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一种定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法技术
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文档序号:8681320
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本发明公开了一种定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法。其主要步骤包括:采样;利用气相色谱—质谱联用仪对样品进行定性、定量分析,检测器为四极杆质量检测器,色谱柱采用CP-Sil?5?CB毛细管柱。与现有技术相比,本发明检测组分种类全面,能够...
该专利属于海南电力技术研究院所有,仅供学习研究参考,未经过海南电力技术研究院授权不得商用。
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