子元件检测不合格时，该筛选座带动该电子元件移动到该淘汰位置。
【技术特征摘要】
1.一种电子元件检测装置，用于检测一个电子元件，其特征
在于：该电子元件检测装置包含：一个加热单元、一个传输单元、
一个检测单元，以及一个筛选单元，该加热单元包括一个用于对该
电子元件加热的加热模组；该传输单元位于该加热单元一侧，并包
括一个轨道，以及一个能沿一个运作方向往复移动，并用于将加热
后的该电子元件输送到该轨道的传输机构；该检测单元位于该传输
单元一侧并位于该加热单元的下游位置，该检测单元能检测自该轨
道输送而来的该电子元件；该筛选单元位于该检测单元的下游位置，
并包括一个能承接自该检测单元输送而来的该电子元件的筛选座，
该筛选座能被驱动而自动地在一个保留位置与一个淘汰位置间往复
移动，当该电子元件检测合格时，该筛选座带动该电子元件移动到
该保留位置，当该电子元件检测不合格时，该筛选座带动该电子元
件移动到该淘汰位置。
2.如权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于：该轨
道沿一个传输方向延伸，该传输机构包括一个位于该加热模组上方
的输送座，该输送座包括数个彼此间隔且沿该传输方向延伸的栅板，
任两个相邻的栅板间界定出一个能容纳该电子元件的导沟，当该电
子元件位于所述导沟的其中一个最靠近该轨道的该导沟，且该输送
座自一个初始位置沿该运作方向朝一个靠向该轨道的传输位置移动<...
【专利技术属性】
技术研发人员：潘詠民，范仲成，
申请(专利权)人：开平帛汉电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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