含异方IP的客户方芯片天线效应的检查方法技术

本发明专利技术公开了一种含异方IP的客户方芯片天线效应的检查方法，包括以下步骤：第一步，识别IP模块版图中所有的输入输出接口；第二步，选择用于生成最终数据所用的输入输出接口；第三步，以所选择的输入输出接口为起点，自上而下地沿着连接每个接口的线路，将与天线效应有关的线路都抽取出来；第四步，将抓取出来的线路生成一个能够被用户版图工具读取的GDSII格式文件，提供给客户；第五步，客户将该GDSII格式文件合成到主芯片中，即可进行最终数据的物理版图验证。本发明专利技术能够生成一个客户方可直接用于天线设计规则检查的数据，使设计公司在给出数据前可以通过工具进行接近实体的天线效应检查，从而避免客户因违反设计规则而造成的数据反复修改。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种芯片的检查方法，具体涉及一种含异方IP的客户方芯片天线效应的检查方法。
技术介绍
在芯片(Wafer)制造的过程中，因为作PLASM(等离子)注入的关系，大量的电荷积累可能会通过Wafer表面露出的导体层传输到门级区域，导致门级氧化膜受损，影响器件的成品率，这一现象被称为“天线效应”。为避免天线效应，一般在物理版图完成后，利用软件工具对芯片进行Antenna(天线)DRC(Design Rule Check)检查。但是IP(—种芯片单元)模块的供应商出于对己方知识产权的保护，一般不会向设计公司提供完整的IP模块版图以保证客户验证的正常进行，而只提供该IP模块的使用权，因此使用另一方IP模块的设计公司只能获得仅包含该类IP模块的接口(Port)信息的文件而无法获得内部的具体版图，无法对全芯片版图进行Antenna的检查，这将极有可能会导致送出数据(tapeout)，并且在Foundry (代工厂)合成完整数据后发现大量的天线错误(Antenna Violation)。为解决上述问题，提出以下两种解决方法I、IP模块供应商在提供的IP模块的每个引出Port上加接地的二本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种含异方IP的客户方芯片天线效应的检查方法，其特征在于，包括以下步骤：第一步，识别IP模块版图中所有的输入输出接口，包括接口的名称、位置信息；第二步，根据信息安全情况和生成数据的大小，在用户操作界面上通过用户输入选择用于生成最终数据所用的输入输出接口(Port)；第三步，以所选择的输入输出接口为起点，自上而下地沿着连接每个接口的线路，将与天线效应有关的线路都抽取出来；第四步，将抓取出来的线路生成一个能够被用户版图工具读取的GDSII格式文件，该文件仅包含天线的相关信息，提供给客户；第五步，客户在做物理版图天线效应检查时，将该GDSII格式文件合成到主芯片中，即可进行最终数据的物理版图验证。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：潘炯，施龙海，童洪亮，沈景龙，倪凌云，孙长江，
申请(专利权)人：上海华虹NEC电子有限公司，
类型：发明
国别省市：