一种可控的回波损耗测试辅助装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种可控的回波损耗测试辅助装置，包含光纤压块、光纤打折运动柱、内部光纤复位柱、光纤复位挡块；其中，光纤压块分别设置在该辅助装置的光纤的接入口和输出口处；光纤打折运动柱设置为上下错开排列，内部光纤复位柱同时配合该光纤打折运动柱的运动方向进行移动，本实用新型专利技术解决了现有产品对手工操作依赖程度高，测试结果差异性大的问题。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种可控的回波损耗测试辅助装置
本技术涉及光纤通信领域中的回波损耗测试装置，特别涉及一种可控的包含光纤自动打折模块的回波损耗测试辅助装置。
技术介绍
光在光器件或模组中传输时，会有部分光被反射回光路中。光器件或模组中的这种光反射(也称为回波)主要由菲涅耳反射(因为折射率变化而产生)、向后瑞利散射(因为杂质微粒而产生)以及光传播的方向性等因素产生的。回波损耗(Return Loss)计算方法如公式(I)所示RL = -IOlg(PyPi)(I)其中RL表示回波损耗，单位为dB ；P0表示反射光功率A表示入射光功率。其中，在现有的传输系统中，光被反射回发光器件或模组的光路中，在发射光路中带入噪音、线宽、频率方面的干扰，最终造成发射光的不稳定，进而产生系统误码。回波损耗较大时，会严重影响传输系统的传输性能。为此，光器件或模组的制程中，必须监测回波损耗参数。当前对光纤的回波损耗参数进行测试的方法主要有以下三种。如图IA所示，待测产品P的一端光纤与测试系统100的光纤进行熔接，另一端进行手工绕圈打折10。或者如图IB所示，待测产品P的一端光纤与测试系统100的光纤进行熔接，另一端插入到折射率匹配液中20。或者如图IC所示，待测产品P的一端光纤与测试系统100的光纤进行熔接， 另一端接回损短路器中30。以上现有的三种方案的不足之处是手工化程度高，不同的人测试结果差异性大，大批量生产过程对工人的责任心要求也相对较高。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的问题，本技术提供一种可控的回波损耗测试辅助装置。本技术提供一种可控的回波损耗测试辅助装置，包含一光纤压块、一光纤打折运动柱、一内部光纤复位柱、一光纤复位挡块；其特征在于该光纤压块分别设置在该辅助装置的光纤的接入口和输出口处；且，该光纤打折运动柱设置为上下错开排列，由植入该辅助装置的程序控制运动；该内部光纤复位柱同时配合该光纤打折运动柱的运动方向进行移动，从而辅助该光纤在该辅助装置的内部进行移动。其中，优选实施方式为该光纤复位挡块、该内部光纤复位柱与该光纤打折运动柱是联动的。与现有技术相比，本技术的优点和积极效果是第一，将传统的回波损失测试中的手动打折光纤的工序升级为程序控制的打折模式；第二，此辅助测试装置提高回损测试重复性，因此，相对传统测试方法来说更简洁、更规范；第三，此辅助测试装置与产品的测试软件整合，优化产品的测试系统，提高产品的测试效率；最后，此回损测试辅助装置，由于其内部植入了程序，它可以与产品的已有测试软件进行整合，这样可以同时实现IL、RL等参数的同步测试，进而实现测试的全面自动化。附图说明图Ia-图Ic是现有的回波损耗参数的测试装置的示意图。图2是本技术的可控的回波损耗测试辅助装置的示意图。图3是光纤打折启动后光纤42的打折状态的示意图。图4是本技术的测试辅助装置应用于测试系统中的示意图。具体实施方式以下结合附图和具体实施方式对本技术做更进一步详细说明。如图2所示为本技术的可控的回波损耗测试辅助装置。本技术的可控的回波损耗测试辅助装置40包括以下结构光纤压块43、光纤打折运动柱44、内部光纤复位柱45、光纤复位挡块47。其中，光纤压块43设置在光纤42的接入口(Input)和输出口(Output)处，用以防止处于该辅助装置40外面的待测产品P的光纤滑动。光纤打折运动柱44设置为上下错开排列，由控制电路中植入的程序控制其按图示的箭头向A或B方向上下相对运动，实现绕在装置40内部的光纤42的自动打折弯曲；其中，上述的光纤打折运动柱44可设置为一排固定、一排活动或两排同时活动的错开阵列形式。内部光纤复位柱45在光纤42进行打折弯曲时，配合光纤打折运动柱44的上下运动而沿着图2所示的箭头C、D的方向左右运动， 完成光纤42在辅助装置40内部的移动。因此，光纤复位挡块47、内部光纤复位柱45与光纤打折运动柱44的运动是联动的，其主要作用是光纤打折运动柱44复位时对光纤42进行从弯曲状态复位成自然拉直状态的动作。请同时参考图3。图3为光纤打折启动后光纤42的打折状态，其中，光纤42沿着光纤打折运动柱44的运动轨迹进行自动打折。其中，辅助装置40内的光纤42打折程度是由光纤打折运动柱44的直径和控制电路所控制的光纤打折运功柱44的移动距离所决定。本技术的测试辅助装置40应用于测试系统中如图4所示。本技术的测试系统300由现有的测试系统100及功率测试仪表200组成。其中，待测产品P的一端光纤熔接在现有测试系统100光纤之后，另两端光纤分别与辅助装置40的两个输入端(Input)光纤熔接，现有的测试系统100中含有功率测试仪表，测试待测产品P的入射光功率Pi及反射光功率P。。上述两个辅助装置40中的输出端(Output)光纤分别接入上述测试系统300的功率测试仪表200上，从而测出待测产品P的反射光功率P。。其中，插入损耗IL (Insertion Loss)的计算如公式(2)所示IL = -IOlg(P1AV)(2)其中IL表示插入损耗，单位为dB J1表示入射光功率P/经过待测器件P衰减后的出射光功率；Pi’表示入射光功率，即功率仪表200所测的功率值，近似等于测试系统100 的功率仪表上所测的数值。因此，通过公式(I)、(2)可以将待测产品P的IL、RL等参数一次性监控和测试出来。本技术的辅助测试具有以下优点第一，将传统的回波损失测试中的手动打折光纤的工序升级为程序控制的打折模式；第二，此辅助测试装置提高回损测试重复性，因此，相对传统测试方法来说更简洁、更规范；第三，此辅助测试装置与产品的测试软件整合， 优化产品的测试系统，提高产品的测试效率；最后，此回损测试辅助装置，由于其内部植入了程序，它可以与产品的现有测试软件进行整合，这样可以同时实现IL、RL等参数的同步测试，进而实现测试的全面自动化。以上所述，仅为本技术最佳实施例而已，并非用于限制本技术的范围，凡依本技术申请专利范围所作的等效变化或修饰，皆为本技术所涵盖。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可控的回波损耗测试辅助装置，包含一光纤压块、一光纤打折运动柱、一内部光纤复位柱、一光纤复位挡块；其特征在于：该光纤压块分别设置在该辅助装置的光纤的接入口和输出口处；且，该光纤打折运动柱设置为上下错开排列，由植入该辅助装置的程序控制运动；该内部光纤复位柱同时配合该光纤打折运动柱的运动方向进行移动，从而辅助该光纤在该辅助装置的内部进行移动。

【技术特征摘要】
1.一种可控的回波损耗测试辅助装置，包含一光纤压块、一光纤打折运动柱、一内部光纤复位柱、一光纤复位挡块；其特征在于该光纤压块分别设置在该辅助装置的光纤的接入口和输出口处；且，该光纤打折运动柱设置为上下错开排列，由植入该辅助装置的程序控制运动；该内部光纤复位柱同时配合该光纤打折运动柱的运动方向进行移动，从而辅助该光纤在该辅助装置的内部进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：周强，叶长茂，
申请(专利权)人：昂纳信息技术深圳有限公司，
类型：实用新型
国别省市：