数字基带芯片中Ｉ２Ｃ模块的自动测试电路结构及其方法技术

本发明专利技术涉及一种数字基带芯片中Ｉ２Ｃ模块的自动测试电路结构及方法，电路结构包括数字基带芯片中的ＧＰＩＯ端口，其中数字基带芯片中的Ｉ２Ｃ模块与ＧＰＩＯ端口相连接。方法包括对Ｉ２Ｃ模块进行复位操作、初始化Ｉ２Ｃ模块中的工作寄存器及ＧＰＩＯ端口的工作寄存器、使能Ｉ２Ｃ模块并根据Ｉ２Ｃ协议的工作方式进行Ｉ２Ｃ模块和ＧＰＩＯ端口之间的数据发送接收测试、检验ＧＰＩＯ端口的测试数据和Ｉ２Ｃ模块的缓存数据的一致性、改变Ｉ２Ｃ模块的测试参数并重复上述过程。采用该种数字基带芯片中Ｉ２Ｃ模块的自动测试电路结构及其方法，降低了硬件电路复杂度，降低了测试成本，提高了系统稳定性，增强了测试程序的可移植性，提高了测试结果的可靠性，测试过程方便快捷，工作性能稳定可靠，适用范围较为广泛。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路
，特别涉及集成电路芯片测试领域，具体是指一种 数字基带芯片中I2C模块的自动测试电路结构及其方法。
技术介绍
在芯片生产过程中，为了筛选次品，需要用自动化测试系统对其进行批量测试。测 试系统的稳定性，以及对芯片各功能模块的覆盖率，都是影响测试结果可靠性的重要因素。GPIO(通用可编程输入输出口)是 General Programmable Input Output 的简 称，当微控制器或芯片组没有足够的I/O端口，或当系统需要采用远端串行通信或控制时， GPIO产品能够提供额外的控制和监视功能。I2C(Inter-Integrated Circuit，集成电路之间)总线是由PHILIPS公司开发的 一种两线式串行总线，用于连接微控制器及其外围设备，广泛应用于数字基带芯片。I2C总线是由数据线和时钟线构成的串行总线，可发送和接收数据。每个器件都有 一个唯一的地址识别，且都可以作为发送器或接收器，在执行数据传输时也可以被看作是 主机或从机。I2C包括7/10bit地址、起始字节(Start Byte)、广播呼叫(General Call) 等工作模式。数字基带芯片I2C模块的一般测试方法是将芯片的I2C模块与外接I2C器件进行 通讯，对芯片I2C缓存内的数据进行校验，如E2PR0M，对其进行读写操作，将发送数据与接 收数据进行比较。但是此类方案都受限于外接器件硬件电路，以及所支持的工作模式和时 序要求。改变测试平台的硬件环境，则相应的测试程序也需要改变，不但增加了测试系统的 复杂程度和成本，而且无法完整覆盖数字基带芯片I2C模块的各种功能。综上所述，其具有以下缺点(1)硬件电路复杂，增加了系统不确定因素，降低了测试结果的可靠性；(2)增加了测试成本；(3)测试模式单一，不能完全覆盖I2C各种工作模式；(4)只能对结果进行比较分析，不能对通讯过程中的具体时序进行分析；(5)测试程序的可移植性较差。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种能够实现数字基带芯片 的I2C模块的自动化测试、电路结构简单、测试过程方便快捷、工作性能稳定可靠、适用范 围较为广泛的数字基带芯片中I2C模块的自动测试电路结构及其方法。为了实现上述的目的，本专利技术的数字基带芯片中I2C模块的自动测试电路结构及 其方法如下该数字基带芯片中I2C模块的自动测试电路结构，包括数字基带芯片中的通用输 入输出GPIO端口，其主要特点是，所述的数字基带芯片中的I2C模块与所述的通用输入输出GPIO端口相连接。该数字基带芯片中I2C模块的自动测试电路结构中的通用输入输出GPIO端口包 括第一 GPIO端口和第二 GPIO端口，所述的I2C模块中的时钟端口与所述的第一 GPIO端口 相连接，所述的I2C模块中的数据收发端口与所述的第二 GPIO端口相连接。该基于上述的电路结构实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法，其主要 特点是，所述的方法包括以下步骤(1)对数字基带芯片中的I2C模块进行复位操作；(2)对所述的I2C模块中的工作寄存器及所述的通用输入输出GPIO端口的工作寄 存器进行初始化处理；(3)将所述的I2C模块使能，并根据I2C协议的工作方式进行I2C模块和通用输入 输出GPIO端口之间的数据发送接收测试操作；(4)检验所述的通用输入输出GPIO端口的测试数据和所述的I2C模块的缓存数据 的一致性；(5)改变所述的I2C模块的测试参数，重复上述步骤(2) ⑷。该实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法中的I2C协议的工作方式可以 为I2C模块作为主机发送数据，所述的I2C模块和通用输入输出GPIO端口之间的数据发送 接收测试操作，包括以下步骤(11)所述的数字基带芯片向I2C模块的发送缓存中写入测试数据；(12)所述的I2C模块向所述的通用输入输出GPIO端口发送时钟信号；(13)所述的通用输入输出GPIO端口检测所述的I2C模块所发送来的起始信号、地 址字节以及写控制信号，以字节为单位开始接收测试数据，并发送响应信号；(14)在测试数据接收过程中根据I2C协议对接收时序进行判断，如果相应的接收 时序与I2C协议不符，则将测试标志位设置为出错状态；(15)所述的通用输入输出GPIO端口检测到所述的I2C模块所发送来的停止信号 后结束接收。该实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法中的改变I2C模块测试参数， 包括以下的一个方式或者多个方式(a)改变发送数据长度；(b)改变地址模式为7bit或IObit ；(c)改变工作模式为起始字节(Start byte)模式或者广播呼叫(General Call) 模式。该实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法中的I2C协议的工作方式可以 为I2C模块作为主机接收数据，所述的I2C模块和通用输入输出GPIO端口之间的数据发送 接收测试操作，包括以下步骤(21)所述的数字基带芯片将I2C模块的接收缓存清空；(22)所述的I2C模块向所述的通用输入输出GPIO端口发送时钟信号；(23)所述的通用输入输出GPIO端口检测所述的I2C模块所发送来的起始信号、地 址字节以及读控制信号，开始发送测试数据，每发送完一个字节，等待接收I2C模块的响应信号；(24)在测试数据发送过程中根据I2C协议对发送时序进行判断，如果相应的发送 时序与I2C协议不符，则将测试标志位设置为出错状态；(25)所述的通用输入输出GPIO端口接收到所述的I2C模块所发送来的不响应位或者停止信号后结束发送。该实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法中的改变I2C模块测试参数， 包括以下的一个方式或者多个方式(a)改变接收数据长度；(b)改变地址模式为7bit或IObit ；(c)改变工作模式为起始字节模式或者广播呼叫模式。该实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法中的I2C协议的工作方式可以 为I2C模块作为从机接收数据，所述的I2C模块和通用输入输出GPIO端口之间的数据发送 接收测试操作，包括以下步骤(31)所述的数字基带芯片将I2C模块的接收缓存清空；(32)所述的通用输入输出GPIO端口向所述的I2C模块发送时钟信号；(33)所述的通用输入输出GPIO端口向所述的I2C模块发送起始信号、地址字节以 及写控制信号，并开始发送测试数据，每发送完一个字节，等待接收I2C模块的响应信号；(34)在测试数据发送过程中根据I2C协议对发送时序进行判断，如果相应的发送 时序与I2C协议不符，则将测试标志位设置为出错状态；(35)所述的通用输入输出GPIO端口接收到所述的I2C模块所发送来的不响应位 或者所述的通用输入输出GPIO端口将所有的测试数据均发送完毕并产生停止信号后结束 发送。该实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法中的改变I2C模块测试参数， 包括以下的一个方式或者多个方式(a)改变接收数据长度；(b)改变地址模式为7bit或IObit ；(c)改变工作模式为起始字节模式或者广播呼叫模式。该实现数字基带芯片中I2C模块的自动测试的方法的I2C协议的工作方式可以为 I2C模块作为从机发送数据，所述的I2C模块和通用输入输出GPIO端口之间的数据发送接 收本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数字基带芯片中Ｉ２Ｃ模块的自动测试电路结构，包括数字基带芯片中的通用输入输出ＧＰＩＯ端口，其特征在于，所述的数字基带芯片中的Ｉ２Ｃ模块与所述的通用输入输出ＧＰＩＯ端口相连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：胡垚，
申请(专利权)人：上海摩波彼克半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]