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浜松光子学株式会社专利技术
浜松光子学株式会社共有2219项专利
全焦点图像生成方法、全焦点图像生成装置以及全焦点图像生成程序制造方法及图纸
方法MT1具备:原始图像获取步骤(步骤ST1),其使焦点位置向规定方向偏移并拍摄对象物,分别获取与对象物相关的每个焦点位置的原始图像;频率分解步骤(步骤ST2),其对每个焦点位置的原始图像分别进行频率分解,分别生成每个频带的边缘图像;全...
光检测器制造技术
本发明提供一种光检测器,具备:入射面板,其形成有根据入射光而释放光电子的光电面;和半导体元件,其配置成沿着第一方向与所述光电面相对,用于检测从所述光电面释放的所述光电子,所述半导体元件具有:第一部分,其具有电子入射面,该电子入射面是与所...
衰减分布图像生成装置、图像处理装置、放射线断层摄影系统、衰减分布图像生成方法、图像处理方法制造方法及图纸
本发明的图像处理装置(20)具备图像重建部(21)、图像变换部(22)、CNN处理部(23)和衰减校正部(24)。图像变换部(22)基于被检体的各切片位置的断层图像,生成变更了部分区域的像素值的变换图像。CNN处理部(23)将由图像变换...
脉冲光生成装置和脉冲光生成方法制造方法及图纸
本发明的脉冲光生成装置具备:振荡部,其振荡脉冲光;放大部,其使由振荡部振荡的脉冲光的光谱宽带化;和调制部,其利用孤子自频移来调制由放大部使光谱宽带化的脉冲光的波长。
光检测器制造技术
本发明提供一种光检测器,具备:入射面板,其形成有根据入射光而释放光电子的光电面;和半导体元件,其配置成沿着第一方向与所述光电面相对,用于检测从所述光电面释放的所述光电子,所述半导体元件具有第一部分,该第一部分具有电子入射面,该电子入射面...
分光测量装置和分光测量方法制造方法及图纸
本发明的分光测量装置(1)具备:光源(4),其输出对对象物(S)照射的光(L);分光部(5),其以多个不同波长的光分布于包含对象物(S)的移动方向的面内的方式对光(L)进行分光;拍摄部(6),其具有二维排列的多个像素,在不同的时刻对在由...
X射线图像获取装置、X射线图像获取系统及X射线图像获取方法制造方法及图纸
本发明的X射线图像获取装置其具备:像素单元,其具有分别包含用于检测X射线的N个(N为2以上的整数)像素部的M个(M为2以上的整数)像素阵列;控制部,其控制由像素单元的X射线的检测;以及处理部,其基于由像素单元的X射线的检测结果,生成对象...
放射线摄像装置及放射线摄像装置的制造方法制造方法及图纸
一实施方式的放射线摄像装置包含:传感器面板、控制单元、以及收纳传感器面板及控制单元的壳体。控制单元包含:控制基板,其控制来自传感器面板的信号的读出;搭载构件,其搭载控制基板;侧板,其固定于搭载构件,具有设置有开口部的侧壁部;及连接器,其...
测定装置、及测定方法制造方法及图纸
本发明的一种测定装置,用于测定生物试样的特性,其中,具备:支承部,其用于支承第一容器,在上述第一容器的内部容纳包含与由生物试样产生的成分进行反应的指示剂并且被冻结的第一溶液;加热器,其用于在上述支承部支承上述第一容器的支承状态下加热上述...
闪烁器制造技术
闪烁器具备支承基板以及发光层,该发光层由ZnO形成,并配置于支承基板上,根据带电粒子或光子的入射而发光。发光层具有:多个第一层,其具有第一杂质浓度;以及多个第二层,其与多个第一层交替地层叠,并具有比第一杂质浓度低的第二杂质浓度。
光调制装置、光观察装置和光照射装置制造方法及图纸
光调制装置(21)包括:电光晶体(22);透明电极(23),其设置于电光晶体(22)的输入面(22a)侧,使输入光(Lp)透过;间隙缓冲层(24),其设置于透明电极(23)与电光晶体(22)之间;和反射部(25),其具有排列于电光晶体(...
带电粒子检测器制造技术
带电粒子检测器(1)具备:半导体检测器(3),其包括阳极(3a)及阴极(3b),向阴极(3b)供给第一电压,向阳极(3a)供给比第一电压低的第二电压;导体部(8),其与基准电位GND连接,该基准电位GND是比第二电压低的电位;以及保护部...
测距用投光受光模块及测距装置制造方法及图纸
投光受光模块具备:配线基板,其具有主面;半导体激光部,其设置于主面,自与主面交叉的端面出射激光;反射区块,其设置于主面,具有相对于主面倾斜的反射面,将来自半导体激光部的激光向与配线基板相反侧反射;准直透镜,其设置于主面,位于半导体激光部...
太赫兹波干涉测量装置及太赫兹波干涉测量方法制造方法及图纸
本公开提供能够缩短测量时间的太赫兹波干涉测量装置。太赫兹波干涉测量装置(1A)具备光脉冲列输出部(10A)、第一转换部(21)、第二转换部(22)、合波光学系统(23)及检测部(40A)。光脉冲列输出部(10A)输出具有第一重复频率的周...
干涉测量方法以及干涉测量装置制造方法及图纸
本发明使用了干涉测量装置的干涉测量方法包括:第一步骤,其通过在第二光路中未配置样品的第一状态下使第一光路与第二光路的光程差变化,来获取第一状态下的第一干涉波形;第二步骤,其将第一干涉波形转换为第一电场振幅波形;第三步骤,其通过在第二光路...
光学测定装置及光学测定方法制造方法及图纸
本发明的光学测定装置(1)具备:时序产生器(70);光源(11);检测光学系统(20),其检测包含荧光及散射光的检测光,并输出检测信号;频率转换电路(45),其通过将检测信号、与自时序产生器(70)输入的第2频率信号相乘,产生第1频率信...
发光器件制造技术
发光器件具有作为发光部的活性层和相位调制层(15)。相位调制层(15)与活性层光学耦合,包含基本层和折射率与基本层不同并在与厚度方向垂直的面内呈二维状分布的多个不同折射率区域。相对于假想的晶格的对应的晶格点,各不同折射率区域的重心以与规...
拍摄系统及拍摄方法技术方案
本发明提供一种拍摄系统,具备:X射线源,其对中空状的试样照射X射线;拍摄元件,其进行拍摄透过上述试样的上述X射线的TDI(time delay integration)动作;旋转部,其通过使上述试样相对于上述X射线源及上述拍摄元件进行相...
光检测装置、膜厚测量装置、半导体工艺监视装置及噪声检测方法制造方法及图纸
本公开的光检测装置中,处理部对多个信道的各个设定阈值,基于多个信道各自的阈值及第1信号与第2信号间的差分,确定第1信号或第2信号中包含噪声的信道。阈值对于多个信道的各个,基于第1信号及第2信号而设定。
光检测装置、膜厚测量装置、半导体工艺监视装置及噪声检测方法制造方法及图纸
本公开的光检测装置中,处理部对多个信道的各个设定阈值,基于多个信道各自的阈值及第1信号与第2信号间的差分,确定第1信号或第2信号中包含噪声的信道。阈值基于差分值而设定。差分值包含:信道中的第1信号的值、与接近该信道的第1接近信道中的第1...
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