【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及，特别涉及适合有高可靠性要求的芯片闩锁效应测试。
技术介绍
目前，芯片闩锁效应的测试基本方法，在公开的国际标准JEDEC IC Latch-Up TestJESD78B有明确规定。 如图I所示，JESD78B规定的测试触发波形有3种，分别为间断的正电流、负电流、电源过压脉冲波形。根据标准IC Latch-Up Test JESD78B规定，这3种触发脉冲波形，其脉冲宽度均为10μ s ls，电流触发脉冲幅度为正常工作电流加IOOmA或者为正常工作电流的I. 5倍，电源过压触发脉冲幅度为正常工作电源电压的I. 5倍。芯片在实际的系统应用环境中，雷电、继电器、可控硅、电机、高频器件等干扰源，产生的干扰波形类似阻尼振荡的随机高频振荡毛刺波形，通过空间电磁耦合方式或传导方式，进入芯片内部，从而触发芯片的闩锁效应。实际系统应用环境中产生的随机高频振荡毛刺信号完全能够触发芯片的闩锁效应，这种随机高频振荡毛刺信号的宽度却远低于IC Latch-Up Test JESD78B标准测试波形规定的宽度，基本上不在其规定的波形宽度10μ s Is范围内，实际系统应用环境...
【技术保护点】
一种毛刺干扰触发芯片闩锁效应的测试方法，其特征在于，用于触发闩锁效应的波形为多个间隔一定宽度的毛刺脉冲波，将一个毛刺脉冲波作为一个测试点，按照从小到大的顺序分别就各测试点的最大尖峰电压值、最大脉冲宽度、毛刺密集度进行闩锁效应触发测试，并在由最大尖峰电压值、最大脉冲宽度、毛刺密集度组成的三维的毛刺触发测试结果分布图上对每个测试点的闩锁效应触发测试结果进行标注，根据不同测试点的最大尖峰电压值、最大脉冲宽度、毛刺密集度的测试结果分布，得到芯片对不同的毛刺干扰触发闩锁效应测试的反应结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨利华，
申请(专利权)人：北京中电华大电子设计有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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