一种图像处理方法，具备：图像获取步骤，其获取向对象物(F)照射能量射线并拍摄透过对象物(F)的能量射线的图像；空间模糊图生成步骤，其基于图像，生成表示噪声的空间性模糊的分布的空间模糊图；以及处理步骤，其将图像和空间模糊图输入至预先通过机...

本公开的测量装置(1)是测量对象物(S)的表面粗糙度的装置，且具备：离轴抛物面镜元件(11)，其具有：第1面(12)；第2面(13)，其由凹状的抛物镜面构成，位于第1面(12)的反面；及贯通孔(14)，其连结第1面(12)与第2面(13...

本发明的固体摄像装置（1A）具备受光部（10A）、读出部（20）、选择部（30）、计数器组（40A）、处理部（50）和控制部（60A）。受光部（10A）包括N个像素（12A）。计数器组（40A）包括M个计数器。各像素（12A）检测事件并...

图像获取装置(1)具备计算图像中的像素值和像素值的统计值的关系数据的关系计算部(202)、和对处理对象的图像进行处理的参数设定部(204)及滤波器处理部(205)，参数设定部(204)及滤波器处理部(205)基于图像的每个像素的像素值和...

干涉测定装置（1A）具备光源（10）、干涉光学系统（20A）、光电倍增管（30）、干涉强度测定部（40）、电场振幅计算部（50）和分析部（60）。光源（10）输出光电倍增管（30）具有灵敏度的频带（包含太赫兹波的光的频带）的光。光电倍增...

干涉观察装置具备：光源，其输出光；干涉光学系统，其具有可移动的参照镜，将自光源输出的光分割为第1光及第2光，输出被观察对象物反射的第1光与被参照镜反射的第2光的干涉光；摄像元件，其检测干涉光；及处理部，其基于干涉光的检测结果取得干涉图像...

本公开提供一种半导体激光器，其包括：半导体基板；层叠于所述半导体基板的表面的半导体层叠部；以及第一电极和第二电极，所述半导体层叠部具有：活性层；相对于所述活性层位于所述半导体基板侧的第一包覆层；和相对于所述活性层位于与所述半导体基板相反...

光纤耦合器（5）是将波长测量对象的光分离的光学元件，具备可传播规定的中心波长的光的光纤（20）和具有耦合于光纤（20）的耦合区域（50）的光纤（30），且光纤（20）可传播的光的中心波长是耦合区域（50）中的透过率处于10%至90%的范...

本发明的干涉测量装置(1)具备：干涉光学系统(20)，其具有：使来自光源(10)的测量光(L1)分支为分支光(L1a、L1b)的分束器(21)；使分支光(L1a)被直动台(22)反射而再次入射到分束器(21)的光路(Pa)；和分支光(L...

本发明的检查装置具备：特性信号取得部，其取得特性信号；噪声信号输出部，其输出包含试验电压中包含的噪声的噪声信号；滤波器，其对噪声信号实施滤波处理；参数设定部，其向特性信号中包含的噪声与滤波处理后的噪声信号中包含的噪声的差异变小的方向调整...

在干涉观察装置中，输入部受理表示观察对象物具有的多个层的厚度、折射率及配置顺序的第1输入。显示部显示表示与第1输入对应的多个层的厚度及折射率的值的第1要素、以及通过图形以对应于与第1输入对应的多个层的厚度及配置顺序的方式表示多个层的第2...

本发明的高度测量装置具备：光照射部，其将包含多个光束的照射光以相对于样品的高度方向倾斜的角度照射至样品，该多个光束在与光轴方向交叉的方向上排列且波长互不相同；相机系统，其检测来自被照射有照射光的样品的光，并输出该光的波长信息；及控制装置...

本发明提供一种分束器，其用于将入射光分支为不同的多个分量并出射，其中，具备：第一透光构件，其具有第一面，对所述入射光具有透射性；第二透光构件，其具有第二面，对所述入射光具有透射性；光学分支膜，其具有将所述入射光分支为所述多个分量的功能；...

本激光喷丸方法包括：配置工序，对工件（W）配置扩展夹具（12），在加工区域（K）的正视时在比工件（W）的表面（Wa）靠外侧的位置形成基于扩展夹具（12）的扩展面（15）；形成工序，利用朝向目标位置（M1）的吐出水（Pw），以跨激光（L）...

光源装置包括：输出光的光源；光纤，其被输入从光源输出的光，并且输出该光；空间光调制器，其具有控制信号的输入部，且构成为能够基于该控制信号控制入射的光反射的角度的分布；和衍射光栅，其将从光纤输出的光分光而入射到空间光调制器，并且使在空间光...

光源装置包括：输出光的光源；具有控制信号的输入部并构成为能够基于该控制信号控制入射的光反射的角度的分布的空间光调制器；将从光源输出的光分光并入射到空间光调制器，并且将在空间光调制器反射的光的至少一部分返回光源的衍射光栅；和仅使以在空间上...

本发明的MCP检测器(1)具备：MCP(3)，其具有被输入电子(e1)的输入面(3a)；对根据电子(e1)的输入而产生的电子进行倍增的倍增部(11A、11B)；输出由倍增部(11A、11B)倍增的电子(e2)的输出面(3b)；平面状的倍...

本发明的半导体故障解析装置(1)具备：测试器(2)，其对半导体器件(100)施加刺激信号；光源(3)，其产生照射于半导体器件(100)的照射光(L1)；固体浸没式透镜(4)，其配置于照射光(L1)的光路上；光检测部(5)，其接受反射光(...

本发明的光检测电路具备：输出信号电流的光检测元件；将信号电流转换为第一信号电压的电流电压转换部；从信号电流抽出第一电流的第一电流去除部；以及从信号电流抽出第二电流的第二电流去除部。第一电流去除部基于规定的时刻的低频分量的大小来决定第一电...

本发明涉及一种放射线检测器，其包括：第一部分，其依次包括第一电极部、半导体晶体部和与所述第一电极部相对的第二电极部；和以包围半导体晶体部的侧面的方式设置的第二部分，第二部分从半导体晶体部的侧面依次具有绝缘层和导电层，第二电极部具有多个像...