一种轴承凸出量测量检具制造技术

技术编号:14829280 阅读:297 留言:0更新日期:2017-03-16 15:34
本实用新型专利技术公开一种轴承凸出量测量检具,包括压盖、基座和弹簧座,所述基座内设有定位芯轴,所述定位芯轴贯穿所述基座且所述定位芯轴上端与弹簧座连接,下端与压盖连接,使得压盖、基座和弹簧座同轴度,在所述压盖和基座之间设置待测轴承,且待测轴承设置在所述定位芯轴上,所述基座中设有直线轴承,所述直线轴承对待测轴承施加力。本实用新型专利技术结构简单,拆装方便,实用,另外,测量结果准确,可靠性高。

【技术实现步骤摘要】

本技术特别涉及一种轴承凸出量测量检具,本技术用于测量轴承凸出量。
技术介绍
在主轴设计过程中使用成对轴承,但是外购选用的轴承可能出现不成对的情况,需要专用检具检测轴承在额定载荷值下的内外圈高度差,即轴承的凸出量,根据凸出量值来准确调整轴承的配对。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种轴承凸出量测量检具。本技术的技术方案是:一种轴承凸出量测量检具,包括压盖、基座和弹簧座,所述基座内设有定位芯轴,所述定位芯轴贯穿所述基座且所述定位芯轴上端与弹簧座连接,下端与压盖连接,使得压盖、基座和弹簧座同轴度,在所述压盖和基座之间设置待测轴承,且待测轴承设置在所述定位芯轴上,所述基座中设有直线轴承,所述直线轴承对待测轴承施加力。优选地,所述弹簧座与定位芯轴之间设置调整片,通过调节调整片的高度控制弹簧座上弹簧力的大小,即待测轴承的预载荷。优选地,所述定位芯轴上端与弹簧座通过螺钉连接。优选地,所述定位芯轴下端与压盖通过螺钉连接。优选地,还包括测杆,所述测杆贯穿弹簧座和基座设置。本技术具有的有益的效果是:本技术结构简单,拆装方便,实用,另外,测量结果准确,可靠性高。附图说明图1为本技术轴承凸出量测量检具结构剖视图;图中:1压盖,2定位芯轴,3测杆,4基座,5直线轴承,6调整片,7弹簧座。具体实施方式结合附图对本技术做进一步的说明:一种轴承凸出量测量检具,包括压盖、基座和弹簧座,所述基座内设有定位芯轴,所述定位芯轴贯穿所述基座且所述定位芯轴上端与弹簧座连接,下端与压盖连接,使得压盖、基座和弹簧座同轴度,在所述压盖和基座之间设置待测轴承,且待测轴承设置在所述定位芯轴上,所述基座中设有直线轴承,所述直线轴承对待测轴承施加力。如图1所示,一种轴承凸出量测量检具,包括压盖1、测杆3、基座4和弹簧座7,所述基座4内设有定位芯轴2,所述测杆3贯穿弹簧座7和基座4设置,所述定位芯轴2贯穿所述基座4且所述定位芯轴2上端与弹簧座7连接,下端与压盖1连接,使得压盖1、基座4和弹簧座7同轴度,在所述压盖1和基座4之间设置待测轴承,且待测轴承设置在所述定位芯轴2上,所述基座4中设有直线轴承5,所述直线轴承5对待测轴承施加力,其中,所述弹簧座7与定位芯轴2之间设置调整片6,通过调节调整片6的高度控制弹簧座上弹簧力的大小,即待测轴承的预载荷,所述定位芯轴2上端、下端分别通过螺钉与弹簧座7、压盖1连接。装入轴承,通过调整调整片的高度,控制弹簧力来保证轴承的预载荷。根据不同规格的轴承调整弹簧力,直线轴承使轴承受力均匀,以底平面为基准,利用测高仪器分别测量轴承内圈、外圈到底平面高度△1、△2。则轴承凸出量△=△1-△2。为了确保测量结果的可靠性,测量轴承圆周均布3个点的高度差,之后取平均值。最后应说明的是:以上所述仅为说明本技术的实施方式,并不用于限制本技术,对于本领域的技术人员来说,凡在本技术的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...
一种轴承凸出量测量检具

【技术保护点】
一种轴承凸出量测量检具,其特征在于,包括压盖、基座和弹簧座,所述基座内设有定位芯轴,所述定位芯轴贯穿所述基座且所述定位芯轴上端与弹簧座连接,下端与压盖连接,使得压盖、基座和弹簧座同轴度,在所述压盖和基座之间设置待测轴承,且待测轴承设置在所述定位芯轴上,所述基座中设有直线轴承,所述直线轴承对待测轴承施加力。

【技术特征摘要】
1.一种轴承凸出量测量检具,其特征在于,包括压盖、基座和弹簧座,所述基座内设有定位芯轴,所述定位芯轴贯穿所述基座且所述定位芯轴上端与弹簧座连接,下端与压盖连接,使得压盖、基座和弹簧座同轴度,在所述压盖和基座之间设置待测轴承,且待测轴承设置在所述定位芯轴上,所述基座中设有直线轴承,所述直线轴承对待测轴承施加力。2.根据权利要求1所述的轴承凸出量测量检具,其特征在于,所述弹簧座...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱永华陈锡良
申请(专利权)人:无锡博华机电有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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