一种光纤的宏弯损耗测试工装制造技术

技术编号:8451744 阅读:268 留言:0更新日期:2013-03-21 07:49
本发明专利技术公开了一种光纤的宏弯损耗测试工装,包括摇杆、法兰和测试轮轴;所述的测试轮轴设在两个法兰之间,在测试轮轴上设有可打开和关闭的凹槽,在所述的法兰设有用于控制凹槽打开和关闭的摇杆。本发明专利技术所述的光纤的测试工装,与现有技术相比,有效的降低操作影响,提高测试效率,本发明专利技术首先将光纤缠绕在测试轮轴上,绕好后,按动摇杆,则可凹陷槽从圆柱状态变成局部凹陷状态,将光纤从受力紧绷的状态调整成不受力状态,本发明专利技术结构简单,实用性强,适合行业内的广泛使用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤制造业,具体涉及一种光纤的宏弯损耗测试工装
技术介绍
在光纤制造业中,光纤的宏弯损耗检测是非常重要的,现有的光纤在宏弯损耗测试过程中通常是将光纤缠绕在普通的柱状的测试轮轴上,由于光纤在缠绕过程中,其本身就处于受力紧绷的状态,这样就导致了测试结果不准确,人为测试误差较高。
技术实现思路
专利技术目的本专利技术为了解决现有技术不足,提供一种测试结果误差小、测试效率高的光纤的宏弯损耗测试工装。技术方案一种光纤的宏弯损耗测试工装,包括摇杆、法兰和测试轮轴;所述的测试轮轴设在两个法兰之间,在测试轮轴上设有可打开和关闭的凹槽,在所述的法兰设有用于控制凹槽打开和关闭的摇杆。作为优化,在所述凹槽底部设有用于控制所述凹槽打开和关闭的的合页。有益效果本专利技术所述的光纤的宏弯损耗测试工装,与现有技术相比,有效的降低操作影响,提高测试效率,本专利技术首先将光纤缠绕在测试轮轴上,绕好后,按动摇杆,则可凹陷槽从圆柱状态变成局部凹陷状态,将光纤从受力紧绷的状态调整成不受力状态,测试后能够有效降低人为测试误差,同时效率较普通柱状工装有提高,本专利技术结构简单,实用性强,适合行业内的广泛使用。附图本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光纤的宏弯损耗测试工装,其特征在于:包括摇杆(1)、法兰(2)和测试轮轴(3);所述的测试轮轴(3)设在两个法兰(2)之间,在测试轮轴(3)上设有可打开和关闭的凹槽(4),在所述的法兰(2)设有用于控制凹槽(4)打开和关闭的摇杆(1)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:曹珊珊薛驰
申请(专利权)人:中天科技光纤有限公司
类型:发明
国别省市:

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