芯片吸取及测试组合机构制造技术

本实用新型专利技术公开一种芯片吸取及测试组合机构，包括连接板、固定环、吸嘴、测试模及下压阀芯，所述连接板具有内腔，所述固定环密封地固定于所述内腔内，所述吸嘴固定于所述固定环的下端，所述下压阀芯滑动地套接于所述固定环的通孔内，所述测试模滑动地且呈间隙地置于所述吸嘴内且与所述下压阀芯的下端固定连接，所述下压阀芯的中心孔分别与所述吸嘴及真空气源连通；所述下压阀芯与所述连接板之间的空腔与压力气源连通。本实用新型专利技术芯片吸取及测试组合机构具有自动测试、提高生产效率、测试结果稳定的优点。

【技术实现步骤摘要】
芯片吸取及测试组合机构
本技术涉及一种吸嘴机构，尤其涉及一种芯片吸取及测试组合机构。
技术介绍
目前生产线采用的指纹识别功能测试，一般都是在电性能测试之后进行，其方法有以下两种：第一种方法是：由人工将单颗IC芯片吸放到测试座，然后采用手持式导电硅胶测试模块与芯片上表面接触，并施加一定的压力，观察屏幕显示的结果，确认指纹测试是否合格，合格品归类存放，次品直接剔除。此种方法存在的缺陷是：效率低、测试结果不稳定、手工环节过多，容易损坏产品。第二种方法是：在芯片切割前，由人工将IC料条手动放到一个电测平台定位并压平，正上方带有若干个导电硅胶的测试模块下压，每一个导电硅胶接触到对应的IC芯片上表面，并保持5秒钟时间，控制系统显示指纹测试结果，指纹测试不通过的部分芯片，由人工使用记号笔将次品料标记，以便在芯片切割后将次品剔除。此种方法存在的缺陷是：多个导电硅胶测试模块的力度不均匀，测试结构不稳定；人工标记的次品，在切割时还需配备视觉模块读取人工标记并进行次品分选，在生产线上增设了指纹测试工位，增加了设备成本及人工成本。另外，此种方法是在切割前进行测试，切割过程产生的次品将无法去处，降低了成品合格率。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种自动测试、提高生产效率、测试结果稳定的芯片吸取及测试组合机构。为了实现上述目的，本技术提供的芯片吸取及测试组合机构包括连接板、固定环、吸嘴、测试模及下压阀芯，所述连接板具有内腔，所述固定环密封地固定于所述内腔内，所述吸嘴固定于所述固定环的下端，所述下压阀芯滑动地套接于所述固定环的通孔内，所述测试模滑动地且呈间隙地置于所述吸嘴内且与所述下压阀芯的下端固定连接，所述下压阀芯的中心孔分别与所述吸嘴及真空气源连通；所述下压阀芯与所述连接板之间的空腔与压力气源连通。由于本技术在所述固定环的下端设置吸嘴，并且在所述固定环内设置下压阀芯，再在所述下压阀芯的下端连接测试模，且使所述测试模内置于所述吸嘴内，因此，通过在所述下压阀芯的中心孔内通入真空气源，从而可以使真空气源透过所述测试模与所述吸嘴之间的间隙抽真空，使所述吸嘴能对芯片进行真空吸附，达到吸取芯片的目的；另外，通过对所述下压阀芯与连接板之间的空腔通入高压气体，从而可以推动所述下压阀芯向下移动，进而使所述测试模伸出所述吸嘴，对芯片进行测试。本申请当芯片被吸取放置于电性能测试座进行测试后，可通过测试模在原地快速地进行指纹测试，无需要额外的测试工序，极大地提高了生产效率，而且测试无需人工手动操作，自动测试，测试效果好。较佳地，所述下压阀芯套接有第一复位件，以使所述测试模缩入所述吸嘴内而复位。较佳地，所述下压阀芯的上、下端分别设有第一密封圈、第二密封圈，以使所述下压阀芯的上端与所述内腔密封地连接，下端与所述通孔密封连接。较佳地，所述内腔的上端设有第三密封圈，以使其与外界密封连接，所述固定环的下端套接有第四密封圈，以使其与所述内腔密封连接。较佳地，所述下压阀芯中部套设有气动活塞封。较佳地，所述芯片吸取及测试组合机构还包括限位板，所述限位板固定于所述连接板以抵顶所述固定环。具体地，所述固定环与所述连接板之间设有第二复位件。较佳地，所述连接板上设有快速锁扣。较佳地，所述连接板上设有导向定位套。较佳地，所述连接板上设有固定扣连接座。附图说明图1是本技术芯片吸取及测试组合机构的结构图。图2是本技术芯片吸取及测试组合机构的分解图。图3是本技术芯片吸取及测试组合机构中的吸嘴与测试模的结构图。具体实施方式为详细说明本技术的
技术实现思路
、构造特征、所实现的效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。如图1、图2及图3所示，本技术芯片吸取及测试组合机构100包括连接板1、固定环2、吸嘴3、测试模4及下压阀芯5，所述连接板1具有内腔11，所述固定环2密封地固定于所述内腔11内，所述吸嘴3固定于所述固定环2的下端；所述下压阀芯5滑动地套接于所述固定环2的通孔21内，所述下压阀芯5中部套设有气动活塞封51，所述气动活塞封51与所述通孔21密封连接；所述测试模4滑动地且呈间隙地置于所述吸嘴3内且与所述下压阀芯5的下端固定连接，所述测试模4为指纹模，用于指纹测试，其与芯片指纹触点接触的材料的是导电硅胶，材质软，不会损失产品，其形状可以为方形或长条形，只需根据芯片的形状选择不同的模块即可；所述下压阀芯5的中心孔52分别与所述吸嘴3及真空气源连通；所述下压阀芯5的上端伸出所述通孔21，以使所述下压阀芯5与所述连接板1之间形成空腔，所述空腔与压力气源连通。所述下压阀芯5套接有第一复位件53，所述第一复位件53为压缩弹簧，以使所述测试模4缩入所述吸嘴3内而复位。再如图2所示，所述下压阀芯5的上、下端分别设有第一密封圈54、第二密封圈55，以使所述下压阀芯5的上端与所述内腔11密封地连接，下端与所述通孔21密封连接，从而形成所述空腔。所述内腔11的上端还设有第三密封圈12，以使所述内腔11与外界密封连接，所述固定环2的下端通过环槽套接有第四密封圈22，以使其与所述内腔11密封连接。通过设置多个密封圈，可以保证所述下压阀芯5及所述固定环2与所述连接板1能密封连接，从而为真空气源及压力气源作为动力提供可靠的保证。所述芯片吸取及测试组合机构100还包括限位板6，所述限位板6固定于所述连接板1以抵顶所述固定环2。所述固定环2与所述连接板1之间设有第二复位件23。所述连接板1上设有快速锁扣13、导向定位套14及固定扣连接座15。所述快速锁扣13设置于所述固定扣连接座15上。综合上述，本技术芯片吸取及测试组合机构100在吸取指纹芯片时，所述真空气源从所述下压阀芯5的中心孔52进入到所述吸嘴3与所述测试模4之间的间隙31内，所述吸嘴3下移到所述芯片的上表面，形成一个密闭的真空腔体，产生-75kPa真空度；将芯片吸起并移放到芯片测试座进行常规电性能测试。当电性能测试完成后，所述真空气源断开，所述压力气源供气，压缩空气通过气接头7进入到所述连接板1的内腔11内，再进入所述连接板1与所述下压阀芯5之间的空腔内，从而驱动所述下压阀芯5下移，所述下压阀芯5带动所述测试模4下移并伸出所述吸嘴3，这时，所述测试模4下压到芯片的指纹识功能测试区域，并保持3秒钟，设备软件就可以自动读取并储存指纹识别功能测试的结果，完成芯片的指纹识别功能测试工序。由于本技术在所述固定环2的下端设置吸嘴3，并且在所述固定环2内设置下压阀芯5，再在所述下压阀芯5的下端连接测试模4，且使所述测试模4内置于所述吸嘴3内，因此，通过在所述下压阀芯5的中心孔52内通入真空气源，从而可以使真空气源透过所述测试模4与所述吸嘴3之间的间隙抽真空，使所述吸嘴3能对芯片进行真空吸附，达到吸取芯片的目的；另外，通过对所述下压阀芯5与连接板1之间的空腔通入高压气体，从而可以推动所述下压阀芯5向下移动，进而使所述测试模4伸出所述吸嘴3，对芯片进行测试。本申请当芯片被吸取放置于电性能测试座进行测试后，可通过测试模4在原地快速地进行指纹测试，无需要额外的测试工序，极大地提高了生产效率，而且测试无需人工手动操作，自动测试，测试效果好。以上所揭露的仅为本技术的较佳实例而已，当然不能以此来限定本技术之权利范围，因本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片吸取及测试组合机构，其特征在于：包括连接板、固定环、吸嘴、测试模及下压阀芯，所述连接板具有内腔，所述固定环密封地固定于所述内腔内，所述吸嘴固定于所述固定环的下端，所述下压阀芯滑动地套接于所述固定环的通孔内，所述测试模滑动地且呈间隙地置于所述吸嘴内且与所述下压阀芯的下端固定连接，所述下压阀芯的中心孔分别与所述吸嘴及真空气源连通；所述下压阀芯与所述连接板之间的空腔与压力气源连通。

【技术特征摘要】
1.一种芯片吸取及测试组合机构，其特征在于：包括连接板、固定环、吸嘴、测试模及下压阀芯，所述连接板具有内腔，所述固定环密封地固定于所述内腔内，所述吸嘴固定于所述固定环的下端，所述下压阀芯滑动地套接于所述固定环的通孔内，所述测试模滑动地且呈间隙地置于所述吸嘴内且与所述下压阀芯的下端固定连接，所述下压阀芯的中心孔分别与所述吸嘴及真空气源连通；所述下压阀芯与所述连接板之间的空腔与压力气源连通。2.如权利要求1所述的芯片吸取及测试组合机构，其特征在于：所述下压阀芯套接有第一复位件，以使所述测试模缩入所述吸嘴内而复位。3.如权利要求1所述的芯片吸取及测试组合机构，其特征在于：所述下压阀芯的上、下端分别设有第一密封圈、第二密封圈，以使所述下压阀芯的上端与所述内腔密封地连接，下端与所述通孔密封连接。4.如权利要求1所述的芯片吸取及测...

【专利技术属性】
技术研发人员：林宜龙，陈薇，刘飞，唐召来，
申请(专利权)人：深圳格兰达智能装备股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44