一种数字电路板自动生成向量的测试方法技术

一种数字电路板自动生成向量的测试方法，解决对任意数字电路板都可以测试、提高测试的可靠性与效率的技术问题，采用的技术方案是，本方法是在安装有配套测试程序和自动测试生成系统的上位机与执行测试程序的下位机的配合下实现的，以上测试方法首先对被测电路进行自动测试并生成得到相应测试向量表，其次根据所生成的向量表编写测试程序、并按此程序的时序关系执行测试过程，最后读取被测电路的响应信息并与标准向量信息比较，判断被测电路的故障。本发明专利技术的优点是测试能力强、测试生成系统得到的测试向量可以自动转化为被测电路的测试程序，提高了系统的执行效率，使系统可以十分方便地应用于新型电路板的试验测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子测试系统领域，主要用于数字电路板的测试与故障诊 断需要，具体涉及。
技术介绍
随着装备信息化程度的不断加强，数字电路已经成为电子装备的重要 组成部分。其质量直接影响到装备整机的质量，其生产、维修和检验周期， 直接影响到整机的研制速度和综合指标。因此，对数字电路的测试和故障 诊断技术进行研究已经成为现代测试技术研究的重要领域。但是，大多数 的测试系统都是针对整台设备或系统设计的，针对电路板进行测试的自动 测试方法还不多见。许多测试系统中的测试向量生成主要依靠工程测试人员凭借自己的丰 富经验和理论知识完成，这不仅对测试人员的素质要求较高，而且测试速 度慢、可信度低，尤其是随着系统的日趋复杂，测试周期长，无法排除测 试结果中的人为因素，无法实现集成电路大批量自动测试。基于计算机自动测试生成方法是从Eldred于1959年提议采用推导测试的技术开始，目前 国际上已经在数字电路测试生成方面提出了许多算法。其中，有代表的主 要有 一维敏化法、布尔差分法、D算法、九值D算法、PODEM和FAN 算法。上述方法都是建立在SSA模型基础上的，而且都沿用了通路敏化的 思想。而且对于时序电路来说，其主要由存储元件(如触发器)和组合逻辑电路(如组合逻辑门)组成，电路的输出不仅与当前的输入有关，还与 电路的历史状态有关，因此其测试生成远比组合电路的测试生成复杂。目 前对时序电路而言，比较有效的测试生成方法主要有扩展的向后驱赶(Extended Back-Trace, EBT)算法、FASTEST算 去、CONTEST算法等。 不过，这些算法实现起来较困难，很多都是停留在理论研究层面，实际系 统并没有得到应用。
技术实现思路
为解决对任意数字电路板都可以测试、提高测试的可靠性与效率的技 术问题，本专利技术设计了，可以根 据被测电路的不同自动生成向量进行测量，可以十分方便地实现测试端口 方向的任意配置，满足不同类型电路板的测试需求。本专利技术实现专利技术目的采用的技术方案是， 一种数字电路板自动生成向 量的测试方法，以上方法是在安装有配套测试程序和自动测试生成系统的 上位机中实现的，测试方法首先对被测电路进行自动测试生成并得到相应 测试向量表，其次根据所生成的向量表编写测试程序、并按此程序的时序 关系执行测试过程，最后读取被测电路的响应信息并与标准向量信息比较， 判断被测电路的故障，其中所说的对被测电路进行自动测试生成并得到相应测试向量表的具体过程是A) 、将被测电路的数据信息文件以编码形式存入指定的系统数据库中；B) 、根据编码文件进行D通路敏化处理，找到一个D故障传播路径， 并将故障响应信息以测试向量表的形式通过D故障传播路径存储到电路端口地址；C) 、对找出的D通路进行一致性检査，删除错误向量和冗余向量的真 值表，将符合要求的测试向量真值表存入系统数据库中；D) 、重复步骤B和步骤C，控制每次生成的符合要求的测试向量真值 表的个数；E) 、得到所有符合被测电路的测试向量，按照时序、顺序关系存入系 统数据库，等待下位机执行测试程序。本专利技术的有益效果是测试能力强、测试生成系统得到的测试向量可以 自动转化为被测电路的测试程序，提高了系统的执行效率，使系统可以十 分方便地应用于新型电路板的试验测试。下面结合附图对本专利技术进行详细说明。 附图说明图l是本专利技术的方法流程图。 具体实施例方式参看图l， ，以上方法是在安 装有配套测试程序和自动测试生成系统的上位机中实现的，上述的测试方 法首先对被测电路进行自动测试生成并得到相应测试向量表，其次根据所 生成的向量表编写测试程序、并按此程序的时序关系执行测试过程，最后 读取被测电路的响应信息并与标准向量信息比较，判断被测电路的故障， 其中所说的对被测电路进行自动测试生成并得到相应测试向量表的具体过 程是A) 、将被测电路的数据信息文件以编码形式存入指定的系统数据库中;B) 、根据编码文件进行D通路敏化处理，找到一个D故障传播路径，并将故障响应信息以测试向量表的形式通过D故障传播路径存储到电路端口地址；C) 、对找出的D通路进行一致性检查，删除错误向量和冗余向量的真 值表，将符合要求的测试向量真值表存入系统数据库中；D) 、重复步骤B和步骤C，控制每次生成的符合要求的测试向量真值 表的个数；E) 、得到所有符合被测电路的测试向量，按照时序、顺序关系存入系 统数据库，等待下位机编写并执行测试程序。上述的步骤B中将故障响应信息以测试向量表的形式存储到电路端口 地址的过程是从输出端向输入端进行信息传输的。上述的步骤A中的数据信息文件可以来自计算机辅助设计软件生成的 文件，也可以根据定义好的数据格式进行手动输入。上述的步骤D中重复步骤B和步骤C的次数是根据被测电路D通路故 障的数目和实际电路中逻辑门的数量共同决定的。本专利技术的测试方法的完整过程是首先对被测电路进行自动测试并生 成，根据得到的测试向量自动编写测试程序。根据测试程序，上位机首先 对测试端口进行方向配置，然后按照时序关系执行测试，并读取来自被测 电路的响应信息，通过与标准向量信息进行对比，判断被测电路的故障。其中数字电路板自动测试向量生成方法主要表现在首先对被测电路 进行D路通路敏化，找到电路的D通路，然后对D通路进行一致性检査， 删除错误向量和冗余向量，最后得到被测电路的测试向量，并存入系统模 型数据库，经过格式转换后送到自动测试系统用以执行测试任务。如果按照传统D算法思想，先敏化路径然后再统一进行一致性检查的 话，产生的敏化路径的数量将达到天文数字，测试向量生成将变成一个"不 可能完成"的任务。因此必须在每一步回溯时，进行一致性检查，及时删 除不符合要求的D立方(D立方是一个压縮的真值表，可以作为电路的测 试向量)，减少计算机的计算量，加快测试向量生成的速度。本专利技术的测试方法的可测对象包含多时钟、含有复杂功能的时序电路。 本测试方法的算法思想在传统D算法的基础上进行很大的改进。主要表现 在以下四个方面(1) 、 D通路不再是从输入端开始向输出端敏化，而是从输出端向输 入端进行回溯敏化。生成的敏化通路较长，测试向量覆盖的测试路径多， 可以在满足同样故障覆盖率的要求下，尽量减少测试中间节点的个数。(2) 、采用每完成一步敏化，立即进行一致性检査的策略。另外，在 每一步敏化后，进行一致性检查过程中添加选择策略，控制每次生成的D 立方的个数，降低敏化路径的计算量，提高测试向量生成速度。(3) 、为了实现时序电路测试生成，让D立方携带时序信息。在每次 路径敏化时，只要将D方程中的延时信息与本次敏化所需的D立方中的延 时信息叠加即可。(4) 、采用多个时钟栈，解决电路的多时钟问题。权利要求1、，以上方法是在安装有配套测试程序和自动测试生成系统的上位机与执行测试程序的下位机的配合下实现的，其特征在于所述的测试方法首先对被测电路进行自动测试生成并得到相应测试向量表，其次根据所生成的向量表编写测试程序、并按此程序的时序关系执行测试过程，最后读取被测电路的响应信息并与标准向量信息比较，判断被测电路的故障，其中所说的对被测电路进行自动测试生成并得到相应测试向量表的具体过程是A)、将被测电路的数据信息文件以编码形式存入指定的系统数据库中；B)、根据本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数字电路板自动生成向量的测试方法，以上方法是在安装有配套测试程序和自动测试生成系统的上位机与执行测试程序的下位机的配合下实现的，其特征在于：所述的测试方法首先对被测电路进行自动测试生成并得到相应测试向量表，其次根据所生成的向量表编写测试程序、并按此程序的时序关系执行测试过程，最后读取被测电路的响应信息并与标准向量信息比较，判断被测电路的故障，其中所说的对被测电路进行自动测试生成并得到相应测试向量表的具体过程是：　Ａ）、将被测电路的数据信息文件以编码形式存入指定的系统数据 库中；　Ｂ）、根据编码文件进行Ｄ通路敏化处理，找到一个Ｄ故障传播路径，并将故障响应信息以测试向量表的形式通过Ｄ故障传播路径存储到电路端口地址；　Ｃ）、对找出的Ｄ通路进行一致性检查，删除错误向量和冗余向量的真值表，将符合要求的测试向量真值 表存入系统数据库中；　Ｄ）、重复步骤Ｂ和步骤Ｃ，控制每次生成的符合要求的测试向量真值表的个数；　Ｅ）、得到所有符合被测电路的测试向量，按照时序、顺序关系存入系统数据库，等待下位机编写并执行测试程序。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄考利，连光耀，王振生，邓大权，吕晓明，陈星，
申请(专利权)人：中国人民解放军六三九零八部队，
类型：发明
国别省市：13[中国|河北]