【技术实现步骤摘要】
湿法处理设备
本技术涉及半导体生产制造
,特别涉及一种湿法处理设备。
技术介绍
目前,随着超大规模集成电路的器件特征尺寸不断缩小,集成度不断提高,对各步工艺的控制及其工艺结果的精确度提出了更高的要求。其中,湿法刻蚀(包括湿法清洗)工艺在集成电路制造过程中主要有如下作用:其一是利用化学液(包括酸碱药液、有机溶液和去离子水)清洗晶圆,以减少晶圆的污染和缺陷;其二是各向同性地刻蚀某些特定的薄膜,以得到所需的形状。一种利用单片式湿法机台进行湿法刻蚀(包括湿法清洗)的过程包括:首先,请参考图1A,将晶圆200置于承载台100上,此时用于喷淋化学液的喷嘴102此时处于晶圆200外侧;然后,进行湿法刻蚀(包括湿法清洗),请参考图1B,化学液103从喷嘴102喷出,晶圆200绕自身中轴线做旋转运动,且喷嘴102绕喷嘴驱动组件101转动,以在沿晶圆200表面做往复式转动,从而完成对晶圆表面的清洗均匀;之后,待湿法刻蚀(包括湿法清洗)结束时,请参考图1C,喷嘴102停止喷出化学液,并绕喷嘴驱动组件101转动到晶圆200的一侧,晶圆200继续旋转一段时间,以甩干表面上的化学液。然 ...
【技术保护点】
1.一种湿法处理设备,其特征在于,包括:喷嘴;供液管道,连通所述喷嘴;供液阀,设置在所述供液管道上;回吸管道,与所述供液管道连通;以及,回吸阀,设置在所述回吸管道上。
【技术特征摘要】
1.一种湿法处理设备,其特征在于,包括:喷嘴;供液管道,连通所述喷嘴;供液阀,设置在所述供液管道上;回吸管道,与所述供液管道连通;以及,回吸阀,设置在所述回吸管道上。2.如权利要求1所述的湿法处理设备,其特征在于,所述回吸阀为气阀,所述气阀的气体流量为可调节的。3.如权利要求2所述的湿法处理设备,其特征在于,还包括:用于控制所述回吸阀开关的电磁阀,所述电磁阀连接所述回吸阀。4.如权利要求1所述的湿法处理设备,其特征在于,所述供液管道包括依次连接的折弯段、分流段以及进液段,所述折弯段连通所述喷嘴并具有折弯;所述供液阀设置在所述进液段和所述分流段的连接处,所述回吸管道与所述分流段连通。5.如权利要求4所述的湿法处理设备,其特征在于,所述回吸管道和所述供液管道为软管。6.如权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:王学伟,
申请(专利权)人:长鑫存储技术有限公司,
类型:新型
国别省市:安徽,34
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