电子元件检测装置制造方法及图纸

一种电子元件检测装置，包含一加热单元、一传输单元、一检测单元，以及一筛选单元。该加热单元用于对电子元件加热。该传输单元包括一个轨道，以及一个能沿一个运作方向往复移动，并用于输送电子元件到该轨道的传输机构。该筛选单元包括一个筛选座，可自动地将检测合格与不合格的电子元件带动到不同的位置，从而可自动进行合格品与不合格品的分类。本发明专利技术对加热后的电子元件进行检测，能真实反应电子元件使用时的状况与实际使用需求。而且本发明专利技术上述各单元形成连贯且自动化的加热、检测与筛选作业，使作业流程连贯、快速且方便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测装置，特别是涉及一种用于检测电子元件的结构、电性或其他特性的电子元件检测装置。
技术介绍
已知的一种电子元件，其结构包含一盒体、数个设置于该盒体内的线圈，以及数个结合于该盒体上并连接所述线圈的接脚，所述接脚还用于与一电路板连接。依据所述接脚与该电路板间的结合方式，该电子元件可区分为双列直插封装件(dualin-linepackage，简称DIP)与表面接着件(surface-mountdevices，简称SMD)两种形式。无论是哪一种形态的电子元件，于生产制造后都必须进行外观检察、电性特性等检测，而且检测后还必须针对良品与不良品进行筛选分类。一般的检测设备通常仅单纯作检测，而良品与不良品的分类，是由线上的作业人员依检测结果将不良品挑出，此种以人员进行筛选的方式较耗时且麻烦，而且其检测与筛选过程的作业不连贯，较不符合现代讲究自动化、快速且精准的生产检验流程。此外，为了使检测结果更贴近使用需求，需要模拟电子元件实际使用时的环境进行检测，如此一来，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元件检测装置，用于检测一个电子元件，其特征在于：该电子元件检测装置包含：一个加热单元、一个传输单元、一个检测单元，以及一个筛选单元，该加热单元包括一个用于对该电子元件加热的加热模组；该传输单元位于该加热单元一侧，并包括一个轨道，以及一个能沿一个运作方向往复移动，并用于将加热后的该电子元件输送到该轨道的传输机构；该检测单元位于该传输单元一侧并位于该加热单元的下游位置，该检测单元能检测自该轨道输送而来的该电子元件；该筛选单元位于该检测单元的下游位置，并包括一个能承接自该检测单元输送而来的该电子元件的筛选座，该筛选座能被驱动而自动地在一个保留位置与一个淘汰位置间往复移动，当该电子元件检测合格...

【技术特征摘要】
1.一种电子元件检测装置，用于检测一个电子元件，其特征
在于：该电子元件检测装置包含：一个加热单元、一个传输单元、
一个检测单元，以及一个筛选单元，该加热单元包括一个用于对该
电子元件加热的加热模组；该传输单元位于该加热单元一侧，并包
括一个轨道，以及一个能沿一个运作方向往复移动，并用于将加热
后的该电子元件输送到该轨道的传输机构；该检测单元位于该传输
单元一侧并位于该加热单元的下游位置，该检测单元能检测自该轨
道输送而来的该电子元件；该筛选单元位于该检测单元的下游位置，
并包括一个能承接自该检测单元输送而来的该电子元件的筛选座，
该筛选座能被驱动而自动地在一个保留位置与一个淘汰位置间往复
移动，当该电子元件检测合格时，该筛选座带动该电子元件移动到
该保留位置，当该电子元件检测不合格时，该筛选座带动该电子元
件移动到该淘汰位置。
2.如权利要求1所述的电子元件检测装置，其特征在于：该轨
道沿一个传输方向延伸，该传输机构包括一个位于该加热模组上方
的输送座，该输送座包括数个彼此间隔且沿该传输方向延伸的栅板，
任两个相邻的栅板间界定出一个能容纳该电子元件的导沟，当该电
子元件位于所述导沟的其中一个最靠近该轨道的该导沟，且该输送
座自一个初始位置沿该运作方向朝一个靠向该轨道的传输位置移动<...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘詠民，范仲成，
申请(专利权)人：开平帛汉电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44