本实用新型专利技术提供了一种检具测量结构总成，该检具测量结构总成包括：底座，位于底座上、平行设置的两个滑轨结构，两端分别与两个滑轨结构连接的测量卡板，位于两个滑轨结构中间的检具本体，用于将待测零件与检具本体固定的零件压紧器；检具本体位于测量卡板下方，检具本体与测量卡板之间形成容置待测零件的空间；滑轨结构包括轨道与滑块；测量卡板与滑块连接，并随滑块在轨道上滑动。本实用新型专利技术提供的检具测量结构总成，增加了滑轨结构，减少了测量卡板数量，实现了检具结构的优化设计，在满足测量要求的前提下降低了检具设计成本，优化检具测量结构及测量操作过程。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及零件测量领域，特别涉及一种检具测量结构总成。
技术介绍
检具是工业生产中用于控制产品各种尺寸(例如孔径、空间尺寸等)的简捷工具，以提高生产效率和控制质量，适用于大批量生产的产品，如汽车零部件，以替代专业测量工具，如光滑塞规、螺纹塞规、外径卡规等。对于汽车而言，外观质量是影响客户对整车感知评价的重要影响因素，它决定了客户对汽车品牌的评价及认可程度，从而影响汽车品牌的销量和口碑，因此为了保证整车外观“精致性”，必须从控制影响整车拼装精度的零部件精度入手。而检具作为线下检测零部件及总成合格率的主要工具，成为评判零部件精度的最重要方式之一。成熟的检具能够方便、高效的测量零部件功能区域，并为零部件的修改提供指导。而传统的检具在测量等截面的长零件时需要使用多个测量卡板对不同位置的零件表面进行测量，造成检具制造成本增加，结构冗杂，测量操作过程繁琐等问题。
技术实现思路
本技术提供了一种检具测量结构总成，其目的是为了解决传统的检具在测量等截面的长零件时需要使用多个测量卡板对不同位置的零件表面进行测量，造成检具制造成本增加，结构冗杂，测量操作过程繁琐等问题。为了达到上述目的，本技术的实施例提供了一种检具测量结构总成，包括:底座，位于底座上、平行设置的两个滑轨结构，两端分别与两个滑轨结构连接的测量卡板，位于两个滑轨结构中间的检具本体，用于将待测零件与检具本体固定的零件压紧器；检具本体位于测量卡板下方，检具本体与测量卡板之间形成容置待测零件的空间；滑轨结构包括轨道与滑块；测量卡板与滑块连接，并随滑块在轨道上滑动。进一步地，测量卡板与滑块通过一连接块连接；连接块固定在滑块上；连接块通过穿设第一螺栓与测量卡板连接。进一步地，该检具测量结构总成还包括用于将待测零件与检具本体固定的定位销，检具本体上设有与定位销配合的定位孔。进一步地，轨道通过穿设螺栓固定在底座上。进一步地，零件压紧器设有四个。 进一步地，底座下方设有四个万向轮结构。本技术的上述方案有如下的有益效果:本技术提供的检具测量结构总成，增加了滑轨结构，减少了测量卡板数量，实现了检具结构的优化设计，在满足测量要求的前提下降低了检具设计成本，优化检具测量结构及测量操作过程。【附图说明】图1为本技术的实施例所述的检具测量结构总成的结构示意图；图2为本技术的实施例所述的检具测量结构总成的爆炸图；图3为本技术的实施例所述的检具测量结构总成的主视图。附图标记说明:1、底座；2、滑轨结构；3、测量卡板；4、检具本体；5、零件压紧器；6、轨道；7、滑块；8、连接块；9、第一螺栓；10、定位销；11、万向轮结构；12、待测零件。【具体实施方式】为使本技术要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。参见图1-图3，本技术针对现有的问题，提供了一种检具测量结构总成，该检具测量结构总成包括:底座1，位于底座I上、平行设置的两个滑轨结构2，两端分别与两个滑轨结构2连接的测量卡板3，位于两个滑轨结构2中间的检具本体4，用于将待测零件12与检具本体4固定的零件压紧器5 ;进一步地，零件压紧器5设有四个。检具本体4位于测量卡板3下方，检具本体4与测量卡板3之间形成容置待测零件12的空间；其中，检具本体4的形状依据待测零件12的形状而定，每个待测零件12可配置一个检具本体4。滑轨结构2包括轨道6与滑块7，滑块7在轨道6上滑动；测量卡板3与滑块7连接，并随滑块7在轨道6上滑动。进一步地，轨道6通过穿设螺栓固定在底座I上，可根据测量卡板3的宽度改变轨道6的位置。进一步地，测量卡板3与滑块7通过一连接块8连接；连接块8固定在滑块7上；连接块8通过穿设第一螺栓9与测量卡板3连接；连接块8随滑块7滑动，并带动测量卡板3滑动。进一步地，该检具测量结构总成还包括用于将待测零件12与检具本体4固定的定位销10，检具本体4上设有与定位销10配合的定位孔。定位销10配合零件压紧器5，目的是为了固定待测零件12，避免产生测量误差。进一步地，底座I下方设有四个万向轮结构11。在进行对待测零件12的测量时，通过定位销10和零件压紧器5将待测零件固定在检具本体上；需要移动测量卡板3的位置时，移动滑块7便可带动测量卡板3移动，实现对待测零件12的表面质量的测量。本技术提供的检具测量结构总成，增加了滑轨结构2，减少了测量卡板3的数量，实现了检具结构的优化设计，在满足测量要求的前提下降低了检具设计成本，优化了检具测量结构及测量操作过程。以上所述是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。【主权项】1.一种检具测量结构总成，其特征在于，包括:底座(I)，位于所述底座(I)上、平行设置的两个滑轨结构(2)，两端分别与两个滑轨结构(2)连接的测量卡板(3)，位于两个滑轨结构(2)中间的检具本体(4)，用于将待测零件(12)与所述检具本体(4)固定的零件压紧器(5)； 所述检具本体(4)位于所述测量卡板(3)下方，所述检具本体(4)与测量卡板(3)之间形成容置待测零件(12)的空间； 所述滑轨结构(2)包括轨道(6)与滑块(7);所述测量卡板(3)与所述滑块(7)连接，并随所述滑块(7)在所述轨道(6)上滑动。2.如权利要求1所述的检具测量结构总成，其特征在于，所述测量卡板(3)与所述滑块(7)通过一连接块(8)连接；所述连接块(8)固定在所述滑块(7)上；所述连接块(8)通过穿设第一螺栓(9)与所述测量卡板(3)连接。3.如权利要求1所述的检具测量结构总成，其特征在于，所述检具测量结构总成还包括用于将待测零件(12)与所述检具本体(4)固定的定位销(10)，所述检具本体(4)上设有与所述定位销(10)配合的定位孔。4.如权利要求1所述的检具测量结构总成，其特征在于，所述轨道(6)通过穿设螺栓固定在所述底座(I)上。5.如权利要求1所述的检具测量结构总成，其特征在于，所述零件压紧器(5)设有四个。6.如权利要求1所述的检具测量结构总成，其特征在于，所述底座(I)下方设有四个万向轮结构(11)。【专利摘要】本技术提供了一种检具测量结构总成，该检具测量结构总成包括：底座，位于底座上、平行设置的两个滑轨结构，两端分别与两个滑轨结构连接的测量卡板，位于两个滑轨结构中间的检具本体，用于将待测零件与检具本体固定的零件压紧器；检具本体位于测量卡板下方，检具本体与测量卡板之间形成容置待测零件的空间；滑轨结构包括轨道与滑块；测量卡板与滑块连接，并随滑块在轨道上滑动。本技术提供的检具测量结构总成，增加了滑轨结构，减少了测量卡板数量，实现了检具结构的优化设计，在满足测量要求的前提下降低了检具设计成本，优化检具测量结构及测量操作过程。【IPC分类】G01B5/00【公开号】CN204881396【申请号】CN201520561454【专利技术人】贾治域, 李松, 代彤, 潘强, 吴锦 【申请人】北京汽车股份有限公司【公开日】2015年12月16日【申请日】2015年7月29日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检具测量结构总成，其特征在于，包括：底座(1)，位于所述底座(1)上、平行设置的两个滑轨结构(2)，两端分别与两个滑轨结构(2)连接的测量卡板(3)，位于两个滑轨结构(2)中间的检具本体(4)，用于将待测零件(12)与所述检具本体(4)固定的零件压紧器(5)；所述检具本体(4)位于所述测量卡板(3)下方，所述检具本体(4)与测量卡板(3)之间形成容置待测零件(12)的空间；所述滑轨结构(2)包括轨道(6)与滑块(7)；所述测量卡板(3)与所述滑块(7)连接，并随所述滑块(7)在所述轨道(6)上滑动。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：贾治域，李松，代彤，潘强，吴锦，
申请(专利权)人：北京汽车股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11
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