基于数字全息的晶体光学参数测量方法技术

一种基于数字全息的晶体光学参数测量方法，方法是记录晶体的数字全息图，通过数字再现得到晶体的波前复振幅。由相位信息得到晶体的折射率分布，由强度信息得到晶体的透过率。对电光晶体加载电压，记录不同电压下的晶体数字全息图，数字再现、相位解包裹，得到其相位信息。将不同电压下的相位相减得到晶体折射率的变化分布。由其折射率变化，计算即可得到晶体的电光系数。这种非接触测量方法具有原理简单、测量方便、成本低、精度高、实用性等特点，可用于厚度为μm到cm级的晶体折射率、电光系数、透过率、极光系数参数测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学测量
，特别涉及一种晶体光学参数测量技术。
技术介绍
晶体的折射率和电光系数是表征晶体光学性质的重要物理量，也是衡量晶体材料及其电光性能优劣的重要参数，用于晶体折射率、电光系数测量的常见方法有棱镜耦合法、 最小偏向角法、椭偏仪法、半波电压法、干涉法等棱镜耦合法是基于全反射原理，通过测量激光束在棱镜底面发生全内反射时的入射角来测量晶体折射率，测量方便，速度快，但只能测量固定波长下的折射率，对于不同波长下折射率的研究很不方便。最小偏向角法是基于测量单色平行光经晶体折射后的最小偏向角求出折射率，该方法测量精高，但对样品的形状、面型精度以及通光效果有一定的要求。椭偏仪法，也称为椭圆偏振法，通过测量S和P两垂直偏振方向上偏振光相位差得到晶体的折射率差。对晶体加载电压，即可测量其有效电光系数。对于较薄晶体，其测量精度相对较低。干涉法测量晶体折射率是通过测量干涉级次或条纹移动数目得到晶体的折射率， 通过改变外加电场方向和晶体中光的偏振方向，也可以测量晶体的电光系数，其精度高，适用于单晶电光系数的测量。为了提高测量精度，常需要一些的辅助器件，如高精度的电致位移镜等。半波电压本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于数字全息的晶体光学参数测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤一、记录晶体的数字全息图，通过数字再现得到晶体波前的复振幅分布o(x,y)，包括振幅分布|o(x,y)|和相位分布对包裹相位进行解包裹，得到真实的晶体相位分布式中的Re和Im表示复振幅的实部和虚部；步骤二、由相位分布计算得到晶体的折射率分布d为晶体通光方向长度，λ为照明光波波长；由振幅分布|o(x,y)|，计算得到晶体的透过率分布t(x,y)＝|o(x,y)|2/I0；式中I0为照明光波的强度分布，|o(x,y)|2＝o(x,y)o*(x,y)为经过晶体后的透射光波场强度分布；步骤三、对电光晶体加载电压，记录不同电压下...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吕且妮，邱阳，周其辉，赵爽，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：