本发明专利技术公开了一种基于向量相容的测试向量编码压缩方法。它包括测试向量的压缩和编码后的解压缩两部分，首先确定测试向量的编码，从测试向量集中取出向量ｔ↓［１］，通过与ｔ↓［１］相容性最大的向量合并，并确保整体压缩率的提升，完成对测试向量的分组并对测试向量组编码。解码时将编码移入到被测电路保存，重复对编码解码，直到还原被压缩之前的向量组。本发明专利技术根据相容性最大的关系把测试向量集分组，并将测试向量组内的向量合并编码，不相容的位置用标记码标出，极大的减少了用地址信息标记所需的位数，在编码两端分别插入组头信息和组分割码。解码时，将测试向量组的编码移入被测电路保存，可以重复利用，极大地降低了测试机与被测电路的带宽。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路测试技术，尤其涉及一种基于测试向量相容的测试向 量编码压縮方法。
技术介绍
随着芯片制造技术的进步以及新的设计方法的产生，特别是向soc设计方法的转变，大量的IP(Intdlectual Property)核组合在一起形成片上系统(SOC， System-On-Chip)。导致芯片的复杂度直线上升，每个IP核的测试数据一般都 十分庞大(为了达到很高的错误覆盖率)，测试时间变得冗长、测试数据量变 得异常庞大，这就使得测试单个SOC所用的测试向量超出了测试设备性能允 许的范围，测试成本急剧上升。测试成本已经成为芯片成本的主要组成部分， 如何减少测试成本进而减少芯片成本成为研究人员日益关注的问题。BIST (Built-In-Self-Test)测试方法是能解决上述问题的方法之一，但具有芯片面积 开销较大和难测故障等一些缺点，并且现有大量IP核并不具有BIST结构。通 过测试数据的压縮/解压縮的方法可以解决测试设备性能不足的问题以及縮短 测试时间。数据压縮主要包含两类基于线性反馈移位寄存器LFSR (Linear Feedback Shift Register)的重播种技术和基于编码的技术。LFSR在压縮存在大 量无关位的测试集时有很大的优势，不适合确定位个数过多的情况。基于编码 的技术通过对测试集定长或者变长的序列进行编码，可以有效减少测试数据 量。在测试集中有大量的无关位"x"存在，可以将"x"设为"0"或"1"; 测试集中相邻的向量具有很好的相关性，它们之间只有很少的位数值是不同 的。利用这个结果可以得到新的差分测试集，该集合具有更好的"0"的游程， 编码效率更高；也可以合并相邻的向量，减少向量个数，对合并后的向量压縮， 也能很大的提高压縮率。把压縮后的数据放入ATE (Automatic Test Equipment) 内存中，由芯片的解码模块进行解码，还原测试向量，减少了测试机与被测芯 片的带宽和测试时间。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对当前只对单个向量进行编码而没有结合向量相容性 的不足，提出一种基于向量相容的测试向量编码压縮方法。基于向量相容的测试向量编码压縮方法包括测试向量的压縮和编码后的 解压缩两部分，测试向量的压縮包括如下步骤1) 确定测试向量的编码；2) 由被测电路得到第一测试向量集R,选取第一测试向量集R中任一个 第一向量~，将第一向量0从第一测试向量集R中移出，放入测试向量组S中， 测试向量组S内的向量个数m为1，设第二测试向量集H，第二测试向量集H 与第一测试向量集R相同；3) 从第二测试集H中找出与第一向量^相容性最大的第二向量6，并将 第二向量^从第二测试集H中移出；4) 若"2大于 w并且第二测试集H不是空集，则返回步骤3)，若第二 测试集H为空集，则到步骤7)完成分组，若W2小于 w则到步骤5)，其 中，"，为测试向量之间不相容位的最大个数，"M^的值可自定义，^为第一 向量0与第二向量^不相容位的个数；5) 将第二向量b移入测试向量组S中，向量个数m的值增加l，求出第 一向量~与第二向量b相容后的第四向量"；6) 对测试向量组S编码，计算第一测试向量组S的压縮率J和第二向量 ^的压縮率^c。^，判断第二向量^是否要从测试向量组S移出，若第二测试向 量集H为空集，则到步骤7)，若第二测试向量集H不为空集，则到步骤3);7) 完成对测试向量组S的分组，对测试向量组S编码，得到表示测试相 量组S内向量个数m的编码Af、表示不相容位个数"的编码iV以及表示不相 容位上值信息的编码Q，由第一向量^得到第六向量^，第六向量&的编码为 T6—code,从第一测试向量集R中移出测试向量组S内的向量；8) 若第一测试向量集R为空集，则分组结束，若第一测试向量集R不为 空集，则回到步骤2)开始下一测试向量组；编码后的解压縮包括如下步骤9) 将表示测试向量组S内向量个数m的编码M、不相容位个数"的编码 W和不相容位上值的信息的g输入到被测电路保存，然后输入第六向量^的编 码T6一code到被测电路；10) 对第六向量&的编码T6—code进行解码，当遇到码字"00"时，将"00" 之前的码字解码后的最后一位用步骤9)保存过的不相容位上的值替换，还原 一个被压縮的向量，编码M的值减1;11) 若编码M的值不为0，则回到步骤10)继续对第一向量^解码，若 编码M的值为0，则对测试向量组S解码完成。所述步骤l)包括a) 码字由前缀和后缀组成，将码字分组，设编码组为^t，其中A:为组号， 码字的前缀和后缀的位数均为&b) 码字前缀最后一位为"0"，其余位为"1"。码字后缀是由2^个01组合 组成，顺序按大小排列；c) 第一编码组A只有只有一个码字"01"用于游程"0"的编码，码字 "00"用于标记不相容位的位置；d) 对于长度为/的"0"的游程，落在哪一个编码组是有如下公式决定的'("4):log 2 -17^0/(/)，/柳=e) 测试集中"0"的游程最长的值加1的编码的前缀作为测试向量组与测 试向量组的分割码Sep_code。所述步骤3)包括f) 选取第二测试向量集H中任一个第二向量^ ，设定~ (/)和^ (/) 有四种可能的取值"0"、 "1"、 "x"、 "c"，其中/为第一向量^和第二向量^ 内第/个元素的位置，值"c"所在的位为不相容位，函数7^("/)"2(/))为~ (/) 和^ (/)的相容结果，当函数7M0 0V力'))值为"1"时，~ (/)和^ G)不 相容，当函数7M^(zV必)值为"0"时，~ (/)和^ 相容，「1 (("(/) == 1) &== O)) II ((。(/) == 0) &=l)) 1帥'卜c)ll(,2(/)-c) 0 = x) & &(〃(0! = c》II (("(/) ! = c) &&(&(/) ==x)):0 (("(! ) = 1)&&("(/) == l)) II == O)) &&("(/) == O))g) 选取第二测试向量集H中任一个第三向量^，设定G (/)有四种可能的取值"0"、 "1"、 "X"、 "C"，其中/为第三向量^内第y个元素的位置，函数7b啦(/V3(/》为o 0')和^ 0')的相容结果，当函数7M^(/V力'))值为"r， 时，^ (_/)和^ 0.)不相容，当函数绵(/V力'))值为"o"时，/7 (_/)和^(_/)相容，'1 ((W) = 1) &=O)) 11 =0) & &("(; ) = 1》0 ((W) = x)&&("G〕! = C))||((r</)! = C)&&(^/) = x))' .0 = 1) &= l)) 11=O)) & &(〃C0 = 0》h) 比较"2与"3，若"2大于"3，则"2取"3的值，第二向量^取第三向量^的值，其中W2为第一向量^与第二向量^不相容位的个数， 为第一向量与第三向量不相容位的个数，Z为第一向量0的长本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基于向量相容的测试向量编码压缩方法，其特征在于包括测试向量的压缩和编码后的解压缩两部分， 测试向量的压缩包括如下步骤： １）确定测试向量的编码； ２）由被测电路得到第一测试向量集Ｒ，选取第一测试向量集Ｒ中任一个第一向量 ｔ↓［１］，将第一向量ｔ↓［１］从第一测试向量集Ｒ中移出，放入测试向量组Ｓ中，测试向量组Ｓ内的向量个数ｍ为１，设第二测试向量集Ｈ，第二测试向量集Ｈ与第一测试向量集Ｒ相同； ３）从第二测试向量集Ｈ中找出与第一向量ｔ↓［１］相容性最大的第 二向量ｔ↓［２］，并将第二向量ｔ↓［２］从第二测试向量集Ｈ中移出； ４）若ｎ↓［２］大于ｎ↓［ｍａｘ］，并且第二测试集Ｈ不是空集，则返回步骤３），若第二测试集Ｈ为空集，则到步骤７）完成分组，若ｎ↓［２］小于ｎ↓［ｍａｘ］，则到步骤５） ，其中，ｎ↓［ｍａｘ］为测试向量之间不相容位的最大个数，ｎ↓［ｍａｘ］的值可自定义，ｎ↓［２］为第一向量ｔ↓［１］与第二向量ｔ↓［２］不相容位的个数； ５）将第二向量ｔ↓［２］移入测试向量组Ｓ中，向量个数ｍ的值增加１，求出第一向量ｔ↓ ［１］与第二向量ｔ↓［２］相容后的第四向量ｔ↓［４］； ６）对测试向量组Ｓ编码，计算第一测试向量组Ｓ的压缩率λ和第二向量ｔ↓［２］的压缩率λ↓［ｃｏｍｐ］，判断第二向量ｔ↓［２］是否要从测试向量组Ｓ移出，若第二测试向量集Ｈ为空集，则到 步骤７），若第二测试向量集Ｈ不为空集，则到步骤３）； ７）完成对测试向量组Ｓ的分组，对测试向量组Ｓ编码，得到表示测试向量组Ｓ内向量个数ｍ的编码Ｍ、表示不相容位个数ｎ的编码Ｎ以及表示不相容位上值信息的编码Ｑ，由第一向量ｔ↓［１］得到第六 向量ｔ↓［６］，第六向量ｔ↓［６］的编码为Ｔ６＿ｃｏｄｅ，从第一测试向量集Ｒ中移出测试向量组Ｓ内的向量； ８）若第一测试向量集Ｒ为空集，则分组结束，若第一测试向量集Ｒ不为空集，则回到步骤２）开始下一测试向量组； 编码后的解压缩包 括如下步骤： ９）将表示测试向量组Ｓ内向量个数ｍ的编码Ｍ、不相容位个数ｎ的编码Ｎ和不相容位上值的信息的Ｑ输入到被测电路保存，然后输入第六向量ｔ↓［６］的编码Ｔ６＿ｃｏｄｅ到被测电路； １０）对第六向量ｔ↓［６］的编码Ｔ６＿ｃｏｄ ｅ进行解码，当遇到码字“００”时，将“００”之前的码字解码后的最后一位用步骤９）保存过的不相容位上的值替换，还原一个被压缩的向...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：潘赟，万民永，严晓浪，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：86[中国|杭州]
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