专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
天津大学
>
基于数字全息的晶体光学参数测量方法技术
>技术资料下载
下载基于数字全息的晶体光学参数测量方法的技术资料
文档序号:8451745
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种基于数字全息的晶体光学参数测量方法,方法是记录晶体的数字全息图,通过数字再现得到晶体的波前复振幅。由相位信息得到晶体的折射率分布,由强度信息得到晶体的透过率。对电光晶体加载电压,记录不同电压下的晶体数字全息图,数字再现、相位解包裹,得到...
该专利属于天津大学所有,仅供学习研究参考,未经过天津大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。