一种GaN基半导体发光二极管及其制造方法技术

技术编号:8162741 阅读:245 留言:0更新日期:2013-01-07 20:18
本发明专利技术提供了一种GaN基半导体发光二极管的制造方法,包括形成GaN衬底,以及在GaN衬底上沉积p型接触层、有源层、n型电子阻挡层、n型过渡层和n型接触层;其中形成GaN衬底的方法包括如下步骤:在常温常压下,将GaN晶片放入高温高压装置中;对GaN晶片加热的同时加压,加热温度为820~880℃,加压压力为4.1~4.6GPa,保持10~15分钟;停止加热,使GaN晶片冷却至常温;同时缓慢卸压,使GaN晶片恢复至常压;在高温高压装置中退火20~30分钟后,取出GaN晶片。该方法可以明显的减小发光二极管衬底中的晶体缺陷密度,提高发光二极管的性能和寿命。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及ー种发光二极管的制造方法。
技术介绍
半导体发光二极管(LED)是ー种由Ga、N、As、P等的化合物制成的ニ极管,当电子与空穴复合时可以发出可见光,可用于制造发光器件,由于其结构简单,体积小,工作电流小,使用方便,成本低,目前已广泛应用于各种光电系统。 半导体发光二极管包括衬底以及依次沉积在衬底上的P/N型外延层、有源层和P/N型外延层。衬底作为LED这座大厦的地基,具有重要的作用。蓝宝石是ー种常用的LED衬底,但由于其与其上的异相外延层的晶格和热应カ失配,发热后由于膨胀程度不同会崩裂,导致器件损坏。另外一类LED衬底包括GaN, GaAs, InP, InAlGaAs, InAlGaP, InGaAsP等半导体材料。作为衬底的上述半导体材料中一般都会包括各种缺陷,例如位错、间隙或空位等,缺陷会引起晶体应变,应变会造成衬底上外延层的品质及性能降低,导致发光二极管的寿命缩短。多年来,随着半导体技术的发展,经过本领域技术人员的长期研究和实践,形成了较为完善的晶体生长エ艺流程,減少了半导体衬底材料生长过程中形成的缺陷密度。但是,人们还希望得到缺陷密度更低的衬底,制得性能更佳本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种GaN基半导体发光二极管,包括依次层叠的衬底、p型接触层、有源层和n型接触层;其特征在于,衬底为GaN,p型接触层为p型AlGaN层,n型接触层为n型GaN层;有源层为AlGaN多量子阱。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:虞浩辉周宇杭
申请(专利权)人:江苏威纳德照明科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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