一种定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法技术

本发明专利技术公开了一种定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法。其主要步骤包括：采样；利用气相色谱—质谱联用仪对样品进行定性、定量分析，检测器为四极杆质量检测器，色谱柱采用CP-Sil?5?CB毛细管柱。与现有技术相比，本发明专利技术检测组分种类全面，能够检测CF4、C2F6、CO2、C2F6S2、C4F10、C5F10、SO2F2、SF5OSO2F、SOF2、S2F10O、SO2、H2S等12种组分，并对上述化合物进行快速识别和准确定量分析。通过分析SF6气体中痕量杂质，能够控制充入电气设备中SF6气体品质，延长电气设备服役寿命。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于分析检测领域，具体涉及到一种定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法。
技术介绍
SF6气体在常温下无色、无味、无毒，具有化学性质稳定、介电强度高以及灭弧性能好等特点，使其作为一种优良的绝缘介质被广泛地运用在各种电气设备中。然而，SF6气体中在工业制备过程中不可避免会引入杂质，特别是碳氟化物(如CF4X2F6等)。由于受成本影响，不同厂家后处理工艺不尽相同，导致导致国产SF6新气品质不一。随着SF6绝缘电气设备运行年限增加，将出现各种绝缘故障问题，其特点是在设备内部绝缘介质在未击穿前发生局部放电。已有研究表明，低品质SF6在发生绝缘故障时绝缘强度劣化更快。因此，控制SF6新气品质对延长电气运行寿命具有重要意义。这就要求在未使用前对SF6气体所含杂质进行详细、准确的定性定量分析，从而达到控制SF6气体品质的目的。目前，分析SF6气体中痕量杂质的常用方法为气相色谱法。但是，在实际应用中存在如下问题:I)分析结果不全面。利用气相色谱法对SF6气体进行杂质检测，色谱柱的选择尤其重要，其对目标化合物的有效分离决定了后续的定量分析。IEC60480-2004标准中建议采用Porap本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法，其特征在于：包括以下步骤：1）采样；2）利用气相色谱—质谱联用仪对样品进行定性、定量分析，检测器为四极杆质量检测器，色谱柱采用CP?Sil?5?CB毛细管柱。

【技术特征摘要】
1.一种定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法，其特征在于:包括以下步骤: 1)采样； 2)利用气相色谱一质谱联用仪对样品进行定性、定量分析，检测器为四极杆质量检测器，色谱柱采用CP-Sil 5 CB毛细管柱。2.按权利要求1所述的定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法，其特征在于:色谱柱参数为:长度为60m,膜厚为8 μ m,内径为0.32mm。3.按权利要求1所述的定性定量分析3 6气体中痕量杂质的方法，其特征在于:分析条件如下: 载气:高纯He气(99.9999%)， 柱箱温度:起始40°C -60°C，最终150 V -220 °C， 升温速率:5 V /min-20 V /min,柱流量:0.9mL/min-l.2 ml ,/mi η , 吹扫流量:3 mL/min。4.按权利要求3所述的定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法，其特征在于: 1)色谱分析条件如下: 载气:高纯He气( 99.9999%)， 进样体积:300 μ L， 柱箱温度:40 1:恒温保持8.5min,以15 V /min速率升温至150 °C，保持lmin， 进样口温度:200 °C, 进样模式:分流， 分流比:10， 流量控制方式:恒线速度， 压力:35kPa, 柱流量:0.9mL/min, 吹扫流量:3.0mL/min ； 2)质谱分...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈林聪，裘吟君，陈晓琳，张薇，李欣然，
申请(专利权)人：海南电力技术研究院，
类型：发明
国别省市：