【技术实现步骤摘要】
芯片接合机以及接合方法
本专利技术涉及芯片接合机以及接合方法,尤其涉及产品质量高的芯片接合机以及接合方法。
技术介绍
在将芯片(半导体芯片)(以下,仅称作芯片)搭载于线路基板、引线框等基板而组装组件的工序的一部分中,有如下工序:从半导体晶片(以下,仅称作晶片)分割芯片的工序;以及将分割的芯片搭载于基板上或者将其层压于已接合的芯片的接合工序。作为进行接合工序的方法,有如下方法,即,将已拾取的芯片暂时放置于部件放置工作台(校准平台),并用接合头部从部件放置工作台再次拾取芯片,而将其接合于被搬运来的基板(专利文献1)。另一方面,在Flash存储器、移动RAM(RandomAccessMemory)等中,有层压没有旋转的0度的芯片与旋转了180度的芯片而进行接合的要求。在如专利文献1那样的将芯片暂时放置的技术中,为了响应其要求,使接合头部旋转180度而进行接合。专利文献1:日本特开2009-246285号公报然而,若使接合头部旋转,则由于旋转轴的倾斜度或者旋转轴与筒夹之间的倾斜度而使接合面倾斜。以0度、180度中的一个来进行调整,但即使能够将其中一个的姿势调整为正确的,也会使另一个的姿势有倾斜度。其结果,若相对于已接合的芯片旋转180度而层压芯片并进行接合,则有在芯片与芯片之间产生空隙的忧虑。并且,产生因倾斜度而引起的旋转中心偏移,从而使层压精度下降。结果,由于这些主要因素而使产品的质量下降。并且,即使单纯地将芯片接合于基板、或是用其它的姿势来接合均会相同地产生倾斜,虽然不如层压的情况严重,但存在相同的课题。
技术实现思路
因此,本专利技术的目的在于,尤其能够提供如下 ...
【技术保护点】
一种芯片接合机,其特征在于,具有:芯片供给部,其保持晶片;拾取头部,其从上述晶片拾取芯片,并将上述芯片放置于校准平台;接合头部,其从上述校准平台拾取上述芯片,并将其接合于基板或者已接合的上述芯片上;以及芯片旋转机构,其在上述接合头部从上述校准平台拾取上述芯片之前,使上述芯片的姿势在与上述接合的面平行的面旋转规定角度。
【技术特征摘要】
2011.09.15 JP 2011-2022731.一种芯片接合机,其特征在于,具有:芯片供给部,其具有保持晶片的晶片保持台及将芯片从上述晶片顶出的顶出单元;拾取部,其具有从上述晶片拾取芯片并将上述芯片放置于校准平台的拾取头部,以及使上述拾取头部移动的驱动部;平台识别照相机,其用于识别上述校准平台上的上述芯片;搬运部,其用于将基板从基板供给部搬运至接合位置;接合部,其具有从上述校准平台拾取上述芯片并将其接合于上述基板上已接合的芯片上的接合头部,以及用于使上述接合头部从上述校准平台向上述接合位置移动的移动部;以及芯片旋转机构,其使上述芯片的姿势在与上述接合的面平行的面旋转,上述芯片旋转机构为使上述拾取头部旋转的机构或者使上述校准平台旋转的机构,其在上述接合头部从上述校准平台拾取上述芯片之前,使上述芯片旋转规定角度,上述接合头部基于上述平台识别照相机的识别结果使拾取的芯片旋转来修正姿势,上述规定角度为180度或者90度,通过上述接合头部进行的旋转比通过上述芯片旋转机构进行的旋转小。2.根据权利要求1所述的芯片接合机,其特征在于,具有判断机构,该判断机构在上述接合头部从上述校准平台拾取上述芯片之前,判断是否需要使上述芯片旋转上述规定角度。3.根据权利要求1所述的芯片接合机,其特征在于,上述拾取头部在上述芯片供给部和上述校准平台之间沿着Y方向移动。4.根据权利要求3所述的芯片接合机,其特征在于,上述接合头部在上述校准平台和上述已接合的芯片之间沿着上述Y方向移动。5.根据权利要求3或4所述的芯片接合机,其特征在于,上述芯片供给部能够保持1张晶片,上述校准平台能够放置1个或者2个上述芯片。6.一种芯片接合机,其特征在于,具有:芯片供给部,其保持晶片;拾取头部,其从上述晶片拾取芯片,并将上述芯片放置于校准平台;接合头部,其从上述校准平台拾取上述芯片,并将其接合于已接合的芯片上;以及芯片旋转机构,其在上述接合头部从上述校准平台拾取上述芯片之前,使上述芯片的姿势在与上述接合的面平行的面旋转规定角度,上述芯片旋转机构为使上述拾取头部旋转的机构,上述规定角度为180度或者90度,上述芯片供给部保持多张晶片,该芯片接合机设置有2台上述校准平台,2台上述校准平台能够放置多个芯片,该芯片接合机具有使2台上述校准平台与上述接合头部的移动方向平行地向相互相反的方向移动的机构。7.一种接合方法,其特征在于,具有:拾取步骤,在该步骤中,利用拾取头部从晶片上拾取芯片并将上述芯片放置于校准平台;接合步骤,在该步骤中,利用接合头部从上述校准平台拾取上述芯片并将其接合于已接合的芯片上;芯片旋转步骤,在该步骤中,在上述接合头部从上述校准平台拾取上述芯片之前,使上述芯片的姿势在与上述接合的面平行的面上旋转规定角度,以及...
【专利技术属性】
技术研发人员:牧浩,望月政幸,谷由贵夫,望月威人,
申请(专利权)人:株式会社日立高新技术仪器,
类型:发明
国别省市:
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