【技术实现步骤摘要】
本专利技术的领域为半导体器件,更具体地,为包括多个存储器单元的存储器器件。更具体地,本专利技术涉及一种绝缘体上半导体(semiconductor on insulator, SeOI)衬底上的闪存型存储器单元,由具有浮动栅极的场效应晶体管FET形成。本专利技术还涉 及一种包括多个该类型的存储器单元的存储器阵列,以及一种控制该闪存存储器单元的方法。
技术介绍
闪存型存储器单元的结构整体上与常规的MOSFET晶体管的结构相似,除了闪存 晶体管具有两个栅极而不是一个。顶栅极对应于晶体管的控制栅极(对于其他MOS晶体管 的情况也一样),而另一个栅极,即浮动栅极布置在晶体管的控制栅极和沟道之间。控制栅 极和浮动栅极之间布置有栅极间介电层(inter-gate dielectric layer),而在浮动栅极 和沟道之间布置有栅极介电层。这些介电层差不多使浮动栅极完全绝缘,电荷能够以特别 持久的方式存储在那里。包括NMOS晶体管的NOR型闪存单元的例子在下面描述。该单元在其静止状态时 等价于逻辑“ 1 ”,因为通过在控制栅极上施加合适的电压,有电流流过沟道。通过实现热电子注 ...
【技术保护点】
一种闪存存储器单元(1、10),包括具有浮动栅极(10、20)的FET晶体管,所述浮动栅极在绝缘体上半导体衬底上,所述绝缘体上半导体衬底包括通过绝缘(BOX)层与基层衬底(5)隔开的半导体材料的薄膜,所述晶体管在所述薄膜中具有沟道(4),其特征在于,所述存储器单元包括两个控制栅极,前控制栅极(12、22)布置在浮动栅极(10、20)上方并且通过栅极间介电层(13、23)与浮动栅极(10、20)隔开,背控制栅极(6、34-37)布置在基层衬底(5)内直接在绝缘(BOX)层下面,从而仅通过绝缘(BOX)层与沟道(4)隔开,该两个控制栅极(10、20;6、34-37)设计为组合使 ...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:C·马聚尔,R·费朗,
申请(专利权)人:SOITEC绝缘体上硅技术公司,
类型:发明
国别省市:FR
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