量子产率测定装置制造方法及图纸

量子产率测定装置(1)，通过将激发光(L1)照射在用于容纳试料(S)的试料管(2)的试料容纳部(3)，检测自试料(S)及试料容纳部(3)的至少一方所放出的被测定光(L2)，来测定试料(S)的量子产率。量子产率测定装置(1)具有：暗箱(5)，其在内部配置有试料容纳部(3)；光产生部，其具有连接于暗箱(5)的光出射部(7)，并产生激发光(L1)；光检测部，其具有连接于暗箱(5)的光入射部(11)，并检测被测定光(L2)；积分球(14)，其具有使激发光(L1)入射的光入射开口(15)、及使被测定光(L2)出射的光出射开口(16)，且配置于暗箱(5)内；及移动机构(30)，以成为试料容纳部(3)位于积分球(14)内的第1状态、及试料容纳部(3)位于积分球(14)外的第2状态的各自的状态的方式，使积分球(14)在暗箱(5)内移动，在第1状态，使光入射开口(15)与光出射部(7)相对，并使光出射开口(16)与光入射部(11)相对。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种利用积分球测定发光材料等的量子产率的量子产率测定装置。
技术介绍
作为现有的量子产率测定装置，已知的技术是将激发光照射于发光材料等试料，使自试料所放出的荧光在积分球内多重反射并检测，由此测定试料的量子产率(「自发光材料所放出的荧光的光子数」相对于「发光材料所吸收的激发光的光子数」的比例)(参照例如专利文献I 3)。在如此的技术中，若试料对于荧光成份具有光吸收性，则当荧光在积分球内多重反射时，有时荧光的一部分会被试料吸收(该现象以下称为「再吸收」)。在如此的情形下，所检测的荧光的光子数较真实值(即，自发光材料实际所放出的荧光的光子数)还低。因此，有人提案另外利用荧光光度计在不产生再吸收的状态下测定自试料所放出的荧光的强度，基于此来修正先前的荧光的光子数并求出量子产率的方法(参照例如非专利文献I)。先行技术文献专利文献专利文献1:日本特开2007-086031号公报专利文献2:日 本特开2009-074866号公报专利文献3:日本特开2010-151632号公报非专利文献非专利文献1:CHRISTIAN WURTH、另 7 名，「Evaluation of a Com本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：井口和也，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：
国别省市：