本发明专利技术实施例公开了一种数字接口射频芯片测试方法、装置和系统。可以为数字接口射频芯片提供测试所需的初始数据，并对数字接口射频芯片返回的数据进行采集和分析，同时可以根据初始数据中的接收或发送控制字，为数字接口射频芯片直接提供控制信号，使得在进行收发测试分析时，无需信号发生器和逻辑分析仪，也无需频繁的插拔数字接口射频芯片的接口进行接收、发送的切换，保护了射频芯片的数字接口，使测试能够快速连续的进行，简化了测试装置，降低了测试成本。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及射频芯片测试领域，更具体地说，涉及一种数字接口射频芯片测试方 法、装置和系统。
技术介绍
数字接口射频芯片的数据端口具有写入，读取功能。在进行接收测试时需要使用 逻辑分析仪，对接收到的数据采集分析，在进行发送测试时需要使用信号发生器为数字接 口射频芯片提供测试数据，因此在测试数字接口射频芯片时，在发送时需要将数字接口射 频芯片的接口连接到信号发生器，而在接收时需要将数字接口射频芯片的接口连接到逻辑 分析仪的端口。此外在传统的数字芯片测试方案中，信号发生器和逻辑分析仪不能直接提 供数字接口射频芯片控制信号，而需要另外的通路提供。通过对现有技术的研究，专利技术人发现，传统的测试方案中需要频繁的插拔数字接 口射频芯片的接口，极易损坏接口，也不利于连续快速的进行测试，同时传统的测试装置也 无法直接提供数字接口射频芯片控制信号，需要另外的通路提供，也增加了测试装置的复 杂性和成本。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术的目的在于提供一种数字接口射频芯片测试方法、 装置和系统，使得在进行收发测试分析时，无需信号发生器和逻辑分析仪，也无需频繁的插 拔数字接口射频芯片的接口，使测试能够快速连续的进行，同时直接为数字接口射频芯片 提供控制信号。为实现上述目的，本专利技术提供了如下技术方案一种数字接口射频芯片测试方法，包括信号生成单元根据测试信号数据生成初始数据并发送到信号收发单元，所述初始 数据的高位为接收或发送控制字；信号收发单元接收所述初始数据并存储在存储单元中；信号收发单元接收信号生成单元发送的收发工作指令，并根据所述初始数据的接 收或发送控制字，向数字接口射频芯片发送控制信号；信号收发单元与射频芯片同步进入 相应的发送状态或接收状态；当信号收发单元处于发送状态时，将所述初始数据发送到数字接口射频芯片；当 信号收发单元处于接收状态时，接收数字接口射频芯片的返回信号并存储在存储单元中。本专利技术实施例还提供了一种数字接口射频芯片测试装置，包括信号生成单元、信号收发单元和存储单元；所述信号生成单元，用于根据测试信号数据生成初始数据并发送到信号收发单 元，和向信号收发单元发送控制指令；所述初始数据的高位为接收或发送控制字；所述信号收发单元，用于根据接收到的控制指令，将初始数据存储在存储单元中，将所述初始数据发送到数字接口射频芯片，将数字接口射频芯片的返回信号存储在存储单 元，和根据所述初始数据的接收或发送控制字，向数字接口射频芯片发送控制信号；所述存储单元，用于存储接收到的初始数据和从数字接口射频芯片接收到的返回 信号数据。一种数字接口射频芯片测试系统，包括控制端、数字接口射频芯片和所述数字接口射频芯片测试装置。 应用本专利技术提供的数字接口射频芯片测试方法、装置和系统，可以为数字接口射 频芯片提供测试所需的数据，并对数字接口射频芯片返回的数据进行采集和分析，同时可 以根据初始数据中的接收或发送控制字，为数字接口射频芯片直接提供控制信号，使得在 进行收发测试分析时，无需信号发生器和逻辑分析仪，也无需频繁的插拔数字接口射频芯 片的接口进行接收、发送的切换，保护了射频芯片的数字接口，使测试能够快速连续的进 行，简化了测试装置，降低了测试成本。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以 根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的数字接口射频芯片测试方法的流程图；图2为本专利技术实施例提供的数字接口射频芯片测试方法的另一种流程图；图3为本专利技术实施例提供的数字接口射频芯片测试装置的结构图；图4为本专利技术实施例提供的数字接口射频芯片测试装置的另一种结构图；图5为本专利技术实施例提供的数字接口射频芯片测试装置的信号发生单元的结构 图；图6为本专利技术实施例提供的数字接口射频芯片测试装置的又一种结构图；图7为本专利技术实施例提供的数字接口射频芯片测试系统的结构图。具体实施例方式本专利技术实施例提供一种数字接口射频芯片测试方法、装置和系统。信号生成单元 根据测试信号数据生成初始数据并发送到信号收发单元，所述初始数据的高位为接收或发 送控制字；信号收发单元接收所述初始数据并存储在存储单元中；信号生成单元向信号收 发单元发送收发工作指令；信号收发单元接收收发工作指令，并根据所述初始数据的接收 或发送控制字，向数字接口射频芯片发送控制信号；信号收发单元与射频芯片同步进入相 应的发送状态或接收状态；当信号收发单元处于发送状态时，将所述初始数据发送到数字 接口射频芯片；当信号收发单元处于接收状态时，接收数字接口射频芯片返回的数据并存 储。下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于 本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例一本专利技术实施例中公开的数字接口射频芯片测试方法的流程图如图1所示，实现步 骤如下 步骤SlOl 信号生成单元根据测试信号数据生成初始数据并发送到信号收发单 元，所述初始数据的高位为接收或发送控制字；可以根据TD-SCDMA子帧或时隙的信号数据生成初始数据，也可根据电子表格、文 本等数据存储文件生成初始数据。步骤S102 信号收发单元接收所述初始数据并存储在存储单元中；步骤S103 信号收发单元接收信号生成单元发送的收发工作指令，并根据所述初 始数据的接收或发送控制字，向数字接口射频芯片发送控制信号；信号收发单元与射频芯 片同步进入相应的发送状态或接收状态；步骤S104 当信号收发单元处于发送状态时，将所述初始数据发送到数字接口射 频芯片；当信号收发单元处于接收状态时，接收数字接口射频芯片的返回信号并存储在存 储单元中。此外，参见图2所示，为数字接口射频芯片测试方法的另一种流程示意图，该方法 还可以包括步骤S105 信号解析单元读取存储单元中存储的数字接口射频芯片的返回信号， 将返回信号解析为数据和/或控制信号并发送到显示单元；步骤S106 显示单元图形化显示信号解析单元或信号生成单元得到的数据和/或 控制信号。本实施例中，所述信号生成单元、信号解析单元和显示单元可以为计算机中的应 用程序模块，所述信号收发单元可以通过可编程器件实现，通过数字接口连接到射频芯片。本实施例提供的数字接口射频芯片测试方法与传统的测试方法相比较，可以为数 字接口射频芯片提供测试所需的数据，并对数字接口射频芯片返回的数据进行采集和分 析，同时可以根据初始数据中的接收或发送控制字，直接为数字接口射频芯片提供控制信 号，使得在进行收发测试分析时，无需信号发生器和逻辑分析仪，也无需频繁的插拔数字接 口射频芯片的接口进行接收、发送的切换，保护了射频芯片的数字接口，使测试能够快速连 续的进行，简化了测试装置，降低了测试成本。实施例二本专利技术实施例还公开了一种数字接口射频芯片测试装置，参见图3所示为该装置 的一种结构示意图，包括信号生成单元301、信号收发单元302和存储单元303 ；所述信号生本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种数字接口射频芯片测试方法，其特征在于，包括：信号生成单元根据测试信号数据生成初始数据并发送到信号收发单元，所述初始数据的高位为接收或发送控制字；信号收发单元接收所述初始数据并存储在存储单元中；信号收发单元接收信号生成单元发送的收发工作指令，并根据所述初始数据的接收或发送控制字，向数字接口射频芯片发送控制信号；信号收发单元与射频芯片同步进入相应的发送状态或接收状态；当信号收发单元处于发送状态时，将所述初始数据发送到数字接口射频芯片；当信号收发单元处于接收状态时，接收数字接口射频芯片的返回信号并存储在存储单元中。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李志俊，李俊鸿，
申请(专利权)人：广州市广晟微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：81[中国|广州]
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