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浜松光子学株式会社专利技术
浜松光子学株式会社共有2219项专利
固体摄像装置以及放射线摄像装置制造方法及图纸
一种固体摄像装置,其特征在于:具有配列成二维状的多个光电变换元件,以及与所述光电变换元件电连接、用于读出该光电变换元件的输出的信号线,其中,所述信号线被配置在所述光电变换元件的上方。
固体摄像装置以及放射线摄像装置制造方法及图纸
一种固体摄像装置,其特征在于:具有光感应部,其含有第一导电型半导体基板以及在该半导体基板的一面侧配列成二维状而形成的多个第二导电型半导体区域,通过所述半导体基板和所述各第二导电型半导体区域的pn接合而分别作为光电二极管工作;以及 ...
配线基板以及使用该配线基板的放射线检测器制造技术
在由闪烁器(10)以及PD阵列(15)所构成的放射线检测部(1)、以及处理由PD阵列(15)所输出的检测信号的信号处理元件(30)之间,设置配线基板部(2)。该配线基板部在PD阵列(15)与信号处理元件(30)之间设置有导引检测信号的导...
配线基板以及使用该配线基板的放射线检测器制造技术
在由闪烁器(10)以及PD阵列(15)所构成的放射线检测部1.以及处理由PD阵列(15)所输出的检测信号的信号处理元件(30)之间,设有配线基板部(2),该配线基板部(2)具有配线基板(20)该配线基板(20)在贯通孔(20c)内设有成...
基板的分割方法技术
本发明提供一种能防止碎屑或破裂的发生、使基板薄型化并将基板分割的基板的分割方法。该基板的分割方法的特征在于,具有:通过在表面(3)形成功能元件(19)的半导体基板(1)的内部,使聚光点聚合并照射激光,在半导体基板(1)的内部形成含由多光...
光检测装置制造方法及图纸
一种光检测装置,其特征在于,包括: 反偏压施加在阳极端子和阴极端子之间,发生对应于入射光强度的量的电荷,并蓄积在结电容部中的光电二极管; 输入端通过开关与所述光电二极管连接,将蓄积在所述光电二极管的所述结电容部中的电荷输入到...
多重图像形成位置偏移检测装置、图像浓度检测装置以及多重图像形成装置制造方法及图纸
光检测部(5)具有光感应区域(10)、第一信号处理电路(20)和第二信号处理电路(30)。光感应区域(10)将像素(11↓[mn])以二次元排列成M行N列。一个像素的构成是在同一面内配置邻接的光感应部分(12↓[mn])和光感应部分(1...
光检测装置制造方法及图纸
本发明提供一种光检测装置,其目的在于使光入射的二次元位置的检测处理实现高速化以及结构的简化。在二次元配列有像素(11↓[MN])的光感应区域(10)中,将根据分别入射的光的强度输出相应电流的多个光感应部分(12↓[MN]、13↓[MN]...
半导体装置及使用此半导体装置的放射线检测器制造方法及图纸
连接半导体元件(10)所用的配线基板使用由具有从输入面(20a)到输出面(20b)的多个贯通孔(20c)以规定的排列形成的贯通孔群(20d)的玻璃基板,和在贯通孔群(20d)所含有的各个贯通孔(20c)的内壁上按照使输入面(20a)与输...
半导体装置及使用此半导体装置的放射线检测器制造方法及图纸
使用一种由设置有贯通孔(20c)的玻璃基板和形成在贯通孔(20c)内壁的导电性部件(21)所构成的配线基板(20),该贯通孔具有在输入面(20a)侧开口面积会变大的锥形部(20d)。而将对应于导电性部件(21)设置在PD阵列(15)的输...
半导体装置及使用其的放射线检测器制造方法及图纸
使用一体捆扎多条玻璃纤维而形成的、具有贯通孔(20c)的玻璃基板,和由设置在贯通孔(20c)内的导电性部件(21)构成的配线基板(20)。将PD阵列(15)的输出面(15b)上的、与导电性部件(21)一一对应而设置的块状电极(17),连...
红外线传感器制造技术
本发明提供一种红外线传感器,具有支承构件、多晶硅膜、SiO↓[2]、铝膜、及热吸收层;该支承构件包含支承膜和具有空心部分并对支承膜进行支承的基板;该多晶硅膜从空心部分的上部形成到基板的上部;该SiO↓[2]形成于多晶硅膜上,具有空心部分...
光电二极管阵列及其制造方法和放射线检测器技术
本发明提供一种光电二极管阵列及其制造方法以及放射线检测器,其目的在于防止在封装时因光检测部的损伤而造成杂音的发生。本发明的光电二极管阵列,在n型硅基板(3)的被检测光的入射面侧,以阵列状形成多个光电二极管(4),且贯通入射面侧和其背面侧...
光电二极管阵列及其制造方法和放射线检测器技术
一种光电二极管阵列及其制造方法和放射线检测器,其目的在于防止在安装时因光检测部的损伤而引起杂音的发生。这种光电二极管阵列,是在n型硅基板(3)的被检测光的入射面侧,以阵列状而形成有多个光电二极管(4),并且在光电二极管(4)形成有贯通入...
光电二极管阵列及其制造方法和放射线检测器技术
本发明提供一种光电二极管阵列及其制造方法、以及放射线检测器,其目的在于能够防止在安装时因光检测部的损伤而造成杂音的发生。这种光电二极管阵列,是在n型硅基板(3)的被检测光的入射面侧,以阵列状形成多个光电二极管(4),分别对应光电二极管(...
激光加工方法技术
本发明提供一种激光加工方法,可以沿着切断规定线以良好的精确度切断加工对象物。利用多光子吸收所形成的改质区域(7),沿着切断规定线(5),在加工对象物(1)的内部形成切断起点区域(8)。然后,使对加工对象物(1)具有吸收性的激光(L2),...
激光加工方法技术
本发明提供一种激光加工方法,可以沿着切断预定线以良好的精确度切断加工对象物。利用多光子吸收所形成的改质区域(7),沿着切断预定线(5),在加工对象物(1)的内部形成切断起点区域(8)。然后,使对加工对象物(1)的非改质区域具有吸收性的激...
光电二极管阵列及其制造方法和放射线检测器技术
光电二极管阵列(1)包括n型硅基板(3)。在n型硅基板(3)的被检测光(L)的入射面的相反面一侧,以阵列状而形成有多个光电二极管(4)。设置有至少将n型硅基板(3)中的被检测光(L)的入射面一侧的形成有光电二极管(4)的区域所对应的区域...
光电二极管阵列及其制造方法和放射线检测器技术
本发明提供一种光电二极管阵列(1),包括n型硅基板(3)。在n型硅基板(3)的被检测光L的入射面的相反面一侧,以阵列状形成有多个光电二极管(4)。在n型硅基板(3)的被检测光L的入射面一侧的形成有光电二极管(4)的区域所对应的区域上,形...
放射线检测器制造技术
本发明提供一种放射线检测器,包括:放射线检测部(1),由闪烁器(10)和PD阵列(15)构成;和配线基板部(2),其具有配线基板(20),在贯通孔(20c)设置有导电性部件21,在用以处理从PD阵列(15)输出的检测信号的信号处理元件(...
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