一种预载≤10N的轴承凸出量测量装置制造方法及图纸

一种施加预载≤１０Ｎ下轴承凸出量的测量装置，底座６放在磁力表架７的平台７．１上，引导套筒４由螺钉５紧固在底座上，在引导套筒内可装入标准块８或待测轴承３，标准块或待测轴承上配置负荷块２，磁力表架支撑臂７．２上安装的千分表１测头指在负荷块的顶尖孔中。测量方法采用比较法，预先制作空心标准块和负荷块备用，标准块的外形尺寸与待测轴承的外形尺寸相同，负荷块的重量与待测轴承的设计预载荷一致，标准块的外径或待测轴承的外径与引导套筒的内径滑配。该测量方法及装置不需要任何电、气等动力源，通过将不同重量的负荷块直接加在轴承上，以负荷块的重量为载荷对轴承加载，通过与标准块对比测量，可测出轴承凸出量值。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于轴承检测
，特别涉及到一种预载《10N的轴承凸 出量测量装置。
技术介绍
成对轴承通过施加预载荷，可以大大提高轴承的刚度和使用寿命，提高系 统的稳定性和旋转精度，因此广泛应用于精密机床主轴、高速电主轴等高精度 轴系。成对使用的轴承一般采用角接触球轴承，凸出量的大小直接影响到成对轴 承的预载大小，从而影响到轴系的旋转精度、刚度、振动、噪音等，因此有专 门测试轴承凸出量的仪器。该仪器通常采用气动方式，要求使用场所有足够压 力的气源，然而这种仪器只适合测量不小于20N的预载下轴承的凸出量，而不 能测量《10N预载荷下的轴承凸出量，尤其不适用测量微型或薄壁轴承凸出量。 截至目前还未见到相关报道。
技术实现思路
为了解决上述问题，本技术设计了一种预载《10N的轴承凸出量测量 装置，该装置不需要任何电、气等动力源，通过将不同重量的负荷块直接加在 轴承上，以负荷块的重量为载荷对轴承加载，通过与标准块对比测量，可测出 轴承凸出量值。为了实现上述专利技术目的，本技术采用了如下技术方案所述的预载《10N的轴承凸出量测量装實主要由底座、引导套筒、负荷块、 标准块构成，其中底座放在磁力表架的平台上，引导套筒由螺钉紧固在底座上， 在引导套筒内可装入标准块或待测轴承，标准块或待测轴承上配置负荷块，磁 力表架支撑臂上安装的千分表测头指在负荷块的顶尖孔中。所述的预载《10N的轴承凸出量测量装置，其标准块的外形尺寸与待测轴承的外形尺寸相同，负荷块的重量与待测轴承的设计预载荷一致，标准块的外 径或待测轴承的外径与弓1导套筒的内径滑动配合。由于采用了如上所述的技术方案，本技术产生如下积极效果1、 测量装置结构简单，易于保证其加工精度；2、 测量装置不需额外准备电、气等动力源；3、 可根据需要改变负荷块或标准块的体积和重量，以方便测量待测轴承在 不大于ION预载下的凸出量值；4、 适用面广，适用于薄壁及其他尺寸系列的轴承，亦可用于角接触球轴承 和深沟球轴承。附图说明图1是本技术的测量装置结构示意图； 图2是标准块结构示意上述图中l一千分表；2—负荷块；3 —待测轴承；4一引导套筒；5 —螺 钉；6 —底座；7 —磁力表架；7. l—平台；7.2 —支撑臂；8 —标准块。具体实施方式结合图l、 2，本技术的预载《10N的轴承凸出量测量装置主要由底座 (6)、引导套筒(4)、负荷块(2)、标准块(8)构成，其中底座(6)放在磁力表架(7)的 平台(7. l)上，弓l导套筒(4)由螺钉(5)紧固在底座(6)上，在引导套筒(4)内可装入标准块(8)或待测轴承(3)，标准块(8)或待测轴承(3)上配置负荷块(2)，磁力表架 (7)支撑臂(7. 2)上安装的千分表(1)测头指在负荷块②的顶尖孔中。本技术的预载《10N的轴承凸出量测量装置，其标准块(8)的外形尺寸 与待测轴承(3)的外形尺寸相同，负荷块的重量(2)与待测轴承(3)的设计预载荷 一致，标准块(8)的外径或待测轴承(3)的外径与引导套筒(4)的内径滑动配合。本技术的测量装置可以采用比较法，以测量B71700轴承的凸出量为 例，该轴承外形尺寸为10X15X2. 5ram，内圈带斜坡，需测量轴向载荷5N下有 斜坡面的凸出量。由于该型号轴承为内圈带斜坡，而负荷是加于内圈上的，因 此在测凸出量时应将轴承内圈带斜坡的一端向下放置，保证测试是在满足轴承 工作状态下进行。设计要求测量有斜坡面的凸出量，即需测量的是负荷块接触 端相对面的凸出量，根据上面所述，应先测出标准块的实际高度偏差和待测轴 承内圈的实际高度偏差，具体步骤如下1、 预制标准块的内径IO mm、外径15腿、高度2. 5 mm。2、 预制重量为5N的负荷块，使其与轴承内径滑配，间隙量为0.02士0.01mm，并且压在内圈端面上，不能碰到保持器和外圈。3、 测量到标准块的高度为2.495mm，即AB标为-5um;测量出待测凸出量 的轴承内圈高度为2.482 mm，艮卩AB内为-18"m。4、 将千分表装在磁力表架的支撑臂上，标准块放入引导套筒内，当标准块 外径露出引导套筒一半左右时，拧紧引导套筒h的螺钉使其紧固在底座h;5、 将紧固后的底座放在磁力表架的平台上，压上负荷块，使千分表上的测 头指在负荷块的顶尖孔中，再将表调零；6、 取卜标准块和负荷块，换上待测轴承，再压上负荷块，同样使千分表上 的测头指在负荷块的顶尖孔中，此时千分表上示值在零位左面，与零位相差85 ym，记为+85um。7、 由计算公式T《+AB内-AB标，5代入数据 T=+85+ (-18) - (-5) 二72 (urn)即该套轴承内圈带斜坡端的凸出量为72ym，并且是内圈端面高于外圈端面。权利要求1、一种预载≤10N的轴承凸出量测量装置，其特征在于该装置主要由底座(6)、引导套筒(4)、负荷块(2)、标准块(8)构成，其中底座(6)放在磁力表架(7)的平台(7.1)上，引导套筒(4)由螺钉(5)紧固在底座(6)上，在引导套筒(4)内可装入标准块(8)或待测轴承(3)，标准块(8)或待测轴承(3)上配置负荷块(2)，磁力表架(7)支撑臂(7.2)上安装的千分表(1)测头指在负荷块(2)的顶尖孔中。2、 根据权利要求1所述的预载《10N的轴承凸出量测量装置，其特征在于: 标准块(8)的外形尺寸与待测轴承(3)的外形尺寸相同，负荷块(2)的重量与待测 轴承(3)的设计预载荷一致，标准块(8)的外径或待测轴承(3)的外径与引导套筒 (4)的内径滑动配合。专利摘要一种施加预载≤10N下轴承凸出量的测量装置，底座6放在磁力表架7的平台7.1上，引导套筒4由螺钉5紧固在底座上，在引导套筒内可装入标准块8或待测轴承3，标准块或待测轴承上配置负荷块2，磁力表架支撑臂7.2上安装的千分表1测头指在负荷块的顶尖孔中。测量方法采用比较法，预先制作空心标准块和负荷块备用，标准块的外形尺寸与待测轴承的外形尺寸相同，负荷块的重量与待测轴承的设计预载荷一致，标准块的外径或待测轴承的外径与引导套筒的内径滑配。该测量方法及装置不需要任何电、气等动力源，通过将不同重量的负荷块直接加在轴承上，以负荷块的重量为载荷对轴承加载，通过与标准块对比测量，可测出轴承凸出量值。文档编号G01B5/00GK201285268SQ20082022075公开日2009年8月5日 申请日期2008年10月30日 优先权日2008年10月30日专利技术者孟庆伟, 杨金福, 卫 石, 邱晋江, 阮伟芳 申请人:洛阳轴研科技股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种预载≤１０Ｎ的轴承凸出量测量装置，其特征在于：该装置主要由底座（６）、引导套筒（４）、负荷块（２）、标准块（８）构成，其中底座（６）放在磁力表架（７）的平台（７．１）上，引导套筒（４）由螺钉（５）紧固在底座（６）上，在引导套筒（４）内可装入标准块（８）或待测轴承（３），标准块（８）或待测轴承（３）上配置负荷块（２），磁力表架（７）支撑臂（７．２）上安装的千分表（１）测头指在负荷块（２）的顶尖孔中。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：阮伟芳，邱晋江，石卫，杨金福，孟庆伟，
申请(专利权)人：洛阳轴研科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：41[中国|河南]