一种花键轴工件的测量检具制造技术

本发明专利技术揭示了一种花键轴工件的测量检具，其包括高度尺，其中所述高度尺的移动主体上连接有百分表。本发明专利技术涉及的一种花键轴工件的测量检具，其结构简单，可以直接现场进行花键轴工件的相位角检测，使用便捷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于测量工件加工尺寸精度的测量检具，特别是，适用于花键轴工件的相位角测量。
技术介绍
通常，加工好的工件在完成加工后，都是需要进行一定的尺寸测量检测，以便确定，其是否为合格产品。例如，常见的，使用长度检具游标卡尺对工件的外形尺寸进行测量，以确定工件的外形尺寸是否符合要求。但对于一些特别形状的工件，对其特别构型的测量，往往需要制作相应的测量检具，才能满足测量要求。特别是，对于某些类型的工件，其上的两个或多个结构特征是关联的，需要配合，才能与相应的结构配接。若其中的某一个构型尺寸出现问题，则会影响到其他关联特征构型，从而使得工件整体，不能与对应结构完成配接，导致工件报废。例如，以花键轴工件为例，其尾部的花键部结构，和其头部的扁孔结构之间，存在有一个相位角。若是在加工过程中，出现加工偏差，导致其相位角出现偏差，则会使得花键轴后续不能配接。而由于花键轴工件的相位角测量比较精细，目前业界还没有比较简单的现场测量检具，能够对其进行现场直接检测，这对于工件的现场质检来说，是很不方便的。因此，确有必要来开发一种新型的现场测量检具，来克服现有技术中的缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种花键轴工件的测量检具，其结构简单，可以直接现场进行花键轴工件的相位角检测，使用便捷。为了实现上述目的，本专利技术采用的技术方案如下：一种花键轴工件的测量检具，其包括高度尺，其中所述高度尺的移动主体上连接有百分表。进一步的，其中所述百分表连接在所述高度尺移动主体的侧部。进一步的，其还包括工作台，用于放置所述花键轴工件。进一步的，其中所述工作台上设置有花键定位套，用于收容所述花键轴的花键部，从而定位所述花键轴工件。相对于现有技术，本专利技术具有以下有益效果：本专利技术涉及的一种花键轴工件的测量夹具，其结构简单，采用高度尺结合百分表，来进行花键轴工件的相位角测量，简单、直观，可以直接现场进行操作，十分便利。附图说明图1是本专利技术涉及的一个实施方式提供的一种花键轴工件的测量检具的结构示意图；图2是图1所示的一种花键轴工件的测量检具，其测量的花键轴工件的结构示意图；图3是图2所示的花键轴工件，其头部扁孔部的俯视图。图中的附图标记说明如下。具体实施方式以下将结合说明书附图对本专利技术涉及的一种立式夹持装置的技术方案作进一步的详细说明。请参阅图1所示，本专利技术的一个实施方式，提供了一种花键轴工件的测量检具，其包括有高度尺10。其中所述高度尺的移动主体12的侧部上设置有百分表11。进一步的，其还包括工作台14，所述工作台14上设置有花键定位套16，用于收容所述花键轴工件的花键部，从而定位所述花键轴工件20。使用时，先将花键轴工件20，放入所述工作台14上的花键定位套16，即其花键部22收容在所述花键定位套16内，而其扁孔部24显露于外。然后将所述百分表11的探针部13，伸入到所述扁孔部24内，分别测量其底部平面的第一测量点26和第二测量点28，两测量点位置，请参看图3所示。具体的，通过检测两测量点的水平高度差，然后再换算成角度值，即为两者间的相位角误差，若误差在允许范围内，则是合格产品。例如，在一个具体实施方式中，若测得两者的差值小于0.2，即可认为该测量的花键轴工件，其相位角合格。本专利技术涉及的一种花键轴工件的测量夹具，其结构简单，采用高度尺结合百分表，来进行花键轴工件的相位角测量，简单、直观，可以直接现场进行操作，十分便利。以上所述仅为本专利技术的一个实施例而已，并不用于限制此专利技术。凡在本专利技术的精神和原则内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种花键轴工件的测量检具；其特征在于，其包括高度尺，其中所述高度尺的移动主体上连接有百分表。

【技术特征摘要】
1.一种花键轴工件的测量检具；其特征在于，其包括高度尺，其中所述高度尺的移动主体上连接有百分表。
2.根据权利要求1所述的一种花键轴工件的测量检具，其特征在于：其中所述百分表连接在所述高度尺移动主体的侧部。
3.根据权利要求1所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：董钢涛，张黎明，
申请(专利权)人：格林精密部件苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32