浜松光子学株式会社专利技术

浜松光子学株式会社共有1905项专利

  • 本发明的聚光透镜包括:入射面,其是在光轴方向上的第1侧的面;以及出射面和反射面,其是在光轴方向上的第2侧的面。在从光轴方向观察的情况下,入射面包括中央部和包围中央部的外侧部。入射面由朝向中央部的中心凹陷的凹部的内表面形成。在从光轴方向观...
  • 运算装置是计算光电倍增管的增益的装置,并且具备:获取部,其获取基于从处于黑暗中状态的光电倍增管输出的暗脉冲的数字信号;以及计算部,其基于数字信号计算暗脉冲的总电子数,并基于总电子数计算光电倍增管的增益。
  • 一实施方式的激光加工装置具备:激光光源;载台;fθ透镜;检流扫描仪,其通过使电介质镜动作并调整激光相对于fθ透镜的入射角,而在加工对象物的加工面上扫描激光;偏光分束器,其在激光的光路上配置于激光光源与检流扫描仪之间;1/4波长板,其在光...
  • 本发明的图像取得装置(1)具备:相机(10),其沿一个方向扫描并拍摄透过对象物的放射线,而取得X射线图像;闪烁体层(11),其设置于相机(10)上,将X射线转换为光;以及控制装置(20),其执行从X射线图像去除噪声的噪声去除处理,相机(...
  • 图像取得装置(1)中,具备:光源(11);空间光调制器(14),具有被排列成二维的多个像素并且对多个像素的每个调制从光源(11)输出的激发光(L1)的相位;第1物镜(16);第2物镜(17);光检测器(20);控制部(21),按照对应于...
  • 本发明的半导体故障解析装置(1)具备:第1解析部(10),其沿设定于半导体器件(D)的第1主面(D1)的第1路径(R1)照射第1照射光(L1);第2解析部(20),其沿设定于第1主面(D1)的背侧即第2主面(D2)的第2路径(R2)照射...
  • 本发明提供一种能够有效除去光学图像中的噪声的光学图像处理方法、机器学习方法、训练后的模型、机器学习的预处理方法、光学图像处理模块、光学图像处理程序和光学图像处理系统。光学图像处理模块(3)具备:图像获取部(32),获取对来自对象物(F)...
  • 一种X射线产生装置,具备:壳体;电子枪,其具有在上述壳体内出射电子的电子出射部;靶,其在上述壳体内通过入射上述电子而产生X射线;窗构件,其将上述壳体的开口密封,且使上述X射线透过;管电压施加部,其对上述电子出射部与上述靶之间施加管电压;...
  • 在本发明的APD阵列(1)中,多个APD(15)包含:第一半导体层(21)、多个第二半导体层(22)、及倍增层(40)。第一半导体层(21)设置于较半导体区域(20)更靠第二面(12)侧。多个第二半导体层(22)沿着第一面(11)排列。...
  • 本发明的X射线管包括:壳体;在壳体内出射电子束的电子枪;在壳体内因电子束的入射而产生X射线的靶材;和密封壳体的开口而使X射线透射的窗部件。窗部件是将单晶金刚石形成为板状而形成的。单晶金刚石的[100]方向与窗部件的厚度方向具有以小于45...
  • 本发明的测量装置(1)具备:激发光源(2);积分球(4),其在内部配置有测量物(S);激发光学系统(3);光检测器(6),其检测被测量光(L2);以及第1检测光学系统(7),第1检测光学系统(7)具有:限制被测量光(L2)的检测范围的开...
  • 本发明的X射线产生装置包括X射线管和电子束调节部。X射线管具有箱体、电子枪、靶材和窗构件。电子束调节部在靶材存在第1缺陷的情况下,调节电子束以使得靶材的电子束照射区域不包含第1缺陷,在窗构件存在第2缺陷的情况下,调节电子束以使得窗构件的...
  • 测定装置(1)具备:激发光学系统(3),其将激发光(L1)朝向测定物(S)导光;照明光学系统(10),其将照明光(L3)所致的照明光点(Lb)形成于测定物(S);及摄像部(11),其对测定物(S)上的照明光点(Lb)进行摄像。照明光学系...
  • 光模块包括:反射镜单元,其具有反射镜器件,该反射镜器件包括设置有线圈的可动反射镜部;和磁铁部,其包括沿着第1方向排列的第1磁铁、第2磁铁和第3磁铁,产生作用于可动反射镜部的磁场。反射镜单元在与第1方向垂直的第2方向上配置在磁铁部上,具有...
  • 激光加工装置包括:支承对象物的支承部;射出激光的光源;对激光进行调制的空间光调制器;将激光从Z方向上的一侧聚光于对象物的聚光部;使聚光部相对于支承部移动的移动部;和控制部。在将第1加工光的第1聚光点和第2加工光的第2聚光点的相对移动方向...
  • 本发明的测量装置(1)具备:积分球(4),其在内部配置有测量物(S);激发光学系统(3),其将激发光(L1)朝向配置于积分球(4)的测量物(S)导光;光检测器(6),其检测通过激发光(L1)的照射而由积分球(4)内的测量物(S)产生的被...
  • 光模块包括反射镜单元和包含沿着第1方向排列的第1、第2和第3磁铁的磁铁部。反射镜单元在与第1方向垂直的第2方向上配置在磁铁部上。第1磁铁的宽度为第2和第3磁铁的宽度以上。第1磁铁的上表面在第2方向上相对于第2和第3磁铁的上表面位于反射镜...
  • 一种激光加工装置,具备:支撑部,其支撑对象物;光源,其输出激光;空间光调制器,其用于将自上述光源输出的上述激光根据调制图案进行调制并输出;聚光透镜,其用于将自上述空间光调制器输出的上述激光朝向上述对象物聚光,在上述对象物形成上述激光的聚...
  • 激光加工装置(1)具备:激光光源部(3),其输出激光(L);空间光调制器(51),其包含从激光光源部(3)输出的激光(L)入射的调制面(51a),且用于通过将调制图案显示于调制面(51a)而根据调制图案调制激光(L)而出射;聚光透镜(5...
  • 本发明的探测单元是用于测量被检体的内部的血红蛋白动态的探测单元,其具备:主体部,其具有可挠性;第1探测器,其具有:露出有安装于所述主体部并且用于朝向所述被检体照射光的第1光出射部的第1面;第2探测器,其具有:露出有以与所述第1探测器相对...