一种光学测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种光学测试系统，包括宽带光源发生器、上准直器、下准直器、光谱仪以及测试系统，所述宽带光源发生器与所述上准直器通过第一光纤连接，所述下准直器与所述光谱仪之间通过第二光纤连接，所述光谱仪还与所述测试系统电性连接，所述上准直器和所述下准直器之间设置有用于承载待测试件的载物台。通过以上技术方案，宽带光源发生器经由光纤发出的发散光，发散光通过上准直器后变成平行光，平行光照射于载物台上的待检测件上，再由下准直器进行聚焦，经过聚焦后的光束进入光谱仪中，光谱仪对光的每个波长、透光率等进行分析，同时测试系统对光谱仪进行控制，并对光进行分析处理，对测试结果进行显示。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光学测试系统，尤其涉及用于滤光片检测的光学测试系统，属于测试领域。
技术介绍
光谱透过率是光学滤光片滤光特性的重要参数。如何精确地测定滤光片的光谱透过率成为亟待解决的问题，例如用于军事、光通信等方面的滤光片，其对品质的要求十分严苛，而目前市场上还没有比较精确的用于滤光片检测的光学测试系统。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本技术的目的在于一种光学测试系统，克服了现有技术的不足。为了实现上述目的，本技术的技术方案如下：一种光学测试系统，包括宽带光源发生器、上准直器、下准直器、光谱仪以及测试系统，所述宽带光源发生器与所述上准直器通过第一光纤连接，所述下准直器与所述光谱仪之间通过第二光纤连接，所述光谱仪还与所述测试系统电性连接，所述上准直器和所述下准直器之间设置有用于承载待测试件的载物台。优选的，所述上准直器上至少设置有用于调整该上准直器角度的第一旋钮和第二旋钮。优选的，所述下准直器上至少设置用于调整该下准确器相对于该上准直器的位置的第三旋钮和第四旋钮。优选的，该光学测试系统还包括固定机构，所述固定机构包括底座、垂直固设于所述底座上的支架、平行于所述底座并与所述支架固定连接的第一连接板和第二连接板，所述下准直器固设于所述底座上，所述上准直器固设于所述第一连接板上，所述载物台固设于所述第二连接板上。通过以上技术方案，宽带光源发生器经由光纤发出的发散光，发散光通过上准直器后变成平行光，平行光照射于载物台上的待检测件上，再由下准直器进行聚焦，经过聚焦后的光束进入光谱仪中，光谱仪对光的每个波长、透光率等进行分析，同时测试系统对光谱仪进行控制，并对光进行分析处理，对测试结果进行显示。本技术能够准确地对滤光片进行光学检测，保证了滤光片的品质。附图说明为了更清楚地说明本技术结构特征和技术要点，下面结合附图和具体实施方式对本技术进行详细说明。图1为本技术实施例所公开的光学测试系统的结构示意图；图2为本技术实施例所公开的固定机构的结构示意图。具体实施方式下面将结合本实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行具体、清楚、完整地描述。参见图1-2所示，一种光学测试系统，包括宽带光源发生器11、上准直器12、下准直器13、光谱仪14以及测试系统15，宽带光源发生器11与上准直器12通过第一光纤16连接，下准直器13与光谱仪14之间通过第二光纤17连接，光谱仪14还与测试系统15电性连接，上准直器12和下准直器13之间设置有用于承载待测试件K的载物台18。其中，上准直器12上至少设置有用于调整该上准直器12角度的第一旋钮和第二旋钮。下准直器13上至少设置用于调整该下准确器相对于该上准直器12的位置的第三旋钮和第四旋钮。该光学测试系统15还包括固定机构19，固定机构19包括底座191、垂直固设于底座191上的支架192、平行于底座191并与支架192固定连接的第一连接板193和第二连接板194，下准直器13固设于底座191上，上准直器12固设于第一连接板193上，载物台18固设于第二连接板194上。本技术的调试以及工作原理如下：该光学测试系统15在工作前，需对其进行调试工作，首先，将待测件放置在载物台18上，通过第一旋钮和第二旋钮来调整上准直器12的角度，进而使得上准直器12与载物台18上的待测件在同一条直线上，通过第三旋钮和第四旋钮来调整下准直器13相对于上准直器12的位置，使得下准直器13与上准直器12在同一条直线上，进而使得光能够顺利地由上准直器12传至下准直器13。该光学测试系统15在工作时，宽带光源发生器11经由光纤发出的发散光，发散光通过上准直器12后变成平行光，平行光照射于载物台18上的待检测件上，再由下准直器13进行聚焦，经过聚焦后的光束进入光谱仪14中，光谱仪14对光的每个波长、透光率等进行分析，同时测试系统15对光谱仪14进行控制，并对光进行分析处理，对测试结果进行显示。本技术能够准确地对滤光片进行光学检测，保证了滤光片的品质。上述具体实施方式，仅为说明本技术的技术构思和结构特征，目的在于让熟悉此项技术的相关人士能够据以实施，但以上所述内容并不限制本技术的保护范围，凡是依据本技术的精神实质所作的任何等效变化或修饰，均应落入本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学测试系统，其特征在于，包括宽带光源发生器、上准直器、下准直器、光谱仪以及测试系统，所述宽带光源发生器与所述上准直器通过第一光纤连接，所述下准直器与所述光谱仪之间通过第二光纤连接，所述光谱仪还与所述测试系统电性连接，所述上准直器和所述下准直器之间设置有用于承载待测试件的载物台。

【技术特征摘要】
1.一种光学测试系统，其特征在于，包括宽带光源发生器、上准直器、下准直器、光谱仪以及测试系统，所述宽带光源发生器与所述上准直器通过第一光纤连接，所述下准直器与所述光谱仪之间通过第二光纤连接，所述光谱仪还与所述测试系统电性连接，所述上准直器和所述下准直器之间设置有用于承载待测试件的载物台。2.根据权利要求1所述的一种光学测试系统，其特征在于，所述上准直器上至少设置有用于调整该上准直器角度的第一旋钮和第二旋钮。3.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：王长东，
申请(专利权)人：苏州奥科飞光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32