【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片的自动测试设备，特别是涉及一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法和屏蔽装置。
技术介绍
ATE (Automatic Test Equipment,自动测试设备)，是一种通过计算机控制来进行器件、电路板和芯片测试的设备。其通过计算机编程取代人工劳动，自动化的完成测试序列。一般的ATE可以由带一定内存深度的一组通道，一系列时序发生器及多个电源组成。这些资源是通过负载板把信号激励到芯片插座上的芯片管脚，ATE测试系统每个管脚有独立的测试资源。测试时候，每个管脚有对应的输入或输出信号，并由这些信号构成测试向量，进行不同芯片功能的测试。在ATE进行测试时，根据每个测试向量的描述，对芯片管脚进行操作，施加输入值，测量对应的输出值，比较测得的输出值与测试向量描述的预期输出值是否一致，如果不一致就进行报错。ATE的开发是从简单器件、低管脚数、低速测试系统(10MHZ，64pinS)到中等数量管脚、中速测试系统(40MHz, 256pins)到高管脚数、高速(超过100MHz，1024pins)并最终过渡到现在的SoC(System on Chip，系统集成在一...
【技术保护点】
１．一种测试向量源文件的测试点的屏蔽方法，其特征在于，包括如下步骤：通过运行测试向量源文件进行芯片测试，产生测试数据；根据所述测试数据产生辅助文件，所述辅助文件包括产生报错的报错测试向量所对应的测得值，以及所述报错测试向量在所述测试向量源文件中的对应行数；对于所述辅助文件中需要屏蔽的报错测试向量，根据所述对应行数在所述测试向量源文件中找到所述需要屏蔽的报错测试向量，并利用所述测得值替换所述需要屏蔽的报错测试向量的期待值，得到修改后的测试向量源文件。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：胡伟锋，
申请(专利权)人：无锡中星微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：32
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