一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法，将待测光纤按照测试要求的弯曲数在四个矩形槽和四个弧形槽组成的密封槽内绕圈布放，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，避免了光纤在四分之一圆弯曲以外发生弯曲而引起新的宏弯损耗对测试结果的影响，减小测试误差，同时，将待测光纤置于检测液中进行测试，进一步抑制了W波对测试结果的影响，从而保证获得的光纤宏弯损耗数值的真实性，保证了光纤宏弯损耗测试的准确性、稳定性和可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤测试
，具体涉及一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法。
技术介绍
光纤由于抗干扰能力强、质量轻、体积小、耐腐蚀、电绝缘性好、安全可靠等优点，在光纤通信和光纤传感领域发展迅速。在实际使用过程中，光纤很容易发生弯曲产生宏弯损耗，对长距离的光信号传输非常不利，因此，对光纤的宏弯损耗进行测试，了解光纤的宏弯损耗性能，对光纤通信具有重要意义。现行的IEC60793-1-47(2009)测量方法和试验程序--宏弯损耗中提到的方法B—光纤四分之一圆弯曲，如图1所示，该方法为挑选一个四分之一转角装置，将待测光纤按照需要的圈数在转角装置上绕圈布放，布放轨迹如图1所示，光纤经过转角装置后继续沿某个圆周进行布放，之后再次回到转角装置进行下一圈布放，但上述装置和方法存在如下问题：一、待测光纤经过转角装置后继续沿某个圆周进行布放导致待测光纤在转角以外部分发生新的弯曲，形成新的宏弯损耗，引入新的误差，影响整个测试结果的准确性。二、通信光纤的宏弯损耗随波长的增加和弯曲半径的减少而增大，在弯曲半径情况下对光纤的宏弯损耗进行测试时，针对同一个测试样品、在相同测试条件下，多次测试结果会出现较大差异，引起该差异的主要原因是弯曲条件下辐射出纤芯的辐射模经过光纤芯与包层、包层与光纤涂层、光纤涂层与空气界面多次反射回到纤芯，与传输模产生耦合，在特定的条件下会出现干涉加强或减弱的现象，称为Whisperinggallerymodes(简称W波)的影响。受该现象的影响，在进行光纤的宏弯损耗测试时，将会出现波长与损耗的振荡现象，导致宏弯损耗测试结果不稳定和不准确。专利技术内容本专利技术所要解决的技术问题是避免待测光纤在转角以外产生弯曲，抑制转角以外的弯曲产生的新的损耗以及W波对测试结果的影响，实现对光纤宏弯损耗的准确、稳定、可靠测试，目的在于提供一种通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法，解决当前测试装置及测试方法易出现测量不准确、稳定性差的问题。本专利技术通过下述技术方案实现：一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置，包括底板以及设置在底板上用于布放光纤的首尾连通的密封槽，所述密封槽围成的区域为圆角矩形，所述密封槽包括四条矩形槽和四个弧形槽，所述弧形槽的长度为该弧形槽所在圆的周长的四分之一。特别地，所述通信光纤宏弯损耗测试装置还包括八条光纤进出槽道，所述光纤进出通道用于将四条矩形槽分别沿横向和纵向贯穿底板。特别地，所述密封槽内填充有检测液。采用上述测试装置进行光纤宏弯损耗测试的方法，包括以下步骤：A、按照测试要求的弯曲数，将待测光纤沿密封槽进行绕圈布放；B、采用宏弯损耗测试装置对待测光纤宏弯损耗进行测试。特别地，当所述光纤宏弯损耗测试装置底板上设有光纤进出槽道时，所述步骤A具体包括：将待测光纤一端固定，另一端从光纤进出槽道进入，沿密封槽进行绕圈布放，直至经过的弧形槽数量达到测试要求的弯曲数时，再沿光纤进出槽道出来。特别地，所述密封槽中填充有检测液，待测光纤浸入检测液中进行测试。本专利技术与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：本专利技术所述一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法，将待测光纤按照测试要求的弯曲数在四个矩形槽和四个弧形槽组成的密封槽内绕圈布放，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，避免了光纤在四分之一圆弯曲以外发生弯曲而引起新的宏弯损耗对测试结果的影响，减小测试误差，同时，将待测光纤置于检测液中进行测试，进一步抑制了W波对测试结果的影响，从而保证获得的光纤宏弯损耗数值的真实性，保证了光纤宏弯损耗测试的准确性、稳定性和可靠性。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本专利技术实施例的限定。在附图中：图1为本专利技术实施例1提供的新型通信光纤宏弯损耗测试装置结构图。图2为本专利技术实施例1提供的存在W波干扰时光纤内部光折射结构图。图3为本专利技术实施例1提供的采用肉桂酸乙酯作为检测液时获得的光纤宏弯损耗测试结果。图4为本专利技术实施例1提供的采用甘油作为检测液时获得的光纤宏弯损耗测试结果。附图中标记及对应的零部件名称：1-底板，2-密封槽，3-光纤进出槽道，21-第一矩形槽、22-第二矩形槽、23-第三矩形槽、24-第四矩形槽、25-第一弧形槽、26-第二弧形槽、27-第三弧形槽和28-第四弧形槽，31-第一光纤进出槽道、32第二光纤进出槽道、33第三光纤进出槽道、34第四光纤进出槽道、35第五光纤进出槽道、36第六光纤进出槽道、37第七光纤进出槽道、38第八光纤进出槽道。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本专利技术作进一步的详细说明，本专利技术的示意性实施方式及其说明仅用于解释本专利技术，并不作为对本专利技术的限定。实施例1本实施例公开了一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置，以图1为例进行说明。如图1所示，图1为本专利技术实施例1提供的新型通信光纤宏弯损耗测试装置结构图。所述新型通信光纤宏弯损耗测试装置包括底板1，底板1上设有用于布放光纤的密封槽2，所述密封槽具体包括第一矩形槽21、第二矩形槽22、第三矩形槽23、第四矩形槽24、第一弧形槽25、第二弧形槽26、第三弧形槽27和第四弧形槽28，依次连通的第一矩形槽21、第一弧形槽25、第二矩形槽22、第二弧形槽26、第三矩形槽23、第三弧形槽27、第四矩形槽24、第四弧形槽28首尾相连，围成的区域为圆角矩形。所述第一弧形槽25、第二弧形槽26、第三弧形槽27和第四弧形槽28的长度为该弧形槽所在圆的周长的四分之一。本实施例的一种优选实施方式为所述底板上还设有光纤进出槽道3，所述光纤进出槽道具体包括第一光纤进出槽道31、第二光纤进出槽道32、第三光纤进出槽道33、第四光纤进出槽道34、第五光纤进出槽道35、第六光纤进出槽道36、第七光纤进出槽道37、第八光纤进出槽道38，其中，第一光纤进出槽道31和第七光纤进出槽道37分别与第四矩形槽24的两端连通，使第四矩形槽24沿纵向贯穿底板；第三光纤进出槽道33和第五光纤进出槽道35分别与第二矩形槽22的两端连通，使第二矩形槽22沿纵向贯穿底板；第二光纤进出槽道32和第四光纤进出槽道34分别与第一矩形槽21的两端连通，使第一矩形槽21沿横向贯穿底板；第六光纤进出槽道36和第八光纤进出槽道38分别与第三矩形槽23的两端连通，使第三矩形槽23沿横向贯穿底板。本实施例的一种优选实施方式为所述密封槽2和光纤进出槽道3均采用U型槽道。本实施例的一种优选实施方式为密封槽2内填充有检测液，因光纤进出槽道3与密封槽2连通，则当密封槽2内填充有检测液时，光纤进出槽道3内同样填充有检测液，此时，为避免检测液溢出底板1，光纤进出槽道3在底板1的侧边的出口处可设置堵头。进一步，为避免待测光纤在底板1上进出过程中出现大角度弯折，光纤进出槽道3可不延伸至底板1的侧边，在光纤进出槽道3内靠近底板1侧边的位置设置斜坡，待测光纤沿斜坡铺设出去。本实施例同时公开了采用上述测试装置进行光纤宏弯损耗测试的方法，具体包括：A、按照测试要求的圈数，将待测光纤沿密封槽进行绕圈布放；B、采用宏弯损耗测试装置对待测光纤宏弯损耗进行测试。待测光纤一端固定，另一端从任一矩形槽进入，然后根据测试所需的圆弯曲数沿着密封槽道进行本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，包括底板以及设置在底板上用于布放光纤的首尾连通的密封槽，所述密封槽围成的区域为圆角矩形，所述密封槽包括四条矩形槽和四个弧形槽，所述弧形槽的长度为该弧形槽所在圆的周长的四分之一。

【技术特征摘要】
1.一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，包括底板以及设置在底板上用于布放光纤的首尾连通的密封槽，所述密封槽围成的区域为圆角矩形，所述密封槽包括四条矩形槽和四个弧形槽，所述弧形槽的长度为该弧形槽所在圆的周长的四分之一。2.如权利要求1所述的新型通信光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，还包括八条光纤进出槽道，所述光纤进出槽道用于将四条矩形槽分别沿横向和纵向贯穿底板。3.如权利要求1或2所述的新型通信光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，所述密封槽内填充有检测液。4.一种采用如权利要求1-3任一所述的测试装置进行光纤宏弯损耗...

【专利技术属性】
技术研发人员：李琳莹，甘露，宋志佗，李秋云，
申请(专利权)人：电信科学技术第五研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51