被检测体分析方法技术

被检测体分析方法包括：将被检测体、金属离子的溶液和还原剂混合而制作混合液的混合步骤S11；对混合液照射光，利用混合液中的还原剂的还原作用使混合液中的金属离子还原而在支承体上生成金属微小结构，并且使被检测体或源自被检测体的物质附着于金属微小结构的金属微小结构生成步骤S12；和对支承体上的金属微小结构照射激发光，测定通过该激发光照射产生的拉曼散射光的光谱的测定步骤S14。由此，实现能够容易地进行利用高效率的SERS分光的分析的被检测体分析方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及一种被检测体分析方法。

技术介绍

1、作为分析被检测体的方法，已知有基于在对该被检测体照射激发光时产生的拉曼散射光的光谱的方法。拉曼散射光谱反映了被检测体的分子振动，因此，能够基于拉曼散射光谱的形状分析被检测体。但是，在该分析方法中，通常拉曼散射的效率非常低，在被检测体为微量的情况下难以进行分析。因此，一直以来，在实用上应用该分析方法的被检测体被限定于矿物或高密度的塑料等物质。

2、另一方面，表面增强拉曼散射(surface enhanced raman scattering：sers)分光能够通过拉曼散射效率的大幅提高进行高灵敏度的测定，作为能够进行低浓度试样的分析而受到瞩目。在sers分光中，通过满足在被照射激发光的金属微小结构中产生被增强的电场(光子场)(第1条件)、和在该被增强的电场到达的金属微小结构的极近处稳定地存在被检测体(第2条件)这2个主条件，能够从被检测体产生高强度的拉曼散射光。

3、为了高效地达成第1条件，提案有：设计纳米级尺寸的多种形状的金属微小结构排列体，利用在表面具备该金属微小结构排列体的基板本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种被检测体分析方法，其中，

2.一种被检测体分析方法，其中，

3.如权利要求1或2所述的被检测体分析方法，其中，

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种被检测体分析方法，其中，

2.一种被检测体分析方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：藤原一彦，风见纱弥香，丸山芳弘，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：发明
国别省市：