本发明专利技术公开了一种芯片测试装置及其测试方法，该芯片测试装置包含指令产生模块、传送／接收模块及控制模块。在指令产生模块产生一第一测试指令后，传送／接收模块将该第一测试指令传送至射频识别标签芯片并自射频识别标签芯片接收一目标测试结果。控制模块用以判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果。若控制模块的判断结果为否，控制模块控制指令产生模块产生一第二测试指令以重新测试射频识别标签芯片。本发明专利技术其可达到自动化随机重复测试ＲＦＩＤ标签芯片的功效，除省去使用者编辑测试指令所花费的时间与精力外，还可以提升ＲＦＩＤ标签芯片的测试指令范围的涵盖率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种射频识别技术，尤指一种应用于射频识别标签芯片的测试 装置及其测试方法。技术背景对于射频识别(Radio Frequency Identification, RFID)标签制造商而言， 如何验证其本身所设计出的RFID标签芯片没有错误存在并且符合一种(或多 种)RFID协议的定义，是件相当重要的课题。于先前技术中，每次进行RFID标 签芯片测试之前，均必须先确认该芯片所支持的RFID协议，才能透过人工方式 编辑相对应的测试指令以供该芯片进行测试。然而，采用此种RFID标签芯片测试方法进行RFID标签芯片的测试，不仅使用者必须花费相当多的时间与精力进行测试指令的编辑，而且只能就数种较 常见的测试指令进行测试，除了无法提供多样化的测试项目以提升测试指令范 围的涵盖率外，亦不能真正达到自动化随机测试RFID标签芯片的功效。因此，本专利技术的主要范畴在于提供一种，以解 决上述问题。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种应用于射频识别标签芯片的测试装 置及其测试方法，其可达到自动化随机重复测试RFID标签芯片的功效，除省去 使用者编辑测试指令所花费的时间与精力外，还可以提升RFID标签芯片的测试 指令范围的涵盖率。为了解决以上技术问题，本专利技术提供了如下技术方案根据本专利技术的一具体实施例，本专利技术提供了一芯片测试装置。该芯片测试5装置用以测试一 RFID标签芯片。该芯片测试装置包含一指令产生模块、 一传送/接收模块及一控制模块。该 指令产生模块用以产生一第一测试指令。该传送/接收模块耦接至该指令产生模 块，并用以于该指令产生模块产生该第一测试指令后，将该第一测试指令传送 至该RFID标签芯片并自该RFID标签芯片接收一目标测试结果。该控制模块耦 接至该传送/接收模块及该指令产生模块，并用以判断该目标测试结果是否符合 一参考测试结果。若该控制模块的判断结果为否，该控制模块控制该指令产生 模块产生一第二测试指令以重新测试该RFID标签芯片。根据本专利技术的另一具体实施例，本专利技术又提供了一芯片测试方法。该芯片 测试方法用以测试一 RFID标签芯片。首先，该方法产生一第一测试指令。然后，该方法将该第一测试指令传送 至该RFID标签芯片并自该RFID标签芯片接收一目标测试结果。接着，该方法判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果。若判断结果为否，该方法产生 一第二测试指令以重新测试该RFID标签芯片。相较于先前技术，本专利技术采用的可达到自动化 随机重复测试RFID标签芯片的功效。在先前技术中，RFID标签芯片所支持的 协议种类必须先被确认，才能透过人工方式编辑相对应的测试指令以供该RFID 标签芯片测试之用。根据本专利技术的芯片测试装置除了可省去使用者编辑测试指 令所花费的时间与精力外，还能藉由随机重复测试的方式提升RFID标签芯片的 测试指令范围的涵盖率。关于本专利技术的优点与精神可以藉由以下的专利技术详述及所附图式得到进一步 的了解。附图说明图1是绘示根据本专利技术第一具体实施例的芯片测试装置的功能方块图。 图2绘示芯片测试装置的一范例。图3是绘示根据本专利技术第二具体实施例的芯片测试方法的流程图。主要组件符号说明S10 ~ S20:流程步骤1:芯片测试装置2: RFID标签芯片测试装置9:目标芯片10、 20:指令产生模块12、 22:传送/接收模块14、 24:控制模块16、 26:仿真模块102:数据库144:记录单元146:分析单元7: RFID标签芯片122:转换单元具体实施方式根据本专利技术第一具体实施例为一芯片测试装置。请参照图1，图1是绘示 该芯片测试装置的功能方块图。如图1所示，芯片测试装置1包含指令产生模块10、传送/接收模块12及控制模块14。于本实施例中，芯片测试装置1的功 能在于测试一目标芯片9。实际上，目标芯片9可以是一RFID标签芯片或其它 心片。指令产生模块10的功用在于根据控制模块14的一控制讯号产生一第一测 试指令。在实际应用中，指令产生模块10可以随机地产生该第一测试指令。因 此，该第一测试指令可以是一随机数或符合某个RFID协议所定义的指令。传送/接收模块12耦接至指令产生模块10，其功用在于将该第一测试指令 传送至目标芯片9并自目标芯片9接收一目标测试结果。在实际应用中，传送/ 接收模块12可以是一芯片读取器，例如RFID标签芯片读取器。如图1所示， 传送/接收模块12可以藉由一天线与目标芯片9间进行包含第一测试指令或目 标测试结果讯号的传输。除此之外，传送/接收模块12亦可透过有线的方式耦 接至目标芯片9以进行讯号的传输。此外，由于目标芯片9与芯片测试装置1所支持的讯号格式可能不同，因此，传送/接收模块12可以包含一转换单元122。转换单元122的功用即在于 将该第一测试指令传送至目标芯片9之前，先把该第一测试指令的讯号格式转 换成符合目标芯片9的目标讯号格式。举例而言，若目标芯片9为RFID标签芯 片，转换单元122即会将该第一测试指令的讯号格式转换成RFID讯号格式。控制模块14耦接至传送/接收模块12及指令产生模块10。控制模块14的 功用在于判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果。也就是说，控制模块 14是用以根据目标测试结果判定目标芯片9是否通过该第一测试指令的测试。 若控制模块14的判断结果为否，表示目标芯片9并未通过该第一测试指令的测 试，控制模块14将会控制指令产生模块10产生第二测试指令以重新测试目标 芯片9。另一方面，若控制模块14的判断结果为是，表示目标芯片9已通过该 第一测试指令的测试。此时，控制模块14亦可控制指令产生模块10产生第二 测试指令以继续进行目标芯片9的测试。在实际应用中，该第二测试指令可与该第一测试指令不同并且可以由指令 产生模块10随机地产生。至于上述该参考测试结果则可藉由下列各种不同的方 式产生。第一种情形是透过模拟的方式以得到该参考测试结果。若采用此方式，芯 片测试装置1可进一步包含一仿真模块16。如图1所示，仿真模块16耦接至 指令产生模块10及控制模块14。仿真模块16的功用在于根据该第一测试指令 仿真一标准芯片的反应来产生该参考测试结果。第二种情形则是透过查找的方式以得到该参考测试结果。若采用此方式， 指令产生模块10可包含一数据库102。数据库102可以储存有包含该参考测试 结果的复数个测试结果，指令产生模块10可以于产生该第一测试指令时，同时至数据库102中由该等测试结果里选取该参考测试结果。实际上，数据库102 所储存的该等测试结果可以是先前进行测试时所得到的测试结果或是原本已预 设的测试结果。至于另一种情形则是透过对照的方式以得到该参考测试结果。详细地说， 此方式是藉由相对于目标芯片9的一标准的对照芯片以达成。该对照芯片于接 收该第一测试指令后，会做出反应并产生一对照测试结果，此一对照测试结果 即可被视为该参考测试结果。实际上，若目标芯片9为尚未测试过的RF工D标签 芯片，则目标芯片9所产生的目标测试结果将不同于该对照芯片所产生的参考 测试结果。如图1所示，在实际应用中，控制模块14包含记录单元144及分析单元 146。无论控制模块14的判断结果为是或否，控制模块14的记录单元144均会 把此次测试中目标芯片9的本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种芯片测试装置，用以测试一射频识别标签芯片，其特征在于，它包含： 一指令产生模块，用以产生一第一测试指令； 一传送／接收模块，耦接至该指令产生模块，用以将该第一测试指令传送至该射频识别标签芯片并自该射频识别标签芯片接收一目标测试结果；以及 一控制模块，耦接至该传送／接收模块及该指令产生模块，用以判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果，若判断结果为否，该控制模块控制该指令产生模块产生一第二测试指令以重新测试该射频识别标签芯片。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄志华，张至岩，
申请(专利权)人：晨星软件研发深圳有限公司，晨星半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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