一种半导体激光器件计数装置及方法制造方法及图纸

本申请公开了一种半导体激光器件的计数装置及方法，包括光源，用于照射待检测的半导体激光器件；图像采集装置，相对固定设置于光源上，用于采集半导体激光器件的图像，以得到采集图像；图像处理装置，与图像采集装置连接，用于启动图像采集装置运行，并接受和处理采集图像，以得到半导体激光器件的统计个数。通过采用图像处理装置对采集图像进行半导体激光器件计数的方式，可以提升半导体激光器件的计数效率和准确率。

A counting device and method for semiconductor laser devices

【技术实现步骤摘要】
一种半导体激光器件计数装置及方法
本申请涉及图像识别计数
，特别是涉及一种半导体激光器件计数装置及方法。
技术介绍
半导体激光器件是以半导体材料为基础而产生激光的器件，具有体积小、重量轻、耗电少、转换效率高、可靠性高、工作寿命长且易于与各种光电子器件实现光电子集成等优点，因而获得了广泛的应用。经本申请的专利技术人长期研究发现，在半导体激光器件的工业生产过程中，由于半导体激光器件的数量多且形状小，人工计数成千上万个半导体激光器件耗费的时间往往需要几十分钟甚至更久，所以人工对其进行计数盘点的效率低；而且人工计数出错导致计数结果的准确率低；并且人工累积计数时间长易造成人眼视觉疲劳的缺点。
技术实现思路
本申请提供一种半导体激光器件计数装置及方法，能够提高半导体激光器件的计数效率和准确率。为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是提供一种半导体激光器件的计数装置，该技术装置包括光源，用于照射待检测的半导体激光器件；图像采集装置，相对固定设置于光源上，用于采集半导体激光器件的图像，以得到采集图像；图像处理装置，与图像采集装置连接，用于控制图像采集装置运行，并接受和处理采集图像，以得到半导体激光器件的统计个数。通过采用图像采集装置采集待检测的半导体激光器件的图像，并用图像处理装置处理采集图像，花费的时间可控制在数秒级别，并且准确率至少大于95％，最优达到100％半导体激光器件个数识别，因此可以快速准确得到半导体激光器件的统计个数，从而提高了半导体激光器件的计数效率和准确率，进而避免了人工计数时间长而造成的人眼视觉疲劳。其中，图像处理装置运行计数软件，接受采集图像，RGB二值化处理采集图像以得到连通域，并卷积处理连通域以得到无裂缝的连通域，连通域表示一个或多个半导体激光器件的像素面积，并倍数比较每个连通域的像素面积与预设的一个半导体激光器件像素面积，得出每个连通域的像素面积包含的半导体激光器个数。通过运行计数软件，可以触发图像采集装置的启动拍照可得到待检测的半导体激光器件的采集图像，并能接受采集图像，对采集图像进行RGB二值化处理，在识别待检测的半导体激光器件的图像区域时同时转换半导体激光器件的图像区域颜色区分与周围环境的颜色，半导体激光器件的图像区域形成连通域，可得到每个连通域的像素面积，以方便之后的倍数比较过程，通过倍数比较每个连通域的像素面积与预设的一个半导体激光器件像素面积，可以得到每个连通域里包含的半导体激光器个数，相比于累积像素面积再做倍数比较的方式，累积个数的方式可以减小统计的误差。其中，图像处理装置还用于在卷积处理之后，判断连通域的像素面积是否小于个半导体激光器件的像素面积的预设阈值：若是，则过滤连通域代表的像素面积，以减小统计误差；若否，则保留连通域的像素面积；图像处理装置还用于在判断处理之后，将判断处理得到的连通域像素面积与预设的一个半导体激光器件像素面积相除，接近N则为N，N表示N个半导体激光器件，N为大于等于1的正整数；图像处理装置还用于在相除处理之后进行个数累加，以得出待测半导体激光器件的总个数。通过判断连通域的像素面积是否小于单个半导体激光器件的像素面积的预设阈值，可以使得图像处理装置辨别包含有半导体激光器件的连通域，过滤掉不需要的像素面积，只对包含有半导体激光器件的连通域进行处理，从而既减小了对图像数据的处理量，也得出了可靠的数据。其中，图像处理装置使用的卷积核包括3×3的卷积核。对于采集图像的处理，卷积核的选择直接影响着采集图像的处理质量。采用3×3的卷积核对采集图像处理的效果好，速度快，在计数1000个待检测半导体激光器件时，需要的时间小于1秒。其中，计数装置还包括：固定装置，与图像采集装置连接，用于固定光源和图像采集装置；光源为开孔背光源，开孔背光源的开孔设置于光源上的遮挡片上，开孔用于使采集图像的反射光线反射回图像采集装置，遮挡片的其余部分用于遮挡光源的正面打光。通过采用固定装置固定光源和图像采集装置，可以节约计数装置的物理空间，并确定相对位置，提升方案的可实现性，并且采用开孔背光源，遮挡片的使用可以避免光源的正面打光从而造成采集图像的白斑，还可以使采集图像通过遮挡片上的开孔拍摄到采集图像。其中，计数装置还包括：图像采集装置位置可调地与固定装置连接，图像采集装置与固定装置可拆卸连接，光源与图像采集装置可拆卸连接；料盘，设置于光源下方，用于收纳半导体激光器件，每个半导体激光器件平铺放置于料盘上。通过设置固定装置与图像采集装置位置相对位置可调的连接方式和可拆卸连接，利于装置之间的安装和满足不同的拍摄角度，料盘用于收纳平铺放置于料盘上的半导体激光器件，可以使得每个半导体激光器件的图像不被遮掩，在拍摄的过程中都能成为采集图像的一部分，利于减小计数的误差。为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是提供一种半导体激光器件的计数方法，该计数方法包括：用光源照射待检测的半导体激光器件；图像处理装置启动图像采集装置运行；图像采集装置采集半导体激光器件的图像，以得到采集图像；图像处理装置接受并处理采集图像，以得到半导体激光器件的统计个数。通过采用图像采集装置采集待检测的半导体激光器件的图像，并用图像处理装置处理采集图像，花费的时间可控制在数秒级别，其准确率至少大于95％，最优达到100％半导体激光器件个数识别，因此可以快速准确得到半导体激光器件的统计个数，从而提高了半导体激光器件的计数效率和准确率，进而避免了人工计数时间长而造成的人眼视觉疲劳。其中，图像处理装置处理采集图像包括：接受采集图像；RGB二值化处理采集图像，以得到连通域，连通域表示一个或多个半导体激光器件的像素面积；卷积处理连通域，以得到无裂缝的连通域；倍数比较每个连通域的像素面积与预设的一个半导体激光器件像素面积，得出每个连通域的像素面积所包含的半导体激光器件的个数N，N表示N个半导体激光器件，N为大于等于1的正整数；累加N，得到半导体激光器件的统计个数。通过图像处理装置进行接收采集图像，RGB二值化处理采集图像，卷积处理连通域，倍数比较等一系列处理过程，可以将半导体激光器件的连通域与周围环境的连通域区分开来，并提高了半导体激光器件的计数效率和准确率，进而方便计数的便利性。其中，图像采集装置采集半导体激光器件的图像，以得到采集图像之前还包括：采集一个半导体激光器件的单个图像；RGB二值化处理单个图像，以得到一个半导体激光器件的单个连通域；卷积处理单个连通域，以得到无裂缝的单个连通域，得到一个半导体激光器件的单个像素面积；预设单个像素面积为标准值。通过提前预设一个半导体激光器件的单个连通域和单个像素面积，同样的处理方式可以为检测统计待监测的半导体激光器件的个数做标准，在类似的条件和方式下进行比较，使得误差更小，提升可靠度。其中，卷积处理单个连通域之后，倍数比较每个连通域的像素面积与预设的一个半导体激光器件像素本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体激光器件的计数装置，其特征在于，包括：/n光源，用于照射待检测的半导体激光器件；/n图像采集装置，相对固定设置于所述光源上，用于采集所述半导体激光器件的图像，以得到采集图像；/n图像处理装置，与所述图像采集装置连接，用于控制所述图像采集装置运行，并接受和处理所述采集图像，以得到所述半导体激光器件的统计个数。/n

【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器件的计数装置，其特征在于，包括：
光源，用于照射待检测的半导体激光器件；
图像采集装置，相对固定设置于所述光源上，用于采集所述半导体激光器件的图像，以得到采集图像；
图像处理装置，与所述图像采集装置连接，用于控制所述图像采集装置运行，并接受和处理所述采集图像，以得到所述半导体激光器件的统计个数。


2.根据权利要求1所述的计数装置，其特征在于，
所述图像处理装置运行计数软件，接受所述采集图像，RGB二值化处理所述采集图像以得到连通域，并卷积处理所述连通域以得到无裂缝的所述连通域，所述连通域表示一个或多个所述半导体激光器件的像素面积，并倍数比较每个所述连通域的像素面积与预设的一个所述半导体激光器件像素面积，得出每个所述连通域的像素面积包含的所述半导体激光器个数。


3.根据权利要求2所述的计数装置，其特征在于，所述图像处理装置还用于在所述卷积处理之后，判断所述连通域的像素面积是否小于单个所述半导体激光器件的像素面积的预设阈值：
若是，则过滤所述连通域代表的像素面积，以减小统计误差；
若否，则保留所述连通域的像素面积；
所述图像处理装置还用于在所述判断处理之后，将判断处理得到的所述连通域像素面积与预设的一个所述半导体激光器件像素面积相除，接近N则为N，所述N表示N个所述半导体激光器件，N为大于等于1的正整数；
所述图像处理装置还用于在所述相除处理之后进行个数累加，以得出待测所述半导体激光器件的总个数。


4.根据权利要求3所述的计数装置，其特征在于，所述图像处理装置使用的卷积核包括3×3的卷积核。


5.根据权利要求1-4任意一项所述的计数装置，其特征在于，所述计数装置还包括：
固定装置，与所述图像采集装置连接，用于固定所述光源和所述图像采集装置；
所述光源为开孔背光源，所述开孔背光源的开孔设置于所述光源上的遮挡片上，所述开孔用于使所述采集图像的反射光线反射回所述图像采集装置，所述遮挡片的其余部分用于遮挡所述光源的正面打光。


6.根据权利要求5所述的计数装置，其特征在于，所述计数装置还...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡海，许少东，刘文斌，王泰山，
申请(专利权)人：深圳瑞波光电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44