自动化测试中扩展输入输出通道的方法技术

本发明专利技术属于自动化测试测量技术领域，具体为一种基于FPGA实现的应用于自动化测试中扩展输入输出通道的方法。本发明专利技术在测试平台和待测芯片之间加入FPGA，将测试平台的生成采集通道与待测芯片的输入输出引脚连接到FPGA的输入输出引脚；对FPGA中每一个与待测芯片引脚相连的输入输出引脚做适当配置，将各个引脚配置模块中TDO与TDI首尾相连，构建出多条并行的测试链。其中，测试平台的负责生成数据的通道与FPGA中实现的TDI端口相连，负责采集数据的通道与FPGA中实现TDO端口相连；本发明专利技术解决了动态更改通道属性的问题，简化了软件上的层次，同时减少了用于配置管脚寄存器数据的周期数，节约了测试时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于自动化测试
，具体涉及一种基于FPGA实现的应用于。
技术介绍
随着集成电路技术的不断发展，芯片的规模和复杂度的不断提高，输入输出引脚资源越来越丰富，使得芯片的测试变得更加复杂。但是除了大型的自动化测试机台(Automatic Test Equipment, ATE),常见的测试平台，如 PC (Personal Computer)机平台和新型的PXI (PCI extensions for Instruments)平台等,仅能提供较少生成采集通道用于数据的生成和采集，不足以覆盖待测芯片的所有输入输出引脚(10)。这样平台上的测试就不能完备的测试待测芯片的输入输出引脚。·在具体实现输入输出通道扩展时，同一个生成采集通道扩展到多个引脚，其中这些引脚可能既有用作输入引脚需要加载激励，也有作为输出引脚需要采集响应。即生成采集通道在参考时钟某个参考时钟周期需要生成数据，在另一个周期，需要用集数据，即在每一个参考时钟周期动态的更改生成采集通道的生成和采集属性。这一点不仅大大复杂了软件层次对硬件驱动的操作，而且在某些平台上更是不可能实现的。针对这种情况，本专利技术提出了基于本文档来自技高网...

【技术保护点】
自动化测试中扩展输入输出通道的方法，其特征在于具体步骤为：??首先，在测试平台和待测芯片之间加入FPGA，将测试平台的生成采集通道与待测芯片的输入输出引脚连接到FPGA的输入输出引脚；然后，对FPGA中每一个与待测芯片引脚相连的输入输出引脚做适当配置，形成引脚配置模块；最后，将各个引脚配置模块中TDO与TDI首尾相连，并进一步构建出多条并行的测试链；其中，所述对FPGA中每一个与待测芯片引脚相连的输入输出引脚做适当配置，?其中，使用了三个寄存器存储管脚的输入输出的方向属性和值属性：（1）方向寄存器：存储管脚的输入输出属性，决定管脚是输入还是输出，存储的值为1时，该管脚为输入管脚；存储的值为0时...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：来金梅，黄现，王元，王键，周灏，
申请(专利权)人：复旦大学，
类型：发明
国别省市：