实现芯片频率测量的测试方法技术

本发明专利技术涉及一种实现芯片频率测量的测试方法，其包括如下步骤：步骤1、提供待频率测量的集成电路芯片，并将所述集成电路芯片的PLL输出端与测试机的系统通道端口进行连接；步骤2、将测试机的系统通道端口相互连接成单比特数字转换器，且在测试机内跟踪形成单比特数字转换器的系统通道端口的输出信息；步骤3、在测试机内设定阈值电压、采样频率Fs以及采样点个数N，并启动测试机以对所述集成电路芯片进行测试，通过跟踪形成单比特数字转换器的系统通道端口的输出信息获取最大频谱Fmax，则所述集成电路芯片的频率F为：F＝Fmax±Fs/N。本发明专利技术操作方便，能有效实现集成电路芯片的频率测量，适应性好，安全可靠。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试方法，尤其是一种，属于芯片频率测量的

技术介绍
集成电路芯片的测试过程中，测试集成电路芯片的频率是一个必需的环节，否则无法进行完整的测试。目前，测试机测量频率的方法一般是通过TMU模块先在一段时间内看有多少次信号能超过所规定的阈值电压，然后计算从开始时间到结束时间超过阈值电压的个数，然后通过公式计算出期望频率。但针对美国HILEVEL公司的G150测试机来说，由于其本身没有TMU模块，所以无法进行频率的测量。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种，其操作方便，能有效实现集成电路芯片的频率测量，适应性好，安全可靠。按照本专利技术提供的技术方案，一种，所述芯片频率测量的测试方法包括如下步骤:步骤1、提供待频率测量的集成电路芯片，并将所述集成电路芯片的PLL输出端与测试机的系统通道端口进行连接；步骤2、将测试机的系统通道端口相互连接成单比特数字转换器，且在测试机内跟踪形成单比特数字转换器的系统通道端口的输出信息；步骤3、在测试机内设定阈值电压、采样频率Fs以及采样点个数N，并启动测试机以对所述集成电路芯片进行测试，通过跟踪形成单比特数字转换器的系统通道端口的输出信息获取最大频谱Fmax，则所述集成电路芯片的频率F为:F = Fmax土Fs/N。步骤3中，利用快速傅里叶变换跟踪形成单比特数字转换器的系统信号端口的输出信息，以获取所需的频谱数据，并在搜索比较后确定最大频谱Fmax。本专利技术的优点:将集成电路芯片的PLL输出端与测试机的系统通道端口连接，将测试机的系统通道端口连接并配置成单比特数字转换器，利用快速傅立叶变换跟踪形成单比特数字转换器的系统通道端口，以得到最大的频谱Fmax，从而计算得到集成电路芯片的频率，能有效实现集成电路芯片的频率测量，适应各种集成电路芯片的测试机，操作方便，安全可靠。【具体实施方式】下面结合具体实施例对本专利技术作进一步说明。为了便，能有效实现集成电路芯片的频率测量，提高集成电路芯片测量的适应性，本专利技术芯片频率测量的测试方法包括如下步骤:步骤1、提供待频率测量的集成电路芯片，并将所述集成电路芯片的PLL输出端与测试机的系统通道端口电连接；本专利技术实施例中，所述测试机可以为没有TMU模块的测试设备，集成电路芯片的PLL输出端与测试机的系统通道端口电连接，实现集成电路芯片与测试机之间的硬件连接，集成电路芯片与测试机之间连接后，能为后续的频率测试准备。一般地，测试机的系统通道端口的作用为:可以对集成电路芯片进行“写读”的功能，对集成电路芯片进行“写”操作时:给集成电路芯片加电流，加电压，加波形等；对集成电路芯片进行“读”操作时:测量集成电路芯片的电压，电流，读波形等。步骤2、将测试机的系统通道端口相互连接成单比特数字转换器，且在测试机内跟踪形成单比特数字转换器的系统通道端口的输出信息；本专利技术实施例中，测试机具有多个系统通道端口，将测试机的系统通道端口连接后，再经过测试机配置后能形成单比特数字转换器。在测试机内对多个系统通道端口连接配置成单比特数字转换器的过程为本
人员所熟知，此处不再赘述。步骤3、在测试机内设定阈值电压、采样频率Fs以及采样点个数N，并启动测试机以对所述集成电路芯片进行测试，通过跟踪形成单比特数字转换器的系统通道端口的输出信息获取最大频谱Fmax，则所述集成电路芯片的频率F为:F = Fmax土Fs/N。本专利技术实施例中，阈值电压(Threshold voltage)是通常将传输特性曲线中输出电压随输入电压改变而急剧变化转折区的中点对应的输入电压称为阈值电压，阈值电压的具体大小可以根据需要进行选择，具体为本
人员所熟知，此处不再赘述。在测试机内设置阈值电压后，跟踪形成单比特数字转换器的系统信道端口能得到输出状态的变化。采样频率Fs以及采样点个数N均可以根据需要进行选择，采样频率Fs以及采样点个数N的不同，能得到不同的精度，具体为本
人员所熟知，此处不再赘述。在具体实施时，利用快速傅里叶变换跟踪形成单比特数字转换器的系统信号端口的输出信息，以获取所需的频谱数据，并在搜索比较后确定最大频谱Fmax。一般情况下，集成电路芯片的频率F为F=Fmax-Fs/No具体实施时，还可以利用测试机的矢量窗口观察形成单比特数字转换器的系统信号端口的输出信息。通过矢量窗口进行观察时，需要通过测试机定义矢量窗口的预期产值为 “L” 和 “H”。在对集成电路芯片的频率测试时，可能会存在所述待测集成电路芯片的频率超过测试机的测试速度，此时，需要将集成电路芯片的PLL输出端与两个或多个系统通道端口电连接，以用多个系统通道端口并行进行采样，弥补测试速度不足的缺陷。【主权项】1.一种，其特征是，所述芯片频率测量的测试方法包括如下步骤: 步骤1、提供待频率测量的集成电路芯片，并将所述集成电路芯片的PLL输出端与测试机的系统通道端口进行连接； 步骤2、将测试机的系统通道端口相互连接成单比特数字转换器，且在测试机内跟踪形成单比特数字转换器的系统通道端口的输出信息； 步骤3、在测试机内设定阈值电压、采样频率Fs以及采样点个数N，并启动测试机以对所述集成电路芯片进行测试，通过跟踪形成单比特数字转换器的系统信道端口的输出信息获取最大频谱Fmax，则所述集成电路芯片的频率F为:F = Fmax土Fs/N。2.根据权利要求1所述的，其特征是:步骤3中，利用快速傅里叶变换跟踪形成单比特数字转换器的系统信号端口的输出信息，以获取所需的频谱数据，并在搜索比较后确定最大频谱Fmax。【专利摘要】本专利技术涉及一种，其包括如下步骤：步骤1、提供待频率测量的集成电路芯片，并将所述集成电路芯片的PLL输出端与测试机的系统通道端口进行连接；步骤2、将测试机的系统通道端口相互连接成单比特数字转换器，且在测试机内跟踪形成单比特数字转换器的系统通道端口的输出信息；步骤3、在测试机内设定阈值电压、采样频率Fs以及采样点个数N，并启动测试机以对所述集成电路芯片进行测试，通过跟踪形成单比特数字转换器的系统通道端口的输出信息获取最大频谱Fmax，则所述集成电路芯片的频率F为：F＝Fmax±Fs/N。本专利技术操作方便，能有效实现集成电路芯片的频率测量，适应性好，安全可靠。【IPC分类】G01R23/02【公开号】CN105092968【申请号】CN201510514656【专利技术人】王建超 【申请人】无锡中微腾芯电子有限公司【公开日】2015年11月25日【申请日】2015年8月20日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种实现芯片频率测量的测试方法，其特征是，所述芯片频率测量的测试方法包括如下步骤：步骤1、提供待频率测量的集成电路芯片，并将所述集成电路芯片的PLL输出端与测试机的系统通道端口进行连接；步骤2、将测试机的系统通道端口相互连接成单比特数字转换器，且在测试机内跟踪形成单比特数字转换器的系统通道端口的输出信息；步骤3、在测试机内设定阈值电压、采样频率Fs以及采样点个数N，并启动测试机以对所述集成电路芯片进行测试，通过跟踪形成单比特数字转换器的系统信道端口的输出信息获取最大频谱Fmax，则所述集成电路芯片的频率F为：F＝Fmax±Fs/N。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王建超，
申请(专利权)人：无锡中微腾芯电子有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32