一种可控的回波损耗测试辅助装置制造方法及图纸

技术编号:8472454 阅读:174 留言:0更新日期:2013-03-24 16:30
本实用新型专利技术公开了一种可控的回波损耗测试辅助装置,包含光纤压块、光纤打折运动柱、内部光纤复位柱、光纤复位挡块;其中,光纤压块分别设置在该辅助装置的光纤的接入口和输出口处;光纤打折运动柱设置为上下错开排列,内部光纤复位柱同时配合该光纤打折运动柱的运动方向进行移动,本实用新型专利技术解决了现有产品对手工操作依赖程度高,测试结果差异性大的问题。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

一种可控的回波损耗测试辅助装置
本技术涉及光纤通信领域中的回波损耗测试装置,特别涉及一种可控的包含光纤自动打折模块的回波损耗测试辅助装置。
技术介绍
光在光器件或模组中传输时,会有部分光被反射回光路中。光器件或模组中的这种光反射(也称为回波)主要由菲涅耳反射(因为折射率变化而产生)、向后瑞利散射(因为杂质微粒而产生)以及光传播的方向性等因素产生的。回波损耗(Return Loss)计算方法如公式(I)所示RL = -IOlg(PyPi)(I)其中RL表示回波损耗,单位为dB ;P0表示反射光功率A表示入射光功率。其中,在现有的传输系统中,光被反射回发光器件或模组的光路中,在发射光路中带入噪音、线宽、频率方面的干扰,最终造成发射光的不稳定,进而产生系统误码。回波损耗较大时,会严重影响传输系统的传输性能。为此,光器件或模组的制程中,必须监测回波损耗参数。当前对光纤的回波损耗参数进行测试的方法主要有以下三种。如图IA所示,待测产品P的一端光纤与测试系统100的光纤进行熔接,另一端进行手工绕圈打折10。或者如图IB所示,待测产品P的一端光纤与测试系统100的光纤进行熔接,另一端插入到本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可控的回波损耗测试辅助装置,包含一光纤压块、一光纤打折运动柱、一内部光纤复位柱、一光纤复位挡块;其特征在于:该光纤压块分别设置在该辅助装置的光纤的接入口和输出口处;且,该光纤打折运动柱设置为上下错开排列,由植入该辅助装置的程序控制运动;该内部光纤复位柱同时配合该光纤打折运动柱的运动方向进行移动,从而辅助该光纤在该辅助装置的内部进行移动。

【技术特征摘要】
1.一种可控的回波损耗测试辅助装置,包含一光纤压块、一光纤打折运动柱、一内部光纤复位柱、一光纤复位挡块;其特征在于该光纤压块分别设置在该辅助装置的光纤的接入口和输出口处;且,该光纤打折运动柱设置为上下错开排列,由植入该辅助装置的程序控制运动;该内部光纤复位柱同时配合该光纤打折运动柱的运动方向进行移动,从而辅助该光纤在该辅助装置的内部进行...

【专利技术属性】
技术研发人员:周强叶长茂
申请(专利权)人:昂纳信息技术深圳有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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