一种用于半导体芯片检测的转盘载料机构制造技术

本发明专利技术涉及一种用于半导体芯片检测的转盘载料机构，它包括机架、配电控制箱和操作显示屏，机架上设置有中部转盘检测装置和侧部转盘检测装置，中部转盘检测装置包括中部转轴，中部转轴套接有中部检测转盘和中部安装转盘，中部检测转盘上开设有检测孔，且中部安装转盘上安装有穿出检测孔的取料装置，侧部转盘检测装置包括与侧部转动电机连接的侧部转轴，侧部转轴上套接有侧部转盘，侧部转盘上设置有与半导体芯片配合的载具，侧部转盘位于中部转盘的下部，侧部转盘上的一个载具与穿过中部转盘的一个取料装置对接；本发明专利技术通过中部转盘检测装置和侧部转盘检测装置相互配合，实现半导体芯片的多个检测工序一体化进行，极大的提高了检测的效率，降低了检测工时。

A Rotary Disc Loading Mechanism for Semiconductor Chip Detection

The invention relates to a turntable loading mechanism for semiconductor chip detection, which comprises a rack, a distribution control box and an operation display screen. The rack is equipped with a central turntable detecting device and a lateral turntable detecting device. The central turntable detecting device includes a central rotating shaft. The central rotating shaft is sleeved with a central detecting turntable and a central mounting turntable. A detection hole is arranged on the central detecting turntable. In the middle part, a feeding device through the detection hole is installed on the turntable. The side turntable detection device includes a side rotating shaft connected with the side rotating motor. The side rotating shaft is sleeved with a side turntable. The side turntable is equipped with a carrier matched with a semiconductor chip. The side turntable is located at the lower part of the middle turntable, and a carrier on the side turntable is connected with a feeding device passing through the middle turntable. Device docking; The invention realizes the integration of multiple detection processes of semiconductor chips through the cooperation of the central rotating disk detection device and the lateral rotating disk detection device, which greatly improves the detection efficiency and reduces the detection time.

【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体芯片检测的转盘载料机构原案申请号：2016112203928原案申请人：东莞市蓉工自动化科技有限公司原案申请日：2016年12月26日原案申请名称：一种半导体芯片的全自动检测机。
本专利技术涉及电子元件的加工设备领域，尤其涉及一种用于半导体芯片检测的转盘载料机构。
技术介绍
随着电子化工程的高速发展，各种电子元器件的应用越来越广，芯片是一种常用的电子元器件，其中芯片中又以半导体芯片的应用最为广泛。在半导体芯片的加工过程中，需要对加工好的芯片进行检测，检测的项目比较多，包括光电检测（产品的光电转换效率）、电阻检测、电阻率检测（需要多次检测求平均值）、视觉检测（CCD摄像机进行外观检测）和各种条件下（如高温、辐射、强光等条件）的导电检测，而现有的半导体芯片检测大多都采用多台设备分工序检测的，其中电阻率检测是在一台设备上进行多次检测求平均值，总体检测效率低下，耗时长。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种用于半导体芯片检测的转盘载料机构，通过中部转盘检测装置和侧部转盘检测装置相互配合，实现半导体芯片的多个检测工序一体化进行，极大的提高了检测的效率，降低了检测工时。为了实现以上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于半导体芯片检测的转盘载料机构，包括机架（1）和配电控制箱（2）其特征在于，所述的机架（1）上设置有相互配合的中部转盘检测装置（6）和侧部转盘检测装置（7），所述的中部转盘检测装置（6）包括与中部转动电机连接的逆时针转动的中部转轴（11），所述的中部转轴（11）从下至上依次套接有中部检测转盘（12）和中部安装转盘（13），所述的中部检测转盘（12）上均匀的开设有检测孔，且中部安装转盘（13）上安装有穿出检测孔的取料装置（14），所述的侧部转盘检测装置（7）包括与侧部转动电机连接的侧部转轴（33），所述的侧部转轴（33）上套接有侧部转盘（34），所述的侧部转盘（34）上设置有与半导体芯...

【技术特征摘要】
1.一种用于半导体芯片检测的转盘载料机构，包括机架（1）和配电控制箱（2）其特征在于，所述的机架（1）上设置有相互配合的中部转盘检测装置（6）和侧部转盘检测装置（7），所述的中部转盘检测装置（6）包括与中部转动电机连接的逆时针转动的中部转轴（11），所述的中部转轴（11）从下至上依次套接有中部检测转盘（12）和中部安装转盘（13），所述的中部检测转盘（12）上均匀的开设有检测孔，且中部安装转盘（13）上安装有穿出检测孔的取料装置（14），所述的侧部转盘检测装置（7）包括与侧部转动电机连接的侧部转轴（33），所述的侧部转轴（33）上套接有侧部转盘（34），所述的侧部转盘（34）上设置有与半导体芯片配合的载具，所述的侧部转盘（34）位于中部检测转盘（12）的下部，且侧部转盘（34）与中部检测转盘（12）配合时，侧部转盘（34）上的一个载具与穿过中部检测转盘（1...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄红梅，
申请(专利权)人：黄红梅，
类型：发明
国别省市：广东,44