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金属基带上适用于REBCO超导层生长的模板制备方法技术

技术编号:10348203 阅读:217 留言:0更新日期:2014-08-22 12:48
本发明专利技术是一种金属基带上适用于REBCO超导层生长的模板制备方法,属于高温超导材料制备技术领域。本发明专利技术包括以下步骤:(1)金属基带表面清洗;(2)采用化学溶液平坦化方法(SDP)在金属基带上制备隔离层;(3)采用离子束辅助射频磁控溅射方法(IBAD-MgO)在隔离层上制备双轴织构氧化镁层;(4)采用射频磁控溅射方法制备锰酸镧层;(5)采用直流磁控反应溅射方法制备氧化铈层。本发明专利技术通过物理与化学制备方法的综合应用,为规模化生产高温超导带材模板提供了一种低成本制备方法。

【技术实现步骤摘要】
金属基带上适用于REBCO超导层生长的模板制备方法
本专利技术属于高温超导涂层导体带材制备
,是一种金属基带上适用于REBCO超导层生长的模 板制备方法。
技术介绍
高温超导涂层导体带材是高温超导材料领域的研究热点之一,它的制备包括两部分:双轴织构基带制备和超导功能层制备。双轴织构基带制备工艺可分为两大类:离子束辅助沉积技术(1n Beam Assisted Deposition,缩写为IBAD)和轧制辅助双轴织构技术(Rolled Assisted Biaxially Textured Substrates,缩写为 RABiTS)。RABiTS 技术具有效率高、设备简单的优点,但是对基带有特殊的要求,现在主要用N1-W合金,机械性能差,成本较高,而且具有磁性,不利于交变磁场环境下应用。离子束辅助沉积技术(IBAD)对金属基带的材料没有特殊要求,可以选择成本较低的哈氏合金和不锈钢作为基带材料,而且,离子束辅助沉积双轴织构氧化镁的速度较高,从工业大规模生产较低来说,离子束辅助沉积氧化镁的相对成本较低。离子束辅助沉积氧化镁要求表面非常光滑的金属基带,抛光金属基带可以采用传统的抛光工艺如机械抛光和电化学抛光。机械抛光工艺成本高、效率低,不适于柔性金属长带的表面抛光;电化学抛光工艺仅适合一些特定的金属带材,而且化学废液对环境造成污染,废液处理成本较高。一种新的使金属基带表面光滑的方法是化学溶液平坦化方法,它通过在柔性金属基带表面涂覆一层氧化物前驱液,利用表面张力作用,在突起区域残留液少,在沟槽区域残留液多,液膜作为连续的整体对基带表面起到平整化作用;然后经过热处理,前驱液挥发、分解成非晶氧化物膜。这种非晶氧化物薄膜既有平坦化表面的作用,又具有隔离原子扩散的作用,是一种低成本工艺。双轴织构氧化镁与钇钡铜氧高温超导体的晶格差别较大,需要在双轴织构氧化镁层上制备缓冲层,既保持双轴织构,又能与超导层晶格匹配。现在一般用MgO (home-epi) /LMO(sputtering)多层膜结构作为缓冲层,MgO上同质外延MgO需要高温条件,使基底非晶氧化物转化为晶态而使表面粗糙,不利于后续工艺,而且同质外延生长MgO的速度较低,因此需要寻找替代MgO (home-epi)的方案。LMO层晶格常数介于MgO与超导层中间,但是与超导层晶格常数差别较大,不利于超导层的生长,因此需要寻找与超导层更匹配的材料。本专利技术解决了上述问题。
技术实现思路
本专利技术所要解决的目的是提供一种柔性金属基带上适用于REBCO超导层生长的低成本模板制备方法,用于工业化规模生产高温超导涂层导体带材。本专利技术通过以下技术方案实现,本专利技术依次通过化学溶液平整化方法在金属基带上制备隔离层,利用离子束辅助沉积制备双轴织构氧化镁层,利用射频磁控溅射制备锰酸镧层,利用直流反应磁控溅射制备氧化铈层,得到适用于REBCO超导层生长的低成本模板。本专利技术制备一种柔性金属基带上适用于REBCO超导层生长的低成本模板,模板多层膜结构见示意图1,具体制备过程包括以下步骤:(1)金属基带表面清洗; (2)采用化学溶液平坦化方法(SDP)在金属基带上制备隔离层; (3)采用离子束辅助射频磁控溅射方法(IBAD-MgO)在隔离层上制备双轴织构氧化镁层; (4)采用射频磁控溅射方法在双轴织构氧化镁层上制备锰酸镧层; (5)采用直流磁控反应溅射方法在锰酸镧层上制备氧化铈层; 步骤(1)采用我们自己的专利设备(一种柔性金属带材表面快速化学溶液平坦化设备),示意图见图2,清洗金属带材表面污物。步骤(2)采用我们自己的专利设备,一种柔性金属带材表面快速化学溶液平坦化设备,通过连续 走带、阶梯加热、多通道重复镀膜制备隔离层,大大提高了镀膜速度与表面光洁度,可以制备出表面平均粗糙度小于2纳米的非晶钇铝氧化物或氧化钇,保证后续氧化镁在离子束辅助沉积下快速形核,生成双轴织构。制备的非晶氧化物隔离层较厚,一般800-1300纳米,保证能阻挡金属原子高温下扩散到超导层。步骤(3)中利用多通道离子束辅助沉积设备,见示意图3,采用射频磁控溅射氧化镁靶材,氩离子以一定角度辅助轰击制备双轴织构氧化镁薄膜,氧化镁薄膜厚度范围8-25纳米,制备速度较高。步骤(4 )采用多通道设备射频磁控溅射锰酸镧靶材,制备锰酸镧薄膜,氧气压力范围0.05-10Pa,基带加热温度范围650-750度,厚度范围40-80纳米,制备速度较高。步骤(5)采用多通道设备直流反应溅射制备氧化铈,氧气压力范围0.l_20Pa,基带加热温度范围650-750度,厚度范围20-80纳米,制备速度较高,氧化铈膜越厚,织构度越闻,越有利于闻性能超导层的生长。本专利技术中隔离层厚度较大,采用化学方法制备,不需要真空,而且制备速度较大,可以大大降低成本,IBAD-MgO层和缓冲层(包括锰酸镧层和氧化铈层)所需厚度较小,采用真空制备,生长速度较大,相对成本大大降低。本专利技术是一种适合于REBCO超导层生长的低成本模板制备方法。【附图说明】为了清楚的说明本专利技术的技术方案和实施例,下面将对专利技术技术描述和实施例中所需使用的附图作简要介绍。图1为适合于REBCO超导层生长的低成本模板多层膜结构示意图。图2为连续走带、阶梯加热、多通道重复镀膜设备示意图。图3为多通道离子束辅助沉积设备示意图。【具体实施方式】本实施例以本专利技术技术方案为前提进行实施,给出了详细的实施方式和具体的操作步骤,但本专利技术的保护范围不限于下述的实施例。实施例一:哈氏合金C-276上适合于REBCO超导层生长的低成本模板多层膜的制备,包括下述步骤: (O配制前驱液1:将硝酸铝与乙醇溶剂按预定比例溶解,使用超声波震荡加快溶解,待完全溶解后,加入一定比例的醋酸钇,搅拌加热到60度加快溶解,然后加入再加入乙醇,使前驱液I中,铝离子与钇离子浓度之比为1:1,铝离子浓度为0.lmol/L.(2)金属基带丙酮清洗:按图2所示安装好柔性金属带材,将1800毫升丙酮分别倒入图2所示3个液槽中,保证能淹没金属带材,三个液槽置入盛水的超声容器中,超声设备工作,同时使金属带材以40米/小时的速度顺序经过三个丙酮液槽。往返工作3次。(3)金属基带乙醇清洗:把步骤(2)中三个液槽换为乙醇,超声设备工作,金属带材以60米/小时的速度顺序经过三个乙醇液槽。往返工作3次,最后一次把管式炉打开,A、B、C三段温度都设定为250度。(4)涂覆并热处理前驱液1:在图2所示的3个液槽中分别盛600毫升前驱液I,先开启管式炉2、4、6,三个温区的温差相等,为10度,设定C区温度为580度,金属带材以60米/小时的速度经过液槽,然后加热。金属基带向右走完后,再向左走,此时关闭2、4、6管式炉,开启1、3、5管式炉,三个温区的温差相等,为10度,设定C区温度为580度,金属带材以60米/小时的速度经过液槽,然后加热。这样重复2次,表面粗糙度为1.0纳米。(5)利用多通道离子束辅助沉积设备,采用射频磁控溅射氧化镁靶材,氩离子以一定角度辅助轰击制备双轴织构氧化镁薄膜,制得双轴织构氧化镁层的厚度为12纳米。(6)采用多通道设备射频磁控溅射锰酸镧靶材,制备锰酸镧薄膜,氧气压力0.5Pa,基带加热温度700度,膜厚60纳米。(本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种金属基带上适用于REBCO超导层生长的模板制备方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:(1) 金属基带表面清洗;(2) 采用化学溶液平坦化方法(SDP)在金属基带上制备隔离层;(3) 采用离子束辅助射频磁控溅射方法(IBAD‑MgO)在隔离层上制备双轴织构氧化镁层;(4) 采用射频磁控溅射方法在双轴织构氧化镁层上制备锰酸镧层;(5) 采用直流磁控反应溅射方法在锰酸镧层上制备氧化铈层。

【技术特征摘要】
1.一种金属基带上适用于REBCO超导层生长的模板制备方法,其特征在于,该方法包括以下步骤: (1)金属基带表面清洗; (2)采用化学溶液平坦化方法(SDP)在金属基带上制备隔离层; (3)采用离子束辅助射频磁控溅射方法(IBAD-MgO)在隔离层上制备双轴织构氧化镁层; (4)采用射频磁控溅射方法在双轴织构氧化镁层上制备锰酸镧层; (5)采用直流磁控反应溅射方法在锰酸镧层上制备氧化铈层。2.如权利要求1所述的一种金属基带上适用于REBCO超导层生长的模板制备方法,其特征在于所述的步骤(1)中采用我们自己的专利设备,一种柔性金属带材表面快速化学溶液平坦化设备清洗金属基带表面;步骤(2)采用同样的设备,连续走带、阶梯加热、多通道重复化学溶液平整化方法制备非晶氧化物多层膜作为隔离层,厚度范围800-1500纳米,表面平均粗糙度小于 2纳米。3.如权利要求1所述的一种金属基带上适用于REBCO超导层生长的模板制备方法,其特征在于所述的步骤(3)中利用多通道离子束辅助沉积设备,采用射频磁控溅射氧化镁,氩离子辅助轰击制备双轴织构氧化镁薄膜。4.如权利要求1所述的一种金属基带上适用于REBCO超导层生长的模板制备方法,其特征在于所述的步骤(3)中制备的双轴织构氧化镁薄膜...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵遵成田晓光卢涛杨广军
申请(专利权)人:赵遵成
类型:发明
国别省市:河南;41

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