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本发明提出一种OTDR内部光路检测方法及系统，在OTDR产品的光路制作过程中进行光路检测，在光路各模块熔接之后，控制光路发光可进行光路通断性的测试，对熔接形成的散状光路进行损耗检测，可以得到光纤熔接的熔接损耗检测，如果损耗值与理想值相差太大...
该专利属于一诺仪器（中国）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过一诺仪器（中国）有限公司授权不得商用。

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