【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种存储系统包括存储器，所述存储器包括被配置成检测存储器状态的状态检测电路、和被配置成输出通过状态检测电路检测的存储器状态的状态输出电路。存储器控制器被配置成响应于存储器状态来调整存储器的操作性能。【专利说明】相关申请的交叉引用本申请要求2013年2月28日提交的申请号为10-2013-0022061的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。
本公开的示例性实施例涉及一种存储器、一种存储器控制器以及一种包括所述存储器和所述存储器控制器的存储系统。
技术介绍
通常，存储器控制器控制诸如动态随机存取存储器(DRAM)的存储器。存储器控制器可以采用芯片组的形式存在于PC板上、中央处理单元(CPU)中或图形处理单元(GPU)中。由不同晶片制成的多个存储器可能会呈现出性能变化，这种变化可能是由存储器制造工艺期间的工艺参数的变化引起的。多个存储器的性能变化也可以取决于在操作工艺期间存储器的电压和温度状态的变化。为了避免包括多个存储器的存储系统发生故障，存储系统需要考虑具有最差性能的存储器。因此，存储系统需要采用比与具有较好性能的其它存储器相对应的...
【技术保护点】
一种存储系统，包括：存储器，所述存储器包括被配置成检测存储器状态的状态检测电路和被配置成输出通过所述状态检测电路检测的所述存储器状态的状态输出电路；以及存储器控制器，所述存储器控制器被配置成响应于所述存储器状态来调整所述存储器的操作性能。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋根洙，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR
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