OTDR内部光路检测方法及系统技术方案

本发明专利技术提出一种OTDR内部光路检测方法及系统，在OTDR产品的光路制作过程中进行光路检测，在光路各模块熔接之后，控制光路发光可进行光路通断性的测试，对熔接形成的散状光路进行损耗检测，可以得到光纤熔接的熔接损耗检测，如果损耗值与理想值相差太大，则说明熔接步骤便出现了问题，如果没有问题再对散状光路进行盘光路，对盘状光路进行损耗检测，可以得到盘状光路的光纤弯曲损耗，可能光纤弯曲角度不合适，便可及时调整盘光路，分析检测的时间更快，并且返修光路的周期也缩短了，提高工厂生产效率，降低人工成本，降低批量生产盘光路及OTDR整个产品的不良率。

Method and system for detecting internal optical path of OTDR

The invention provides a OTDR optical detection method and system for optical detection in optical OTDR products in the production process, after the optical modules welding, light can control the light path optical continuity test, loss detection of bulk optical splice formation. You can get the fiber fusion splicing loss detection, if the loss value is too large and the ideal value, the welding step will be a problem, if there is no problem of bulk optical disc optical path loss detection of optical disc, optical fiber bending loss can be obtained by disc shaped optical path the bending angle of fiber may not appropriate, it can timely adjust the optical disc, time detection and repair faster, optical cycle is shortened, improve production efficiency, reduce labor costs, reduce production and OTDR optical disc Defective rate of whole product.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤领域，尤其涉及的是一种OTDR内部光路检测方法及系统。
技术介绍
在当前4G或者未来更高速传输数据时代，需要高速传输的介质来进行数据传输，光纤在高速通信中起到了重要的作用。光纤决定了光信号的传输的质量好坏，目前使用非常广泛。铺光纤的过程中会使用到OTDR(光时域反射仪)产品，来进行光纤的长度、事件损耗、通断性等的测试，而OTDR的产品内部有光纤光路。现在的光路在熔接好之后，就直接进行盘光路，然后制作半成品，在半成品制作之后，机器检测盘好的光路的好坏，如果是合格的光路，则就进行组装成品，如果不合格，则需要分析。但是光路可能在盘光路或者光路熔接处都有可能出问题，无法定位问题具体在哪一步骤，返修光路耗时长；由于需要返修光路，可能出问题的地方有如下：光纤在某处可能断了，可能发生在光路熔接、或者盘光路步骤；在分析、检查具体问题时，需要耗费非常长的时间，无法确定问题点出在哪一步骤，降低了工厂生产效率，增加了生产产品的不良率。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种OTDR内部光路检测方法及系统，提高生产OTDR的内部光纤光路效率，降低产品不良率。为解决上述问题，本专利技术提出一种OTDR内部光路检测方法，包括以下步骤：S1：将光路所需的各模块的光纤熔接起来，形成一散状光路，所述散状光路上具有若干熔接点，且所述散状光路上熔接有用以接收光路反射光信号的APD激光器；S2：连接所述散状光路到光路检测模块中，配置所述APD激光器的工作电压；S3：控制所述散状光路进入发光工作状态，采集所述APD激光器产生的电信号，根据采集的电信号获得相应损耗值；比较熔接后损耗值与预设损耗值，若差值小于第一可接受误差范围，则该散状光路合格，进入步骤S4；否则该散状光路不合格；S4：将所述散状光路盘至光路夹具中，盘成圆形或椭圆形，形成一盘状光路；S5：连接所述盘状光路到所述光路检测模块中，控制所述盘状光路进入发光工作状态，采集所述APD激光器产生的电信号，根据电信号获得相应损耗值；比较弯曲后损耗值与预设损耗值，若差值小于第二可接受误差范围，则该盘状光路合格，否则该盘状光路不合格。根据本专利技术的一个实施例，所述光路检测模块包括信号链单元和AD采集单元；所述信号链单元连接所述APD激光器，用以接收APD激光器产生的电信号，并对电信号进行放大，输出信号链电压；所述AD采集单元连接所述信号链单元，用以采集所述信号链电压，分析生成相应损耗值。根据本专利技术的一个实施例，所述信号链单元对电信号进行可选择地放大。根据本专利技术的一个实施例，所述信号链单元具有至少两个不同放大倍数的信号放大通道，所述AD采集单元采集信号链电压判断电信号大小，若过小则选择较大放大倍数的信号放大通道，若过大则选择较小放大倍数的信号放大通道；信号链单元通过所选的信号放大通道对电信号进行放大并传输信号链电压给AD采集单元。根据本专利技术的一个实施例，还包括信号链电压输出调节步骤：在APD激光器的电压为0V时，AD采集单元采集信号链电压，如果采集到的信号链电压没有达到0V，则调节信号链单元上的输出，使AD采集单元采集到的电压为0V。根据本专利技术的一个实施例，所述步骤S2中，配置所述APD激光器的工作电压进一步包括步骤S22：提供APD激光器的击穿电压值V，得到或更新对应的击穿电压寄存器的值J1，根据击穿电压值V与正常工作电压的之间安全范围设置定值系数K1，得到APD激光器负极电压寄存器的值J2＝J1-K1，根据负极电压寄存器的值J2确定APD激光器工作电压。根据本专利技术的一个实施例，所述步骤S2中，在所述步骤S22之前还包括步骤S21：在光路中没有发出光信号时，初设APD激光器的击穿电压寄存器的值，对应APD激光器的电压是第一电压V1，AD采集单元采集信号链电压，采集到的值是第二电压V2，设定当APD激光器极限击穿时，AD采集单元采集到的值是第三电压V3；若V3–V2>0V，则第一电压V1没有达到APD激光器的极限电压，增大APD激光器的击穿电压寄存器的值，使得APD激光器的电压增大；若V3–V2＝0V，则第一电压V1就是APD激光器的极限电压，作为步骤S22中的所述击穿电压值V，对应的APD激光器的击穿电压寄存器的值是J1；若V3–V2<0V，则第一电压V1超过APD激光器的极限电压，减小APD激光器的击穿电压寄存器的值，使得APD激光器的电压减小。根据本专利技术的一个实施例，所述散状光路包括：LD激光器，APD激光器，耦合器，延长光纤，接口模块，及辅助光纤模块；所述LD激光器与所述耦合器进行光纤熔接，形成第一熔接点；所述APD激光器与所述耦合器进行光纤熔接，形成第二熔接点；所述耦合器与所述延长光纤的一端进行光纤熔接，形成第三熔接点；所述延长光纤的另一端与所述接口模块进行光纤熔接，形成第四熔接点；所述接口模块还与所述辅助光纤模块连接；光信号由所述LD激光器发出后传输给所述耦合器，经耦合器进行光耦合后传输到延长光纤中，光信号经过延长光纤到接口模块中，然后传输到辅助光纤模块中；在辅助光纤模块末端发生菲涅尔反射，将大部分光反射回来，反射的光信号按原路径反向传输回来；所述APD激光器在光传输的过程中一直处于工作状态，采集光路中的光信号。根据本专利技术的一个实施例，在所述步骤S5之后还包括S6：将盘好的合格的所述盘状光路直接作为OTDR的内部光路进行制作。根据本专利技术的一个实施例，所述步骤S6包括以下步骤：S61：将盘好的检测合格后的所述盘状光路，直接作为内部光路制作OTDR的半成品；S62：制作半成品之后不进行光路检测，直接将所述半成品组装成为成品。本专利技术还提供一种OTDR内部光路检测系统，包括：光纤熔接机，将光路所需的各模块的光纤熔接起来，形成具有若干熔接点的光路，且所述光路上熔接有用以接收光路反射光信号的APD激光器；信号链单元连接所述APD激光器，用以接收APD激光器在光路传输光信号过程中产生的电信号，并对电信号进行放大，输出信号链电压；AD采集单元连接所述信号链单元，用以采集所述信号链电压，分析生成相应损耗值，根据熔接后散状光路的损耗值及盘成盘状光路后的损耗值，确定散状光路是否合格或盘状光路是否合格。根据本专利技术的一个实施例，所述信号链单元对电信号进行可选择地放大。根据本专利技术的一个实施例，所述信号链单元具有至少两个不同放大倍数的信号放大通道，所述AD采集单元采集信号链电压判断电信号大小，若过小则选择较大放大倍数的信号放大通道，若过大则选择较小放大倍数的信号放大通道；信号链单元通过所选的信号放大通道对电信号进行放大并传输信号链电压给AD采集单元。根据本专利技术的一个实施例，所述散状光路包括：LD激光器，APD激光器，耦合器，延长光纤，接口模块，及辅助光纤模块；所述LD激光器与所述耦合器进行光纤熔接，形成第一熔接点；所述APD激光器与所述耦合器进行光纤熔接，形成第二熔接点；所述耦合器与所述延长光纤的一端进行光纤熔接，形成第三熔接点；所述延长光纤的另一端与所述接口模块进行光纤熔接，形成第四熔接点；所述接口模块还与所述辅助光纤模块连接；光信号由所述LD激光器发出后传输给所述耦合器，经耦合器进行光耦合后传输到延长光纤中，光信号经过延长光纤到接口模块中，然后传输到辅助光纤模块中；在辅助光纤模块末端本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种OTDR内部光路检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：将光路所需的各模块的光纤熔接起来，形成一散状光路，所述散状光路上具有若干熔接点，且所述散状光路上熔接有用以接收光路反射光信号的APD激光器；S2：连接所述散状光路到光路检测模块中，配置所述APD激光器的工作电压；S3：控制所述散状光路进入发光工作状态，采集所述APD激光器产生的电信号，根据采集的电信号获得相应损耗值；比较熔接后损耗值与预设损耗值，若差值小于第一可接受误差范围，则该散状光路合格，进入步骤S4；否则该散状光路不合格；S4：将所述散状光路盘至光路夹具中，盘成圆形或椭圆形，形成一盘状光路；S5：连接所述盘状光路到所述光路检测模块中，控制所述盘状光路进入发光工作状态，采集所述APD激光器产生的电信号，根据电信号获得相应损耗值；比较弯曲后损耗值与预设损耗值，若差值小于第二可接受误差范围，则该盘状光路合格，否则该盘状光路不合格。

【技术特征摘要】
1.一种OTDR内部光路检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：将光路所需的各模块的光纤熔接起来，形成一散状光路，所述散状光路上具有若干熔接点，且所述散状光路上熔接有用以接收光路反射光信号的APD激光器；S2：连接所述散状光路到光路检测模块中，配置所述APD激光器的工作电压；S3：控制所述散状光路进入发光工作状态，采集所述APD激光器产生的电信号，根据采集的电信号获得相应损耗值；比较熔接后损耗值与预设损耗值，若差值小于第一可接受误差范围，则该散状光路合格，进入步骤S4；否则该散状光路不合格；S4：将所述散状光路盘至光路夹具中，盘成圆形或椭圆形，形成一盘状光路；S5：连接所述盘状光路到所述光路检测模块中，控制所述盘状光路进入发光工作状态，采集所述APD激光器产生的电信号，根据电信号获得相应损耗值；比较弯曲后损耗值与预设损耗值，若差值小于第二可接受误差范围，则该盘状光路合格，否则该盘状光路不合格。2.如权利要求1所述的OTDR内部光路检测方法，其特征在于，所述光路检测模块包括信号链单元和AD采集单元；所述信号链单元连接所述APD激光器，用以接收APD激光器产生的电信号，并对电信号进行放大，输出信号链电压；所述AD采集单元连接所述信号链单元，用以采集所述信号链电压，分析生成相应损耗值。3.如权利要求2所述的OTDR内部光路检测方法，其特征在于，所述信号链单元对电信号进行可选择地放大。4.如权利要求3所述的OTDR内部光路检测方法，其特征在于，所述信号链单元具有至少两个不同放大倍数的信号放大通道，所述AD采集单元采集信号链电压判断电信号大小，若过小则选择较大放大倍数的信号放大通道，若过大则选择较小放大倍数的信号放大通道；信号链单元通过所选的信号放大通道对电信号进行放大并传输信号链电压给AD采集单元。5.如权利要求2所述的OTDR内部光路检测方法，其特征在于，还包括信号链电压输出调节步骤：在APD激光器的电压为0V时，AD采集单元采集信号链电压，如果采集到的信号链电压没有达到0V，则调节信号链单元上的输出，使AD采集单元采集到的电压为0V。6.如权利要求2所述的OTDR内部光路检测方法，其特征在于，所述步骤S2中，配置所述APD激光器的工作电压进一步包括步骤S22：提供APD激光器的击穿电压值V，得到或更新对应的击穿电压寄存器的值J1，根据击穿电压值V与正常工作电压的之间安全范围设置定值系数K1，得到APD激光器负极电压寄存器的值J2＝J1-K1，根据负极电压寄存器的值J2确定APD激光器工作电压。7.如权利要求6所述的OTDR内部光路检测方法，其特征在于，所述步骤S2中，在所述步骤S22之前还包括步骤S21：在光路中没有发出光信号时，初设APD激光器的击穿电压寄存器的值，对应APD激光器的电压是第一电压V1，AD采集单元采集信号链电压，采集到的值是第二电压V2，设定当APD激光器极限击穿时，AD采集单元采集到的值是第三电压V3；若V3–V2>0V，则第一电压V1没有达到APD激光器的极限电压，增大APD激光器的击穿电压寄存器的值，使得APD激光器的电压增大；若V3–V2＝0V，则第一电压V1就是APD激光器的极限电压，作为步骤S22中的所述击穿电压值V，对应的APD激光器的击穿电压寄存器的值是J1；若V3–V2<0V，则第一电压V1超过APD激光器的极限电压，减小APD激光器的击穿电压寄存器的值，使得APD激光器的电压...

【专利技术属性】
技术研发人员：李楚元，
申请(专利权)人：一诺仪器中国有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37