【技术实现步骤摘要】
一种MEMS麦克风结构及其制造方法
本专利技术涉及微电子机械系统
,特别涉及一种MEMS麦克风结构及其制造方法。
技术介绍
麦克风分为动圈式麦克风和电容式麦克风。传统的动圈式麦克风由线圈、振膜和永磁铁组成,它是基于线圈在磁场中的运动产生感应电流的原理;而电容式麦克风的主要结构为两块电容极板,即振动膜(Diaphragm)和背电极(Backplate),它的工作原理是声压引起振动膜的形变,导致电容值发生改变,从而转换为电信号输出。MEMS麦克风是迄今最成功的MEMS产品之一。MEMS麦克风是通过与集成电路制造兼容的表面加工或体硅加工工艺制造的麦克风,由于可以利用持续微缩的CMOS工艺技术,MEMS麦克风可以做得很小,使得它可以广泛地应用到手机、笔记本电脑、平板电脑和摄像机等便携设备中。MEMS麦克风一般是电容式的,其中背电极(下电极)通过介质层支撑于衬底上,与衬底的腔体相对,振动膜(上电极)则悬空设置在背电极上方,由氧化硅及氮化硅提供支撑。振动膜与背电极之间为空气隙。这种方式存在的一个问题是当进行释放工艺去除振动膜与背电极之间以及背电极与衬底之间的介质层以形成空气隙时,需要对释放工艺时间加以严格控制,若工艺时间过长会将背电极下方的介质层完全去除造成背电极的脱落。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种MEMS麦克风结构及其制造方法,能够使释放工艺自动停止,不会因工艺时间过长造成背电极或振动膜的损害或脱落。为达成上述目的,本专利技术提供一种MEMS麦克风结构,包括:衬底,其具有腔体;第一介质层,形成于所述衬底上表面,具有与所述腔体相通的通 ...
【技术保护点】
一种MEMS麦克风结构,其特征在于,包括:衬底,其具有腔体;第一介质层,形成于所述衬底上表面,具有与所述腔体相通的通孔;下电极层,至少部分与所述第一介质层的上表面接触,所述下电极层包括相互连接的背电极及第一引出部,所述背电极位于所述通孔的上方;上电极结构,其包括振动膜、与所述振动膜相连的第二引出部以及填充有一层绝缘层的环形沟槽;所述第二引出部被所述环形沟槽隔断为两部分;所述绝缘层从所述环形沟槽内侧壁上端水平向内延伸至所述振动膜下方,使所述振动膜悬空于所述背电极上方;其中所述振动膜、第二引出部由上电极层形成;所述环形沟槽包括连接部,所述上电极层沉积于所述连接部的绝缘层上以使所述第二引出部的两部分相连;所述环形沟槽底部的绝缘层支撑于所述下电极层上且位于所述背电极以外区域;其中,所述背电极为齿轮形状,其包括圆形主体部及从所述圆形主体部向外延伸并在其边缘均匀分布的多个齿部;所述振动膜为圆形,所述绝缘层从所述环形沟槽内侧壁上端水平向内延伸的部分的形状与所述多个齿部相对应;空气隙,形成于所述振动膜与所述背电极之间;以及释放孔,形成于所述背电极的圆形主体部中,与所述空气隙及所述通孔连通。
【技术特征摘要】
1.一种MEMS麦克风结构,其特征在于,包括: 衬底,其具有腔体; 第一介质层,形成于所述衬底上表面,具有与所述腔体相通的通孔; 下电极层,至少部分与所述第一介质层的上表面接触,所述下电极层包括相互连接的背电极及第一引出部,所述背电极位于所述通孔的上方; 上电极结构,其包括振动膜、与所述振动膜相连的第二引出部以及填充有一层绝缘层的环形沟槽;所述第二引出部被所述环形沟槽隔断为两部分;所述绝缘层从所述环形沟槽内侧壁上端水平向内延伸至所述振动膜下方,使所述振动膜悬空于所述背电极上方;其中所述振动膜、第二引出部由上电极层形成;所述环形沟槽包括连接部,所述上电极层沉积于所述连接部的绝缘层上以使所述第二引出部的两部分相连;所述环形沟槽底部的绝缘层支撑于所述下电极层上且位于所述背电极以外区域;其中,所述背电极为齿轮形状,其包括圆形主体部及从所述圆形主体部向外延伸并在其边缘均匀分布的多个齿部;所述振动膜为圆形,所述绝缘层从所述环形沟槽内侧壁上端水平向内延伸的部分的形状与所述多个齿部相对应; 空气隙,形成于所述振动膜与所述背电极之间;以及 释放孔,形成于所述背电极的圆形主体部中,与所述空气隙及所述通孔连通。2.如权利要求1所述的MEMS麦克风结构,其特征在于,所述连接部的弧长小于等于所述环形沟槽周长的十分之 一。3.如权利要求1所述的MEMS麦克风结构,其特征在于,所述上电极层填充于所述环形沟槽中除所述连接部以外部分,且不与所述振动膜相连。4.如权利要求1所述的MEMS麦克风结构,其特征在于,所述连接部的绝缘层与上电极层之间填充有一层刻蚀选择比高于所述绝缘层的第三介质层。5.如权利要求1所述的MEMS麦克风结构,其特征在于,所述环形沟槽在垂直于所述衬底上表面的方向的截面形状为矩形或倒梯形,其深度与底部开口宽度之比为大于等于5:1。6.一种MEMS麦克风结构的制造方法,其特征在于,包括以下步骤: 在衬底上依次形成第一介质层,图形化的下电极层和第二介质层;所述下电极层定义出具有多个释放孔的背电极以及与...
【专利技术属性】
技术研发人员:康晓旭,袁超,左青云,
申请(专利权)人:上海集成电路研发中心有限公司,
类型:发明
国别省市:
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