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浜松光子学株式会社专利技术
浜松光子学株式会社共有2219项专利
X射线发生装置制造方法及图纸
本技术提供一种X射线发生装置。X射线发生装置包括:以第1方向为出射方向出射X射线的X射线管;收纳X射线管的至少一部分并且被封入有绝缘性的液体的X射线管收纳部;具有收纳X射线管收纳部的第1收纳室的壳体;从壳体的外部向内部抽吸冷却气体的1个...
光学单元、光学装置和光学单元的制造方法制造方法及图纸
本发明提供光学单元,其包括:基体,其由金属构成,具有主面和所述主面的相反侧的背面;光学面,其设置于所述主面;和振动元件,其设置于所述主面或所述背面,所述基体包括:支承部;从所述支承部延伸的第一延伸部和第二延伸部;配置在所述第一延伸部与所...
光检测元件制造技术
本发明提供一种光检测元件,其包括:具有供光入射的光入射表面的雪崩光电二极管;和通过表面等离子体共振使光衍射的等离子体构造部。雪崩光电二极管具有:p型的第1半导体区域;和n型的第2半导体区域,其形成在第1半导体区域的与光入射表面相反的一侧...
图像处理装置和图像处理方法制造方法及图纸
图像处理装置(10)包括正弦图制作部(11)、CNN处理部(12)、卷积积分部(13)、正向投影计算部(14)和CNN学习部(15)。正向投影计算部(14)对输出图像(23)进行正向投影计算,制作计算正弦图(24)。CNN学习部(15)...
光检测器制造技术
光检测器(1)包含:封装体(2),其具有彼此相对的底壁部(21)及窗部(23);受光元件(4),其在封装体(2)内配置于底壁部(21)上;透光构件(7),其在封装体(2)内配置于受光元件(4)上;及光学滤光器构件(8),其在封装体(2)...
图像获取方法、荧光显微镜、激发光照射单元及波形控制单元技术
本发明提供一种图像获取方法,包括:重复生成包含多个激发光脉冲的激发光脉冲组的步骤;对包含荧光色素的对象物照射激发光脉冲组的步骤;检测通过激发光脉冲组的照射而在对象物的多个部位产生的荧光的强度的步骤;以及基于对象物的多个部位处的荧光的强度...
图像处理装置和图像处理方法制造方法及图纸
图像处理装置(1)具备处理部(11)和学习部(12),对对象图像(23)进行降噪处理。处理部(11)使输入图像(21)输入CNN,并使输出图像(22)从该CNN输出。学习部(12)使用基于输出图像(22)和对象图像(23)的评估函数,基...
半导体基板的制造方法、镶嵌配线结构的制造方法、半导体基板和镶嵌配线结构技术
根据一个实施方式涉及的半导体基板的制造方法包括:第一工序,通过对基板的主面实施包括各向同性蚀刻的处理来形成具有底面和侧面的槽部,所述侧面上形成有波纹;第二工序,执行对槽部的侧面进行的亲水化处理及对槽部进行的脱气处理中的至少一者;第三工序...
发光元件、光检测模块、发光元件的制造方法、及扫描型电子显微镜技术
本发明的技术问题在于,提供一种能够降低串扰,且可扩展用途的发光元件、光检测模块、发光元件的制造方法、及使用其的扫描型电子显微镜。本发明的发光元件(1)具备:对于荧光具有透明性的光纤板基板(2);及由具有量子阱结构的氮化物半导体层过程的发...
口腔内摄像装置制造方法及图纸
口腔内摄像装置包括:放射线检测部,其检测放射线;第1基板,其设置有能够与外部进行无线通信的通信元件;第2基板,其设置有电池,且相对于第1基板配置于与放射线检测部相反的一侧;连接部件,其将第2基板连接于第1基板;和壳体,其收纳放射线检测部...
光调制装置及空间光调制器的控制方法制造方法及图纸
光调制装置具备光源、控制部及空间光调制器。光源输出具有与设定强度相应的强度的激光。空间光调制器具有多个像素电极、液晶层、驱动部及冷却部。液晶层根据由多个像素电极各自形成的电场的大小而对激光的相位进行调制。驱动部对多个像素电极施加电压。冷...
激光加工装置及激光加工方法制造方法及图纸
激光加工装置具备:支撑部,其支撑对象物;光源,其出射激光;空间光调制器,其通过显示调制图案而对激光进行调制;聚光部,其将激光聚光于对象物;驱动部,其驱动支撑部及聚光部中的至少一方;及控制部。控制部以聚光光点处的激光的光束形状成为包含中心...
分光测定装置及分光测定方法制造方法及图纸
分光测定装置中的解析部使用第1修正系数,以第1放大器的线性特性与基准线性特性一致的方式修正第1电信号。解析部使用第2修正系数,以第2放大器的线性特性与基准线性特性一致的方式修正第2电信号。解析部基于修正后的第1电信号产生第1光谱数据,基...
半导体发光装置制造方法及图纸
半导体发光装置包括:具有第1面和与第1面相对的第2面,从第1面输出光的多个iPM激光器;和供给用于使多个iPM激光器各自发光的驱动电流的驱动电路。驱动电路包括:对多个iPM激光器共用的电流源电路;与多个iPM激光器分别对应地设置,切换驱...
光照射装置、测量装置、观察装置及膜厚测量装置制造方法及图纸
光照射装置包含:光源,其出射光;光导管,其被输入自光源出射的光,将该光的照度分布均匀化并输出;扩散板,其扩散自光导管输出的光;及光导管,其被输入经扩散板扩散的光,将该光的照度分布均匀化并输出。即,光照射装置包含2个光导管、及以被该2个光...
光照射装置、测量装置、观察装置及膜厚测量装置制造方法及图纸
光照射装置包含:光源,其出射光;光导管,其被输入自光源出射的光,将该光的照度分布均匀化并输出;扩散部,其扩散自光导管输出的光;及光导管,其被输入经扩散部扩散的光,将该光的照度分布均匀化并输出,扩散部是设置于光导管的光输出面的光扩散面。
图像取得装置以及图像取得方法制造方法及图纸
图像取得装置(1A)具备测定部(10)以及处理部(20)。处理部(20),对于第一检测器(11)及第二检测器(12)对通过正电子发射核素(81)中的电子/正电子的对湮灭现象而生成的一对伽马射线光子进行同时计数的每个同时计数现象,设来到第...
背面入射型半导体光检测元件制造技术
半导体基板(11)具有彼此相对的第一主面(11a)和第二主面(11b)。半导体基板(11)具有:第一导电类型的第一半导体区域(13);和与第一半导体区域(13)构成pn结的第二导电类型的多个第二半导体区域(15)。半导体基板(11)在第...
X射线发生装置制造方法及图纸
本发明提供X射线发生装置,X射线发生装置(1)包括:释放电子(E)的阴极电极(5);调节来自阴极电极(5)的电子释放量的调节电极(7);控制来自阴极电极(5)的电子(E)的轨道的控制电极(8);根据电子(E)的入射而产生X射线(R)的靶...
激光加工方法、半导体器件制造方法和检查装置制造方法及图纸
本发明的检查装置包括:支承在半导体衬底的内部形成有多排改性区域的晶片的平台;输出对于半导体衬底具有透射性的光的光源;使在半导体衬底中传播的光透射的物镜;检测从物镜透射的光的光检测部;和检查部,其在最靠近半导体衬底的背面的改性区域与背面之...
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